|
Productdetails:
|
| Frequentiedekking Verhouding: | 16000:1 | Frequentiebereik: | 100 kHz - 160 MHz |
|---|---|---|---|
| Meetdiameter: | Ø 38 mm | Diktebereik: | < 15 mm |
| Garantie: | 1 jaar | Certificering: | Includes Calibration Certification |
| Markeren: | ASTM D150-permittiviteitstester,keramische dielektrische constantemeter,Composieten Permittiviteitstester |
||
ASTM D 150 Permittiviteitstester Keramiek Composieten Diëlektrische constante meter
1.Deopschrift:
Het LRTD hoogfrequente isolatiemateriaal diëlektrische constante en diëlektrische verliestestsysteem bestaat uit een testapparaat (kleminrichting), een hoogfrequente Q-meter, data-acquisitie en tanδ automatische meetcontrole (softwaremodule geïntegreerd in LRTD) en een inductor. Het is ontworpen en vervaardigd in overeenstemming met de nationale normen GB/T 5594.4-2015 "Testmethoden voor de prestaties van structurele keramische materialen van elektronische componenten - Deel 4: Testmethoden voor diëlektrische constante en diëlektrische verliestangenswaarde", GB/T 1693-2007 "Bepaling van diëlektrische constante en diëlektrische verliestangenswaarde van gevulkaniseerd rubber", GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, Amerikaanse norm ASTM D150 en International Electrotechnical Commission IEC 60250. Het systeem biedt de beste oplossing voor automatische meting van de hoogfrequente diëlektrische verliestangenswaarde (tanδ) en diëlektrische constante (ε) van isolatiematerialen. Het testapparaat in dit instrument bestaat uit een platte condensator, die doorgaans wordt gebruikt om het geteste monster vast te klemmen, en is uitgerust met een Q-meter als indicatie-instrument. De tangenswaarde van het diëlektrische verlies van het isolatiemateriaal wordt berekend door de verandering in de Q-waarde en de schaalaflezing van de dikte wanneer het geteste monster in de platte condensator wordt geplaatst en wanneer deze niet is geplaatst. Het gebruik van de LRTD digitale Q-meter maakt automatische berekening van de diëlektrische constante (ε) en diëlektrisch verlies (tanδ) mogelijk.
2. Configuratie:
Bevat 1 LRTD-C-testhost, 1 monsterarmatuur en 1 set inductoren (10 stuks). Er is een optionele vloeistofbeker verkrijgbaar voor het testen van vloeibare materialen.
3. Technische parameter
Systeemsamenstelling van het LRTD-testsysteem met diëlektrische constante/verlies:
Hoofdunit: Hoogfrequente Q-meter
| Functiecategorie | Parameter | Specificatie / Waarde | Opmerkingen |
| Bron | Type signaalbron | DDS digitaal gesynthetiseerd signaal | |
| Frequentiebereik | 100 kHz - 160 MHz | ||
| Frequentiedekkingsratio | 16000:1 | ||
| Frequentienauwkeurigheid | 3 × 10⁻⁵ ±1 telling (6 significante cijfers) | ||
| Bemonstering | Bemonsteringsnauwkeurigheid | 12-BIT | Garandeert Q-stabiliteit en lage Df-materiaalteststabiliteit |
| Q-meting | Q Meetbereik | 1 - 1000 | Automatisch/handmatig bereik |
| Q-resolutie | 0,1 (4 significante cijfers) | ||
| Q Meetfout | < 5% | ||
| Inductantie (L) meting | L Meetbereik | 1 nH - 140 mH | Resolutie 0,1 nH (4 significante cijfers) |
| L Meetfout | < 3% | ||
| Afstemcondensator | Hoofdcapaciteitsbereik | 17 pF - 240 pF | Uiterst nauwkeurige verzilverde monolithische structuur |
| Capaciteit automatisch zoeken | Ja | Met stappenmotor | |
| Direct C-meetbereik | 1 pF ~ 25 nF | ||
| Afstemcondensatorfout | ±1 pF of < 1% | ||
| Afstemming van de condensatorresolutie | 0,1 pF | ||
| Resonantie | Resonantiepunt zoeken | Automatisch scannen | |
| Q-functies | Q Vooraf ingesteld bereik geslaagd/mislukt | 5 - 1000 | Hoorbare/visuele indicatie |
| Q-bereikomschakeling | Automatisch/Handmatig | ||
| Weergave (LCD) | Weergegeven parameters | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Kwaliteitsfactor, Lt/Ct=afgestemd, tn=?, Σr=Serie R? |
| Unieke kenmerken | Automatische restinductieaftrek | Ja | Residuele inductie en leadinductie (uniek) |
| Directe weergave met grote capaciteit | Ja | Tot 25 nF (uniek) | |
| Materiaal testen | Dissipatiefactor (Df) Nauwkeurigheid | 0,01% (1/10.000) | |
| Permittiviteit (εᵣ) Nauwkeurigheid | 0,1% (1/1.000) | ||
| Materiaaldiktebereik | 0,1 mm - 10 mm | ||
| Permittiviteitsweergave | Direct op LCD | ||
| Dissipatiefactorweergave | Direct op LCD | ||
| Permittiviteitstest Frequentiebereik | 100 kHz - 100 MHz |
Diëlektrische constante εr en diëlektrische verliesfactor tanδ testapparaat:
| Functie | Specificatie | Opmerkingen | |
| Solide monsters | Meting Diameter | Ø 38 mm | |
| Dikte bereik | Verstelbaar, < 15 mm | Typisch bereik | |
| Elektrode platen | Aanpasbaar | (Optionele aanpassing) |
Inductoren
| Nee. | Inductie (L) | Nauwkeurigheid | Q-factor ≥ | Ongeveer. Gedistribueerde capaciteit (C<sub>D</sub>) | Resonantiefrequentiebereik (MHz) | Aanbevolen frequentie voor permittiviteitstest |
| 1 | 0,1 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
| 2 | 0,5 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 14,8 - 46,6 | 15 MHz |
| 3 | 2,5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 6,8 - 21,4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 3,4 - 10,55 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1,5 - 4,55 | 1,5 MHz |
| 6 | 100 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1,06 - 3,20 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0,34 - 1,02 | 0,5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0,148 - 0,39 | 0,25 MHz |
| 9 | 10 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0,107 - 0,32 | 0,1 MHz |
| 10 | 14 nH | ±5% | 100 | 5 pF | ~100 MHz | 100 MHz |
Contactpersoon: Ms. Kaitlyn Wang
Tel.: 19376687282
Fax: 86-769-83078748