เครื่องทดสอบห้องปฏิบัติการแบบ XRD Analyzer

เครื่องวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของแสง X Ray อเนกประสงค์

1.แนะนำผลิตภัณฑ์

X-ray diffractometer อเนกประสงค์และ X-ray diffractometer ความละเอียดสูงถูกนำมาใช้กันอย่างแพร่หลายในการวิเคราะห์โครงสร้างวัสดุในด้านต่างๆ วัสดุที่วิเคราะห์ ได้แก่ วัสดุโลหะ วัสดุอนินทรีย์ วัสดุคอมโพสิต วัสดุอินทรีย์ วัสดุนาโน และวัสดุตัวนำยิ่งยวด สถานะของวัสดุที่สามารถวิเคราะห์ได้ ได้แก่ ตัวอย่างผง ตัวอย่างบล็อก ตัวอย่างฟิล์ม และตัวอย่างพื้นที่ขนาดเล็กและตัวอย่างติดตาม มีการใช้กันอย่างแพร่หลายในสาขาการวิจัย เช่น แร่ดินเหนียว วัสดุก่อสร้างซีเมนต์ ฝุ่นจากสิ่งแวดล้อม ผลิตภัณฑ์เคมี ยา แร่ใยหิน แร่หิน และโพลีเมอร์

2.คุณลักษณะของผลิตภัณฑ์

ดิฟแฟรกโตมิเตอร์ DX ซีรี่ส์ได้รับการออกแบบมาเพื่อการวิจัยวัสดุและการวิเคราะห์ผลิตภัณฑ์ทางอุตสาหกรรม เป็นผลิตภัณฑ์ที่สมบูรณ์แบบที่ผสมผสานการวิเคราะห์เป็นประจำเข้ากับการวัดเพื่อวัตถุประสงค์พิเศษ

• การผสมผสานที่ลงตัวของระบบฮาร์ดแวร์และระบบซอฟต์แวร์ตอบสนองความต้องการของนักวิชาการและนักวิจัยในสาขาการใช้งานที่แตกต่างกัน
• ระบบการวัดมุมการเลี้ยวเบนที่มีความแม่นยำสูงเพื่อให้ได้ผลการวัดที่แม่นยำยิ่งขึ้น
• ระบบควบคุมเครื่องกำเนิดรังสีเอกซ์ที่มีความเสถียรสูงทำให้การวัดซ้ำมีความเสถียรมากขึ้น
• อุปกรณ์เสริมที่ใช้งานได้หลากหลายตอบสนองความต้องการในการทดสอบที่แตกต่างกัน
• การทำงานที่ตั้งโปรแกรมไว้และการออกแบบโครงสร้างแบบรวมทำให้ใช้งานง่าย และอุปกรณ์มีรูปลักษณ์ที่สวยงามน่าพึงพอใจยิ่งขึ้น

เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโตมิเตอร์เป็นเครื่องมือทดสอบอเนกประสงค์สำหรับการเปิดเผยโครงสร้างผลึกและข้อมูลทางเคมีของวัสดุ

• การระบุเฟสตั้งแต่หนึ่งเฟสขึ้นไปในกลุ่มตัวอย่างที่ไม่รู้จัก
• การวิเคราะห์เชิงปริมาณของเฟสที่ทราบในตัวอย่างที่ผสม
• การวิเคราะห์โครงสร้างผลึก (การวิเคราะห์โครงสร้าง Rietveld)
• โครงสร้างผลึกเปลี่ยนแปลงไปภายใต้สภาวะที่ไม่ปกติ (อุณหภูมิสูงและต่ำ)
• การวิเคราะห์ตัวอย่างฟิล์มบาง รวมถึงเฟสของฟิล์มบาง ความหนาของฟิล์มหลายชั้น ความหยาบผิว และความหนาแน่นประจุ
• การวิเคราะห์ตัวอย่างพื้นที่จุลภาค
• การวิเคราะห์เนื้อสัมผัสและความเค้นของวัสดุโลหะ

การผสมผสานระหว่างคุณภาพที่สมบูรณ์แบบและประสิทธิภาพที่โดดเด่น

• นอกจากฟังก์ชันพื้นฐานแล้ว ดิฟแฟรกโตมิเตอร์ DX ซีรีส์ยังสามารถติดตั้งอุปกรณ์เสริมต่างๆ ได้อย่างรวดเร็ว และมีความสามารถในการวิเคราะห์ที่แข็งแกร่งเป็นพิเศษ
• การประมวลผลทางกลที่มีความแม่นยำสูงช่วยเพิ่มความสามารถในการทำซ้ำของตำแหน่งการติดตั้งอุปกรณ์เสริมอย่างมาก ซอฟต์แวร์จะจดจำอุปกรณ์เสริมที่เกี่ยวข้องโดยอัตโนมัติโดยไม่จำเป็นต้องปรับเทียบเส้นทางแสง การติดตั้งอุปกรณ์เสริมเป็นแบบ Plug-and-Play และการใช้งานที่เรียบง่ายสามารถตอบสนองความต้องการของการวัดแบบพิเศษได้

การผสมผสานที่ลงตัวระหว่างประสิทธิภาพสูงและการใช้งานจริง

• ด้วยการออกแบบเชิงแสงทรงเรขาคณิต θ-θ ทำให้สะดวกสำหรับการเตรียมตัวอย่างและการติดตั้งอุปกรณ์เสริมต่างๆ
• การใช้หลอดเอ็กซ์เรย์โลหะเซรามิกได้เพิ่มกำลังการทำงานของเครื่องวัดการเลี้ยวเบนอย่างมาก
• เคาน์เตอร์สัดส่วนปิด ทนทาน และไม่ต้องบำรุงรักษา
• เครื่องตรวจจับดริฟท์ซิลิคอนมีความละเอียดเชิงมุมและความละเอียดพลังงานที่เหนือกว่า และความเร็วในการวัดเพิ่มขึ้นมากกว่าสามเท่า
• มีอุปกรณ์เสริมสำหรับดิฟแฟรกโตมิเตอร์ให้เลือกหลากหลาย เพื่อตอบสนองความต้องการในการวิเคราะห์ที่แตกต่างกัน
• อุปกรณ์เสริมการทำงานทั้งหมดของดิฟแฟรกโตมิเตอร์จะถูกจดจำโดยอัตโนมัติ
• การออกแบบแบบแยกส่วนหรือที่เรียกว่าส่วนประกอบแบบปลั๊กแอนด์เพลย์ ช่วยให้ผู้ปฏิบัติงานใช้อุปกรณ์เสริมที่เกี่ยวข้องของดิฟแฟรกโตมิเตอร์ได้อย่างถูกต้อง โดยไม่ต้องปรับเทียบระบบออพติคอล

3.ฟังก์ชั่นผลิตภัณฑ์

• ฟังก์ชันการประมวลผลข้อมูลพื้นฐาน (การค้นหาสูงสุด, การปรับให้เรียบ, การลบพื้นหลัง, การปรับรูปร่างสูงสุด, การขยายรูปร่างสูงสุด, การเปรียบเทียบสเปกตรัม, Kα1, การแยก α2, การจัดทำดัชนีเส้นเลี้ยวเบน ฯลฯ)
• การวิเคราะห์เชิงปริมาณอย่างรวดเร็วโดยไม่มีตัวอย่างมาตรฐาน
• การวัดขนาดเกรน
• การวิเคราะห์โครงสร้างผลึก (การวัดและการปรับแต่งพารามิเตอร์เซลล์หน่วย)

การวัดความเครียดด้วยกล้องจุลทรรศน์และการคำนวณความเครียดด้วยกล้องจุลทรรศน์
การแสดงภาพวาดหลายภาพสองมิติและสามมิติ
การวิเคราะห์แบบคลัสเตอร์ของรูปแบบพีคของการเลี้ยวเบน
เส้นโค้งการแก้ไขความกว้างครึ่งหนึ่งของข้อมูลการเลี้ยวเบน
ข้อมูลการเลี้ยวเบน เส้นโค้งการแก้ไขส่วนเบี่ยงเบนมุม
จากการวิเคราะห์เชิงปริมาณตามปกติของ Rietveld
การวิเคราะห์เฟสเชิงคุณภาพดำเนินการโดยใช้ฐานข้อมูล ICDD หรือฐานข้อมูลผู้ใช้
ดำเนินการวิเคราะห์เชิงปริมาณโดยใช้ฐานข้อมูล ICDD หรือฐานข้อมูล ICSD

4.พารามิเตอร์ผลิตภัณฑ์