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DCIR 테스트 머신 2비트 듀얼 코어 MCU 16비트 ADC mV/mA 데이터 해상도

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DCIR 테스트 머신 2비트 듀얼 코어 MCU 16비트 ADC mV/mA 데이터 해상도

DCIR Testing Machine 2-bit Dual-core MCU 16-bit ADC mV/mA Data Resolution for High Power Density Battery Tes
DCIR Testing Machine 2-bit Dual-core MCU 16-bit ADC mV/mA Data Resolution for High Power Density Battery Tes DCIR Testing Machine 2-bit Dual-core MCU 16-bit ADC mV/mA Data Resolution for High Power Density Battery Tes DCIR Testing Machine 2-bit Dual-core MCU 16-bit ADC mV/mA Data Resolution for High Power Density Battery Tes DCIR Testing Machine 2-bit Dual-core MCU 16-bit ADC mV/mA Data Resolution for High Power Density Battery Tes DCIR Testing Machine 2-bit Dual-core MCU 16-bit ADC mV/mA Data Resolution for High Power Density Battery Tes DCIR Testing Machine 2-bit Dual-core MCU 16-bit ADC mV/mA Data Resolution for High Power Density Battery Tes

큰 이미지 :  DCIR 테스트 머신 2비트 듀얼 코어 MCU 16비트 ADC mV/mA 데이터 해상도

제품 상세 정보:
원래 장소: 중국
브랜드 이름: Lonroy
인증: ISO ASTM CE
결제 및 배송 조건:
최소 주문 수량: 1
가격: Negotaible
포장 세부 사항: 나무 패키지
배달 시간: 5-8 일
지불 조건: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
공급 능력: 200
접촉

DCIR 테스트 머신 2비트 듀얼 코어 MCU 16비트 ADC mV/mA 데이터 해상도

설명
입력 전압: AC 380V ± 10% 50/60 ± 5Hz 전력 계수: ≥99% (전체 부하)
전압 정확도: ±0.05%FS 전압 분해능: 1mV
현재 정확도: ±0.05%FS 현재 분석: 1mA
전류 리스폰스 시간: 10ms (10%fs ~ 90%fs) 충방전 변환 시간: 20ms (-90%fs ~ 90%fs)
최소 데이터 기록 시간: 10ms 작업 단계 수: 2000
사이클 수: 65535 루프 중첩: 5
작동 온도 범위: 0C-45C 냉각 방법: 강제 차가운 공기
소음 수준: ≤80dB
강조하다:

32-bit Dual-core MCU DCIR Testing Machine

,

16-bit ADC Battery Testing Equipment

,

1 mV/mA Data Resolution Cyclic Charging Discharging Tester

태그:

마모 테스트 기계 3000N,

5KW 덤블 테스트 기계,

고온 마모 테스트 기계

연락처 세부 사항
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

담당자: Kaitlyn Wang

전화 번호: 19376687282

팩스: 86-769-83078748

회사에 직접 문의 보내기 (0 / 3000)

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