Çok fonksiyonel Difraktometre X Ray Difraksiyon XRD Analizörü Laboratuvar Test Makinesi

Çok Fonksiyonlu Difraktometre X Işını Kırınım XRD Analizörü

1.Ürün Tanıtımı

Kombine çok fonksiyonlu X-ışını difraktometresi ve yüksek çözünürlüklü X-ışını difraktometresi, malzeme yapısı analizinin çeşitli alanlarında yaygın olarak kullanılmaktadır. Analiz edilen malzemeler şunları içerir: metalik malzemeler, inorganik malzemeler, kompozit malzemeler, organik malzemeler, nano malzemeler ve süper iletken malzemeler. Analiz edilebilecek malzeme durumları şunları içerir: toz numuneleri, blok numuneleri, film numuneleri ve mikro alan ve eser numuneler. Kil mineralleri, çimento yapı malzemeleri, çevresel tozlar, kimyasal ürünler, farmasötikler, asbest, kaya mineralleri ve polimerler gibi araştırma alanlarında yaygın olarak uygulanmaktadır.

2.Ürün Özellikleri

DX serisi difraktometre, malzeme araştırması ve endüstriyel ürün analizi için tasarlanmıştır. Rutin analizleri özel amaçlı ölçümlerle birleştiren mükemmel bir üründür.

• Donanım sistemleri ve yazılım sistemlerinin mükemmel birleşimi, farklı uygulama alanlarındaki akademisyenlerin ve araştırmacıların ihtiyaçlarını karşılar.
• Daha doğru ölçüm sonuçları elde etmek için yüksek hassasiyetli kırınım Açısı ölçüm sistemi.
• Yüksek stabiliteye sahip X-ışını jeneratörü kontrol sistemi, daha istikrarlı tekrar ölçüm doğruluğu sağlar.
• Çeşitli fonksiyonel aksesuarlar, farklı test amaçlarının ihtiyaçlarını karşılar.
• Programlanmış çalışma ve entegre yapı tasarımı, kullanımı kolaylaştırır ve cihaz estetik açıdan daha hoş bir görünüme sahiptir.

X-ışını difraktometresi, malzemelerin kristal yapısını ve kimyasal bilgilerini ortaya çıkarmak için evrensel bir test aracıdır.

• Bilinmeyen numunelerde bir veya daha fazla fazın tanımlanması.
• Karışık numunelerde bilinen fazların kantitatif analizi.
• Kristal yapı analizi (Rietveld yapı analizi).
• Kristal yapı alışılmadık koşullar altında (yüksek ve düşük sıcaklıklar) değişir.
• İnce filmin fazı, çok katmanlı filmlerin kalınlığı, yüzey pürüzlülüğü ve yük yoğunluğu dahil olmak üzere ince film örneklerinin analizi.
• Mikro alan örneklerinin analizi.
• Metalik malzemelerin doku ve stres analizi.

Mükemmel kalite ve olağanüstü performansın birleşimi

• DX serisi difraktometre, temel fonksiyonlarının yanı sıra çeşitli aksesuarlarla hızlı bir şekilde donatılabilir ve son derece güçlü bir analitik yeteneğe sahiptir.
• Yüksek hassasiyetli mekanik işleme, aksesuar kurulum konumunun tekrarlanabilirliğini büyük ölçüde artırır. Yazılım, optik yolu kalibre etmeye gerek kalmadan ilgili aksesuarları otomatik olarak tanır. Aksesuar kurulumu tak ve çalıştırdır ve basit işlemler özel amaçlı ölçümlerin ihtiyaçlarını karşılayabilir.

Yüksek performans ve pratikliğin mükemmel birleşimi

• θ-θ geometrik optik tasarımına dayanarak numune hazırlama ve çeşitli aksesuarların kurulumu için uygundur.
• Metal seramik X-ışını tüplerinin uygulanması, difraktometrelerin çalışma gücünü büyük ölçüde artırdı.
• Kapalı oransal sayaç, dayanıklı ve bakım gerektirmez.
• Silikon sürüklenme dedektörleri üstün açısal çözünürlük ve enerji çözünürlüğüne sahiptir ve ölçüm hızları üç kattan fazla artırılmıştır.
• Farklı analitik amaçların ihtiyaçlarını karşılamak için zengin çeşitlilikte difraktometre aksesuarları mevcuttur.
• Difraktometrenin tüm fonksiyonel aksesuarları otomatik olarak tanınır.
• Tak ve çalıştır bileşenleri olarak da bilinen modüler tasarım, operatörlerin optik sistemi kalibre etmeden difraktometrenin ilgili aksesuarlarını doğru şekilde kullanmasını sağlar.

3.Ürün İşlevleri

• Temel veri işleme fonksiyonları (tepe arama, yumuşatma, arka plan çıkarma, tepe şekli uydurma, tepe şekli büyütme, spektrum karşılaştırma, Kα1, α2 sıyırma, kırınım çizgisi indeksleme, vb.).
• Standart numuneler olmadan hızlı kantitatif analiz.
• Tane boyutu ölçümü.
• Kristal yapı analizi (birim hücre parametrelerinin ölçülmesi ve iyileştirilmesi).

Makroskobik gerilim ölçümü ve mikroskobik gerilim hesabı;
Çoklu çizimlerin iki boyutlu ve üç boyutlu gösterimi;
Kırınım tepe modellerinin küme analizi
Kırınım verilerinin yarım tepe genişliği düzeltme eğrisi;
Kırınım verileri Açı sapması düzeltme eğrisi;
Rietveld'in rutin kantitatif analizine dayanarak;
Kalitatif aşama analizi, ICDD veri tabanı veya kullanıcı veri tabanı kullanılarak gerçekleştirilir;
ICDD veri tabanını veya ICSD veri tabanını kullanarak niceliksel analiz gerçekleştirin;

4.Ürün Parametresi