Diffractomètre à rayons X multifonctionnel, analyseur de diffraction de rayons XRD, machine d'essai de laboratoire

Diffractomètre multifonctionnel, analyseur XRD par diffraction des rayons X

1.Présentation du produit

Le diffractomètre à rayons X multifonctionnel combiné et le diffractomètre à rayons X haute résolution sont largement utilisés dans divers domaines de l'analyse de la structure des matériaux. Les matériaux analysés comprennent : les matériaux métalliques, les matériaux inorganiques, les matériaux composites, les matériaux organiques, les nanomatériaux et les matériaux supraconducteurs. Les états de matériaux qui peuvent être analysés comprennent : des échantillons de poudre, des échantillons de blocs, des échantillons de film et des échantillons de micro-zones et de traces. Il est largement appliqué dans des domaines de recherche tels que les minéraux argileux, les matériaux de construction en ciment, les poussières environnementales, les produits chimiques, les produits pharmaceutiques, l'amiante, les minéraux rocheux et les polymères.

2. Caractéristiques du produit

Le diffractomètre de la série DX est conçu pour la recherche de matériaux et l'analyse de produits industriels. C'est un produit parfait qui combine une analyse de routine avec des mesures spéciales.

• La combinaison parfaite de systèmes matériels et de systèmes logiciels répond aux besoins des universitaires et des chercheurs dans différents domaines d'application.
• Système de mesure d'angle de diffraction de haute précision pour obtenir des résultats de mesure plus précis.
• Le système de contrôle du générateur de rayons X à haute stabilité permet d'obtenir une précision de mesure répétée plus stable.
• Une variété d'accessoires fonctionnels répondent aux besoins de différents objectifs de test.
• Le fonctionnement programmé et la conception de la structure intégrée le rendent facile à utiliser et l'instrument a une apparence plus esthétique.

Le diffractomètre à rayons X est un instrument de test universel permettant de révéler la structure cristalline et les informations chimiques des matériaux.

• Identification d'une ou plusieurs phases dans des échantillons inconnus.
• Analyse quantitative des phases connues dans des échantillons mixtes.
• Analyse de la structure cristalline (analyse de la structure Rietveld).
• La structure cristalline change dans des conditions non conventionnelles (températures élevées et basses).
• Analyse d'échantillons de films minces, y compris la phase du film mince, l'épaisseur des films multicouches, la rugosité de surface et la densité de charge.
• Analyse d'échantillons de micro-zones.
• Analyse de la texture et des contraintes des matériaux métalliques.

La combinaison d’une qualité parfaite et de performances exceptionnelles

• En plus de ses fonctions de base, le diffractomètre de la série DX peut être rapidement équipé de divers accessoires et possède une capacité analytique extrêmement forte.
• Le traitement mécanique de haute précision améliore considérablement la reproductibilité de la position d'installation des accessoires. Le logiciel reconnaît automatiquement les accessoires correspondants sans avoir besoin de calibrer le chemin optique. L'installation des accessoires est plug-and-play et des opérations simples peuvent répondre aux besoins de mesures spéciales.

La combinaison parfaite entre haute performance et praticité

• Basé sur la conception optique géométrique θ-θ, il est pratique pour la préparation d'échantillons et l'installation de divers accessoires.
• L’application de tubes à rayons X métallo-céramique a considérablement amélioré la puissance de fonctionnement des diffractomètres.
• Compteur proportionnel fermé, durable et sans entretien.
• Les détecteurs de dérive de silicium présentent une résolution angulaire et une résolution énergétique supérieures, et leur vitesse de mesure est multipliée par plus de trois.
• Une grande variété d’accessoires pour diffractomètres est disponible pour répondre aux besoins de différents objectifs analytiques.
• Tous les accessoires fonctionnels du diffractomètre sont automatiquement reconnus.
• La conception modulaire, également connue sous le nom de composants plug-and-play, permet aux opérateurs d'utiliser correctement les accessoires correspondants du diffractomètre sans calibrer le système optique.

3. Fonctions du produit

• Fonctions de traitement de données de base (recherche de pics, lissage, soustraction de fond, ajustement de forme de pic, grossissement de forme de pic, comparaison de spectre, décapage Kα1, α2, indexation de raies de diffraction, etc.).
• Analyse quantitative rapide sans échantillons standards.
• Mesure de la taille des grains.
• Analyse de la structure cristalline (mesure et affinement des paramètres des mailles unitaires).

Mesure des contraintes macroscopiques et calcul des contraintes microscopiques ;
Affichage bidimensionnel et tridimensionnel de plusieurs dessins ;
Analyse groupée des modèles de pics de diffraction
Courbe de correction de largeur demi-pic des données de diffraction ;
Données de diffraction Courbe de correction de déviation d'angle ;
Basé sur l'analyse quantitative de routine de Rietveld ;
L'analyse de phase qualitative est effectuée à l'aide de la base de données ICDD ou de la base de données des utilisateurs ;
Effectuer des analyses quantitatives à l'aide de la base de données ICDD ou de la base de données ICSD ;

4. Paramètre du produit