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商品の詳細:
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| 周波数カバー率: | 16000:1 | 周波数範囲: | 100 kHz - 160 MHz |
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| 測定直径: | Ø 38 mm | 厚さ範囲: | 15mm未満 |
| 保証: | 1 年 | 証明: | Includes Calibration Certification |
| ハイライト: | ASTM D150 許容性テスト,セラミック・ダイエレクトリック・コンスタンツメーター,複合材料の通容性テスト |
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ASTM D 150 誘電率計 セラミック複合材料 誘電率計
1.Deスクリプト:
LRTD高周波絶縁材料の誘電率・誘電損失試験システムは、試験装置（クランプ治具）、高周波Qメータ、データ収集およびtanδ自動測定制御（LRTDに組み込まれたソフトウェアモジュール）、およびインダクタで構成されています。国家規格 GB/T 5594.4-2015「電子部品の構造用セラミック材料の性能試験方法 - パート 4: 誘電率および誘電正接値の試験方法」、GB/T 1693-2007「加硫ゴムの誘電率および誘電正接値の測定」、GB/T 1409-2006、GB/T に従って設計および製造されています。このシステムは、絶縁材料の高周波誘電正接値 (tanδ) と誘電率 (ε) を自動測定するための最適なソリューションを提供します。本器の試験装置は、一般的に試験サンプルをクランプするために使用される平型コンデンサで構成されており、指示計としてQメーターが装備されています。絶縁材料の誘電正接値は、試験サンプルを平型コンデンサに置いた場合と置かない場合のQ値の変化と厚みの目盛りから算出します。 LRTDデジタルQメーターを使用すると、誘電率（ε）と誘電損失（tanδ）を自動計算できます。
2.構成:
LRTD-C テスト ホスト 1 台、サンプル フィクスチャ 1 台、インダクタ 1 セット (10 個) が含まれます。液体材料の検査にはオプションの液体カップをご利用いただけます。
3.技術的パラメータ
LRTD誘電率・損失試験システムのシステム構成：
本体：高周波Qメーター
| 機能カテゴリ | パラメータ | 仕様・値 | 注意事項 |
| ソース | 信号源の種類 | DDS デジタル合成信号 | |
| 周波数範囲 | 100kHz～160MHz | ||
| 周波数カバー率 | 16000:1 | ||
| 周波数精度 | 3×10⁻⁵±1カウント（有効数字6桁） | ||
| サンプリング | サンプリング精度 | 12ビット | Qの安定性と低Df材料試験の安定性を確保 |
| Q測定 | Q測定範囲 | 1～1000 | 自動/手動範囲 |
| Q解像度 | 0.1（有効数字4桁） | ||
| Q 測定誤差 | < 5% | ||
| インダクタンス(L)測定 | L 測定範囲 | 1nH～140mH | 分解能 0.1 nH (有効数字 4 桁) |
| L 測定誤差 | < 3% | ||
| チューニングコンデンサ | 主な静電容量範囲 | 17pF～240pF | 高精度銀メッキ一体構造 |
| 静電容量自動検索 | はい | ステッピングモーター付き | |
| ダイレクトC測定範囲 | 1pF～25nF | ||
| チューニングコンデンサエラー | ±1 pF または < 1% | ||
| コンデンサの分解能の調整 | 0.1pF | ||
| 共振 | 共鳴点探索 | 自動スキャン | |
| Q 特長 | Q 合否プリセット範囲 | 5～1000 | 聴覚/視覚的表示 |
| Qレンジの切り替え | 自動/手動 | ||
| ディスプレイ（LCD） | 表示されるパラメータ | F、L、C、Q、Lt、Ct、tn、Σr | F=周波数、L=Ind、C=キャップ、Q=品質係数、Lt/Ct=同調、tn=?、Σr=シリーズR? |
| ユニークな機能 | 自動残留インダクタンス控除 | はい | 残留インダクタンスとリードインダクタンス (独自) |
| 大容量ダイレクトディスプレイ | はい | 最大 25 nF (独自) | |
| 材料試験 | 損失係数 (Df) の精度 | 0.01%(1/10,000) | |
| 誘電率 (εᵣ) 精度 | 0.1%(1/1000) | ||
| 材料の厚さの範囲 | 0.1mm～10mm | ||
| 誘電率表示 | LCDに直接表示 | ||
| 損失係数表示 | LCDに直接表示 | ||
| 誘電率試験周波数範囲 | 100kHz～100MHz |
誘電率εrおよび誘電損失率tanδ試験装置：
| 特徴 | 仕様 | 注意事項 | |
| 固体サンプル | 測定直径 | Ø 38 mm | |
| 厚さの範囲 | 調整可能、< 15 mm | 代表的な範囲 | |
| 電極板 | カスタマイズ可能 | (オプションのカスタマイズ) |
インダクタ
| いいえ。 | インダクタンス(L) | 正確さ | Qファクター≧ | 約分布容量 (C<サブ>d</sub>) | 共振周波数範囲 (MHz) | 誘電率試験の推奨周波数 |
| 1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 31～103 | 50MHz |
| 2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 14.8～46.6 | 15MHz |
| 3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 6.8～21.4 | 10MHz |
| 4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 3.4～10.55 | 5MHz |
| 5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1.5～4.55 | 1.5MHz |
| 6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 1.06 - 3.20 | 1MHz |
| 7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.34～1.02 | 0.5MHz |
| 8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.148～0.39 | 0.25MHz |
| 9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.107～0.32 | 0.1MHz |
| 10 | 14nH | ±5% | 100 | 5pF | ～100MHz | 100MHz |
コンタクトパーソン: Ms. Kaitlyn Wang
電話番号: 19376687282
ファックス: 86-769-83078748
Japanese
