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제품 상세 정보:
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| 주파수 범위 비율: | 16000 : 1 | 주파수 범위: | 100 kHz -160MHz |
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| 측정 직경: | Ø 38 mm | 두께 범위: | <15 mm |
| 보증: | 1년 | 인증: | Includes Calibration Certification |
| 강조하다: | ASTM D150 허용성 검사기,세라믹 다이렉트릭 상수 미터,복합물 허용성 검사기 |
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ASTM D 150 용해성 검사기 세라믹 복합물 다이렉트릭 상수 미터
1De문장:
LRTD 고주파 단열물질 다이렉트릭 상수 및 다이렉트릭 손실 테스트 시스템은 테스트 장치 (클램핑 픽시브), 고주파 Q 미터,데이터 수집 및 자동 측정 제어 (LRTD에 통합된 소프트웨어 모듈)그것은 국가 표준 GB / T 5594에 따라 설계 및 제조됩니다.4-2015 "전자 부품의 구조적 세라믹 재료의 성능에 대한 시험 방법 - 4부: 다이렉트릭 상수 및 다이렉트릭 손실 촉매 값의 시험 방법", GB/T 1693-2007 "불칸화 고무의 다이렉트릭 상수 및 다이렉트릭 손실 촉매 값의 결정", GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007, 미국 표준 ASTM D150 및 국제 전기 기술 위원회 IEC 60250이 시스템은 고 주파수 다이 일렉트릭 손실 접착 값 (tanδ) 및 단열 재료의 다이 일렉트릭 상수 (ε) 를 자동으로 측정하는 가장 좋은 솔루션을 제공합니다.이 장비의 시험 장치는 평면 콘덴서로 구성되어 있으며, 일반적으로 테스트 샘플을 클램프하는 데 사용됩니다. Q-미터가 표시 장치로 장착되어 있습니다. The dielectric loss tangent value of the insulation material is calculated by the change in Q value and the scale reading of thickness when the tested sample is placed in the flat capacitor and when it is not placedLRTD 디지털 Q 미터를 사용하면 다이 일렉트릭 상수 (ε) 와 다이 일렉트릭 손실 (tanδ) 의 자동 계산이 가능합니다.
2구성:
1 LRTD-C 테스트 호스트, 1 샘플 장착 장치 및 1 세트 인덕터 (10 개) 를 포함합니다. 액체 재료를 테스트 할 수있는 옵션 액체 컵이 있습니다.
3기술 매개 변수
LRTD 다이렉트릭 상수/손실 시험 시스템의 시스템 구성:
주 단위: 고주파 Q 미터
| 특징 범주 | 매개 변수 | 스펙 / 가치 | 참고문서 |
| 출처 | 신호 소스 유형 | DDS 디지털 합성 신호 | |
| 주파수 범위 | 100kHz - 160MHz | ||
| 주파수 커버레이션 비율 | 16000:1 | ||
| 주파수 정확성 | 3 × 10−5 ±1 수 (6개의 의미있는 숫자) | ||
| 샘플링 | 샘플링 정확성 | 12-비트 | Q 안정성 및 낮은 Df 물질 테스트 안정성을 보장 |
| Q 측정 | Q 측정 범위 | 1 - 1000 | 자동/수동 범위 |
| Q 결의 | 0.1 (4개의 의미있는 숫자) | ||
| Q 측정 오류 | < 5% | ||
| 인덕턴스 (L) 측정 | L 측정 범위 | 1nH - 140mH | 해상도 0.1 nH (4 개의 의미있는 숫자) |
| L 측정 오류 | < 3% | ||
| 튜닝 컨디세이터 | 주역량 범위 | 17pF ~ 240pF | 고밀도의 은으로 칠한 단일 구조물 |
| 용량 자동 검색 | 네 | 스테이퍼 모터 | |
| 직접 C 측정 범위 | 1pF ~ 25nF | ||
| 튜닝 콘덴시터 오류 | ±1pF 또는 < 1% | ||
| 튜닝 콘덴시터 해상도 | 0.1 pF | ||
| 음향 | 공명점 검색 | 자동 스캔 | |
| Q 특징 | Q 통과/실패 사전 설정 범위 | 5 - 1000 | 음향/비주얼 표시 |
| Q 범위 전환 | 오토/마뉴얼 | ||
| 디스플레이 (LCD) | 표시된 매개 변수 | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Quality Factor, Lt/Ct=tuned, tn=?, Σr=Series R? |
| 독특 한 특성 | 자동 잔류 인덕텐스 감수 | 네 | 잔류 인덕턴스 & 납 인덕턴스 (유니크) |
| 큰 용량 직선 디스플레이 | 네 | 최대 25 nF (유니크) | |
| 재료 검사 | 분산 요인 (Df) 정확성 | 00.01% (1/10,000) | |
| 허용성 (εr) 정확성 | 00.1% (1/1000) | ||
| 재료 두께 범위 | 0.1mm - 10mm | ||
| 허용성 표시 | 바로 LCD에 | ||
| 분산 요인 표시 | 바로 LCD에 | ||
| 허용성 테스트 주파수 범위 | 100kHz - 100MHz |
다이렉트릭 상수 εr와 다이렉트릭 손실 인수 tanδ 테스트 장치:
| 특징 | 사양 | 참고문서 | |
| 고체 표본 | 측정 지름 | Ø 38mm | |
| 두께 범위 | 조절이 가능한, < 15mm | 전형적인 범위 | |
| 전극판 | 사용자 정의 | (선택 가능한 사용자 정의) |
인덕터
| - 아니 | 인덕턴스 (L) | 정확성 | Q 요인 ≥ | 대략 분산 용량 (C)d) | 공명 주파수 범위 (MHz) | 허용성 테스트의 권장 빈도 |
| 1 | 0.1 μH | ±0.05 μH | 200 | 5pF | 31 - 103 | 50MHz |
| 2 | 0.5 μH | ±0.05 μH | 200 | 5pF | 14.8 - 46.6 | 15MHz |
| 3 | 2.5 μH | ± 5% | 200 | 5pF | 6.8 - 21.4 | 10MHz |
| 4 | 10μH | ± 5% | 200 | 6pF | 3.4 - 1055 | 5MHz |
| 5 | 50μH | ± 5% | 200 | 6pF | 1.5 - 455 | 1.5 MHz |
| 6 | 100μH | ± 5% | 200 | 6pF | 10.06 - 3.20 | 1MHz |
| 7 | 1mH | ± 5% | 150 | 8pF | 0.34 - 102 | 0.5 MHz |
| 8 | 5mH | ± 5% | 130 | 8pF | 0.148 - 039 | 0.25 MHz |
| 9 | 10mH | ± 5% | 90 | 8pF | 0.107 - 032 | 0.1 MHz |
| 10 | 14nH | ± 5% | 100 | 5pF | ~100 MHz | 100MHz |
담당자: Ms. Kaitlyn Wang
전화 번호: 19376687282
팩스: 86-769-83078748
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