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Datos del producto:
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| Relación de cobertura de frecuencia: | 16000:1 | Rango de frecuencia: | 100 kHz - 160 MHz |
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| Diámetro de medición: | Ø 38 mm | Rango de espesor: | El valor de las emisiones |
| Garantía: | 1 Año | Certificación: | Includes Calibration Certification |
| Resaltar: | Tester de permittividad ASTM D150,medidor de constante dieléctrica de cerámica,Prueba de permeabilidad de los compuestos |
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ASTM D 150 Probador de permeabilidad Cerámicas compuestas Constantímetro dieléctrico
1- ¿ Qué?ElEl nombre de la empresa:
El sistema de ensayo de la constante dieléctrica y la pérdida dieléctrica del material aislante de alta frecuencia LRTD consta de un dispositivo de ensayo (fijación de sujeción), un Q-métro de alta frecuencia,Adquisición de datos y control automático de medición (módulo de software incorporado en el LRTD)Se diseña y fabrica de acuerdo con las normas nacionales GB/T 5594.4-2015 "Métodos de ensayo para el rendimiento de los materiales cerámicos estructurales de los componentes electrónicos - Parte 4: Métodos de ensayo para la constante dieléctrica y el valor tangente de la pérdida dieléctrica", GB/T 1693-2007 "Determinación de la constante dieléctrica y el valor tangente de la pérdida dieléctrica del caucho vulcanizado", GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007, el estándar estadounidense ASTM D150 y la Comisión Electrotécnica Internacional IEC 60250.El sistema proporciona la mejor solución para la medición automática del valor tangente de la pérdida dieléctrica de alta frecuencia (tanδ) y la constante dieléctrica (ε) de los materiales aislantesEl dispositivo de ensayo de este instrumento está compuesto por un condensador plano, que generalmente se utiliza para sujetar la muestra de ensayo y está equipado con un Q-métro como instrumento de indicación. The dielectric loss tangent value of the insulation material is calculated by the change in Q value and the scale reading of thickness when the tested sample is placed in the flat capacitor and when it is not placedEl uso del Q-métro digital LRTD permite el cálculo automático de la constante dieléctrica (ε) y la pérdida dieléctrica (tanδ).
2Configuración:
Incluye 1 receptor de prueba LRTD-C, 1 equipo de muestra y 1 conjunto de inductores (10 piezas).
3Parámetro técnico
Composición del sistema del sistema de ensayo de la constante/pérdida dieléctrica LRTD:
Unidad principal: Q-méter de alta frecuencia
| Categoría de características | Parámetro | Especificación / Valor | Las notas |
| Fuente | Tipo de fuente de señal | DDS señal sintetizada digitalmente | |
| Rango de frecuencia | 100 kHz - 160 MHz | ||
| Relación de cobertura de frecuencia | 16000:1 | ||
| Precisión de la frecuencia | Cuenta de 3 × 10−5 ±1 (6 dígitos significativos) | ||
| Muestreo | Precisión de las muestras | 12 bits | Asegura la estabilidad Q y baja estabilidad de prueba de Df |
| Q Medición | Q Rango de medición | 1 - 1000 | Rango automático/manual |
| Q Resolución | 0.1 (4 dígitos significativos) | ||
| Q Error de medición | < 5% | ||
| La inductancia (L) se medirá | L Rango de medición | 1 nH - 140 mH | Resolución 0,1 nH (4 dígitos significativos) |
| L Error de medición | < 3% | ||
| Capacitador de afinación | Rango de capacidad principal | 17 pF - 240 pF | Estructura monolítica plateada de alta precisión |
| Búsqueda automática de capacidad | - ¿ Qué? | Con motor paso a paso | |
| Rango de medición directo C | 1 pF ~ 25 nF | ||
| Error en el condensador de afinación | ± 1 pF o < 1% | ||
| Resolución del condensador de afinación | 0.1 pF | ||
| Resonancia | Búsqueda de puntos de resonancia | Escaneo automático | |
| Q Características | Q Rango de ajuste preestablecido de aprobación/desacuso | 5 - 1000 | Indicación sonora/visual |
| Q Cambiar de rango | Auto/Manual | ||
| Muestra (LCD) | Parámetros que se muestran | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Factor de calidad, Lt/Ct=ajustado, tn=?, Σr=Serie R? |
| Características únicas | Deducción de la inductancia residual automática | - ¿ Qué? | Inductancia residual y inductancia de plomo (única) |
| Display directo de gran capacidad | - ¿ Qué? | Hasta 25 nF (único) | |
| Pruebas de materiales | Precisión del factor de disipación (Df) | 00,01 por ciento (1/10.000) | |
| Permitencia (εr) Precisión | 00,1% (1/1.000) | ||
| Rango de espesor del material | 0.1 mm - 10 mm | ||
| Muestra de permitibilidad | Directamente en LCD | ||
| Indicación del factor de disipación | Directamente en LCD | ||
| Rango de frecuencia de las pruebas de permittividad | 100 kHz - 100 MHz |
Dispositivo de ensayo de la constante dieléctrica εr y del factor de pérdida dieléctrica tanδ:
| Características | Especificación | Las notas | |
| Muestras sólidas | Diámetro de medición | Ø 38 mm | |
| Rango de espesor | Con ajuste, < 15 mm | Rango típico | |
| Las placas de electrodos | Personalizable | (Personalización opcional) |
Inductores
| - No, no es así. | Inductancia (L) | Precisión | Factor Q ≥ | Capacidad distribuida (C)d) | Rango de frecuencia de resonancia (MHz) | Frecuencia recomendada para el ensayo de permisividad |
| 1 | 0.1 μH | ± 0,05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
| 2 | 0.5 μH | ± 0,05 μH | 200 | 5 pF | 14.8-46 por ciento.6 | 15 MHz |
| 3 | 2.5 μH | ± 5 por ciento | 200 | 5 pF | 6.8 a 21.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ± 5 por ciento | 200 | 6 pF | 3.4 a 10.55 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ± 5 por ciento | 200 | 6 pF | 1.5 a 4.55 | 1.5 MHz. ¿ Qué es eso? |
| 6 | 100 μH | ± 5 por ciento | 200 | 6 pF | 1.06 a 3.20 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ± 5 por ciento | 150 | 8 pF | 0.34 a uno.02 | 0.5 MHz. ¿ Qué es eso? |
| 8 | 5 mH | ± 5 por ciento | 130 | 8 pF | 0.148 a cero.39 | 0.25 MHz |
| 9 | 10 mH | ± 5 por ciento | 90 | 8 pF | 0.107 a cero.32 | 0.1 MHz |
| 10 | 14 nH | ± 5 por ciento | 100 | 5 pF | ~ 100 MHz | 100 MHz |
Persona de Contacto: Ms. Kaitlyn Wang
Teléfono: 19376687282
Fax: 86-769-83078748