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Produktdetails:
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| Frequenzdeckungsquote: | 16000:1 | Frequenzbereich: | 100 kHz - 160 MHz |
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| Messdurchmesser: | Ø 38 mm | Dickenbereich: | < 15 mm |
| Gewährleistung: | 1 Jahr | Zertifizierung: | Includes Calibration Certification |
| Hervorheben: | ASTM D150 Permittivitätsprüfer,Keramikdielektrische Konstantenmesser,Verbundwerkstoffe-Permittivitätstester |
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ASTM D 150 Permittivitätstester, Keramik-Verbundwerkstoffe, Dielektrizitätskonstantenmessgerät
1.DeBeschreibung:
Das LRTD-Hochfrequenz-Isoliermaterial-Testsystem für Dielektrizitätskonstante und dielektrischen Verlust besteht aus einem Testgerät (Spannvorrichtung), einem Hochfrequenz-Q-Meter, Datenerfassung und automatischer Tanδ-Messsteuerung (in LRTD integriertes Softwaremodul) und einem Induktor. Es wurde gemäß den nationalen Standards GB/T 5594.4-2015 „Testmethoden für die Leistung von strukturellen Keramikmaterialien elektronischer Komponenten – Teil 4: Testmethoden für Dielektrizitätskonstante und den Wert des dielektrischen Verlustfaktors“, GB/T 1693-2007 „Bestimmung der Dielektrizitätskonstante und des Werts des dielektrischen Verlustfaktors von vulkanisiertem Gummi“, GB/T 1409-2006, GB/T entwickelt und hergestellt 1693-2007, der amerikanischen Norm ASTM D150 und der International Electrotechnical Commission IEC 60250. Das System bietet die beste Lösung für die automatische Messung des Hochfrequenz-Dielektrischen Verlustfaktors (tanδ) und der Dielektrizitätskonstante (ε) von Isoliermaterialien. Das Prüfgerät in diesem Instrument besteht aus einem Flachkondensator, der im Allgemeinen zum Festklemmen der geprüften Probe verwendet wird und mit einem Q-Meter als Anzeigeinstrument ausgestattet ist. Der Tangens des dielektrischen Verlusts des Isoliermaterials wird anhand der Änderung des Q-Werts und der auf der Skala angezeigten Dicke berechnet, wenn die getestete Probe in den Flachkondensator gelegt wird und wenn sie nicht platziert wird. Die Verwendung des digitalen Q-Meters LRTD ermöglicht die automatische Berechnung der Dielektrizitätskonstante (ε) und des dielektrischen Verlusts (tanδ).
2.Konfiguration:
Enthält 1 LRTD-C-Testhost, 1 Probenhalterung und 1 Satz Induktoren (10 Stück). Zum Testen flüssiger Materialien ist ein optionaler Flüssigkeitsbecher erhältlich.
3.Technischer Parameter
Systemaufbau des LRTD-Dielektrizitätskonstanten-/Verlusttestsystems:
Hauptgerät: Hochfrequenz-Q-Meter
| Feature-Kategorie | Parameter | Spezifikation/Wert | Notizen |
| Quelle | Signalquellentyp | DDS Digital synthetisiertes Signal | |
| Frequenzbereich | 100 kHz - 160 MHz | ||
| Frequenzabdeckungsverhältnis | 16000:1 | ||
| Frequenzgenauigkeit | 3 × 10⁻⁵ ±1 Zählwert (6 signifikante Stellen) | ||
| Probenahme | Abtastgenauigkeit | 12-BIT | Gewährleistet Q-Stabilität und Stabilität bei Materialtests mit niedrigem Df |
| Q-Messung | Q-Messbereich | 1 - 1000 | Automatischer/manueller Bereich |
| Q-Auflösung | 0,1 (4 signifikante Ziffern) | ||
| Q-Messfehler | < 5 % | ||
| Messung der Induktivität (L). | L-Messbereich | 1 nH - 140 mH | Auflösung 0,1 nH (4 signifikante Stellen) |
| L-Messfehler | < 3 % | ||
| Abstimmkondensator | Hauptkapazitätsbereich | 17 pF - 240 pF | Hochpräzise versilberte monolithische Struktur |
| Automatische Kapazitätssuche | Ja | Mit Schrittmotor | |
| Direkter C-Messbereich | 1 pF ~ 25 nF | ||
| Fehler beim Abstimmkondensator | ±1 pF oder < 1 % | ||
| Auflösung des Tuning-Kondensators | 0,1 pF | ||
| Resonanz | Suche nach Resonanzpunkten | Automatischer Scan | |
| Q-Funktionen | Q-Voreinstellungsbereich „Gut/Nicht bestanden“. | 5 - 1000 | Akustische/visuelle Anzeige |
| Q-Bereichsumschaltung | Automatisch/manuell | ||
| Anzeige (LCD) | Angezeigte Parameter | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Qualitätsfaktor, Lt/Ct=abgestimmt, tn=?, Σr=Serie R? |
| Einzigartige Funktionen | Automatischer Abzug der Restinduktivität | Ja | Restinduktivität und Zuleitungsinduktivität (einzigartig) |
| Direktanzeige mit großer Kapazität | Ja | Bis zu 25 nF (einzigartig) | |
| Materialprüfung | Genauigkeit des Verlustfaktors (Df). | 0,01 % (1/10.000) | |
| Permittivität (εᵣ) Genauigkeit | 0,1 % (1/1.000) | ||
| Materialstärkenbereich | 0,1 mm - 10 mm | ||
| Anzeige der Permittivität | Direkt auf dem LCD | ||
| Anzeige des Verlustfaktors | Direkt auf dem LCD | ||
| Frequenzbereich des Permittivitätstests | 100 kHz - 100 MHz |
Prüfgerät für Dielektrizitätskonstante εr und dielektrischen Verlustfaktor tanδ:
| Besonderheit | Spezifikation | Notizen | |
| Solide Proben | Messdurchmesser | Ø 38 mm | |
| Dickenbereich | Einstellbar, < 15 mm | Typischer Bereich | |
| Elektrodenplatten | Anpassbar | (Optionale Anpassung) |
Induktoren
| NEIN. | Induktivität (L) | Genauigkeit | Q-Faktor ≥ | Ca. Verteilte Kapazität (C<sub>D</sub>) | Resonanzfrequenzbereich (MHz) | Empfohlene Häufigkeit für den Permittivitätstest |
| 1 | 0,1 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
| 2 | 0,5 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 14,8 - 46,6 | 15 MHz |
| 3 | 2,5 μH | ±5 % | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5 % | 200 | 6 pF | 3,4 - 10,55 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5 % | 200 | 6 pF | 1,5 - 4,55 | 1,5 MHz |
| 6 | 100 μH | ±5 % | 200 | 6 pF | 1,06 - 3,20 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5 % | 150 | 8 pF | 0,34 - 1,02 | 0,5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5 % | 130 | 8 pF | 0,148 - 0,39 | 0,25 MHz |
| 9 | 10 mH | ±5 % | 90 | 8 pF | 0,107 - 0,32 | 0,1 MHz |
| 10 | 14 nH | ±5 % | 100 | 5 pF | ~100 MHz | 100 MHz |
Ansprechpartner: Ms. Kaitlyn Wang
Telefon: 19376687282
Faxen: 86-769-83078748