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Dettagli:
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| Rapporto di copertura della frequenza: | 16000:1 | Gamma di frequenza: | 100 kHz - 160 MHz |
|---|---|---|---|
| Diametro di misura: | Ø 38 mm | Intervallo di spessore: | < 15 mm |
| Garanzia: | 1 Anno | Certificazione: | Includes Calibration Certification |
| Evidenziare: | Testatore di permissività ASTM D150,contatore di costante dielettrica in ceramica,Testatore di permissività dei compositi |
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ASTM D 150 Tester di permittività Misuratore di costante dielettrica per compositi ceramici
1.Deiscrizione:
Il sistema di prova della costante dielettrica e della perdita dielettrica del materiale isolante ad alta frequenza LRTD è costituito da un dispositivo di prova (dispositivo di serraggio), un Q-metro ad alta frequenza, acquisizione dati e controllo automatico della misurazione tanδ (modulo software incorporato in LRTD) e un induttore. È progettato e prodotto in conformità con gli standard nazionali GB/T 5594.4-2015 "Metodi di prova per le prestazioni dei materiali ceramici strutturali dei componenti elettronici - Parte 4: Metodi di prova per la costante dielettrica e il valore della tangente della perdita dielettrica", GB/T 1693-2007 "Determinazione della costante dielettrica e del valore della tangente della perdita dielettrica della gomma vulcanizzata", GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, standard americano ASTM D150 e Commissione elettrotecnica internazionale IEC 60250. Il sistema fornisce la migliore soluzione per la misurazione automatica del valore tangente della perdita dielettrica ad alta frequenza (tanδ) e della costante dielettrica (ε) dei materiali isolanti. Il dispositivo di test in questo strumento è composto da un condensatore piatto, generalmente utilizzato per bloccare il campione testato ed è dotato di un Q-metro come strumento indicatore. Il valore della tangente di perdita dielettrica del materiale isolante viene calcolato dalla variazione del valore Q e dalla lettura della scala dello spessore quando il campione testato viene posizionato nel condensatore piatto e quando non viene posizionato. L'utilizzo del Q-metro digitale LRTD consente il calcolo automatico della costante dielettrica (ε) e della perdita dielettrica (tanδ).
2.Configurazione:
Include 1 host di test LRTD-C, 1 dispositivo di campionamento e 1 set di induttori (10 pezzi). È disponibile una tazza per liquidi opzionale per testare materiali liquidi.
3. Parametro tecnico
Composizione del sistema di prova della costante dielettrica/perdita LRTD:
Unità principale: Q-metro ad alta frequenza
| Categoria di funzionalità | Parametro | Specifica/Valore | Note |
| Fonte | Tipo di sorgente del segnale | Segnale sintetizzato digitalmente DDS | |
| Gamma di frequenza | 100kHz - 160MHz | ||
| Rapporto di copertura della frequenza | 16000:1 | ||
| Precisione della frequenza | 3 × 10⁻⁵ ±1 conteggio (6 cifre significative) | ||
| Campionamento | Precisione del campionamento | 12-BIT | Garantisce stabilità Q e stabilità nei test sui materiali a basso Df |
| Misurazione Q | Intervallo di misurazione Q | 1 - 1000 | Intervallo automatico/manuale |
| Risoluzione Q | 0,1 (4 cifre significative) | ||
| Q Errore di misurazione | <5% | ||
| Misurazione dell'induttanza (L). | Gamma di misurazione L | 1 nH - 140 mH | Risoluzione 0,1 nH (4 cifre significative) |
| Errore di misurazione L | < 3% | ||
| Condensatore di sintonia | Intervallo di capacità principale | 17 pF - 240 pF | Struttura monolitica argentata ad alta precisione |
| Ricerca automatica della capacità | SÌ | Con motore passo-passo | |
| Intervallo di misurazione diretta C | 1 pF ~ 25 nF | ||
| Errore del condensatore di sintonia | ±1 pF o < 1% | ||
| Risoluzione del condensatore di sintonizzazione | 0,1 pF | ||
| Risonanza | Ricerca del punto di risonanza | Scansione automatica | |
| Caratteristiche Q | Q Intervallo preimpostato superato/fallito | 5-1000 | Indicazione acustica/visiva |
| Commutazione della gamma Q | Automatico/manuale | ||
| Display (LCD) | Parametri visualizzati | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Fattore di qualità, Lt/Ct=sintonizzato, tn=?, Σr=Serie R? |
| Caratteristiche uniche | Deduzione automatica dell'induttanza residua | SÌ | Induttanza residua e induttanza del cavo (Unico) |
| Display diretto di grande capacità | SÌ | Fino a 25 nF (Unico) | |
| Test sui materiali | Precisione del fattore di dissipazione (Df). | 0,01% (1/10.000) | |
| Permittività (εᵣ) Accuratezza | 0,1% (1/1.000) | ||
| Intervallo di spessore del materiale | 0,1 mm-10 mm | ||
| Visualizzazione della permettetività | Direttamente sul display LCD | ||
| Visualizzazione del fattore di dissipazione | Direttamente sul display LCD | ||
| Intervallo di frequenza del test di permettività | 100kHz - 100MHz |
Dispositivo di prova della costante dielettrica εr e del fattore di perdita dielettrica tanδ:
| Caratteristica | Specifica | Note | |
| Campioni solidi | Diametro di misura | Ø 38 mm | |
| Intervallo di spessore | Regolabile, < 15 mm | Gamma tipica | |
| Piastre di elettrodi | Personalizzabile | (Personalizzazione opzionale) |
Induttori
| NO. | Induttanza (L) | Precisione | Fattore Q ≥ | ca. Capacità distribuita (C<sub>D</sub>) | Gamma di frequenze di risonanza (MHz) | Frequenza consigliata per il test di permettività |
| 1 | 0,1 μH | ±0,05μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
| 2 | 0,5 μH | ±0,05μH | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 MHz |
| 3 | 2,5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
| 4 | 10μH | ±5% | 200 | 6 pF | 3.4 - 10.55 | 5 MHz |
| 5 | 50μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1,5 - 4,55 | 1,5 MHz |
| 6 | 100 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 megahertz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0,34 - 1,02 | 0,5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0,148 - 0,39 | 0,25 MHz |
| 9 | 10 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0,107 - 0,32 | 0,1 MHz |
| 10 | 14 nH | ±5% | 100 | 5 pF | ~100 MHz | 100 MHz |
Persona di contatto: Ms. Kaitlyn Wang
Telefono: 19376687282
Fax: 86-769-83078748