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Detalhes do produto:
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| Rácio de Cobertura de Frequência: | 16000:1 | Faixa de frequência: | 100 kHz - 160 MHz |
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| Diâmetro da Medição: | Ø 38 mm | Faixa de espessura: | < 15 mm |
| Garantia: | 1 Ano | Certificação: | Includes Calibration Certification |
| Destacar: | Testador de permissividade ASTM D150,medidor de constante dielétrica de cerâmica,testador de permissividade de compostos |
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ASTM D 150 Tester de Permitência Cerâmica Compósitos Constantímetro Dieléctrico
1.DeInscrição:
O sistema de ensaio da constante dielétrica e das perdas dielétricas do material de isolamento de alta frequência LRTD consiste num dispositivo de ensaio (aparelho de fixação), num Q-metro de alta frequência,Aquisição de dados e controlo automático de medição (módulo de software incorporado no LRTD)É concebido e fabricado em conformidade com as normas nacionais GB/T 5594.4-2015 "Métodos de ensaio para o desempenho dos materiais cerâmicos estruturais dos componentes eletrónicos - Parte 4: Métodos de ensaio da constante dielétrica e do valor tangente da perda dielétrica", GB/T 1693-2007 "Determinação da constante dielétrica e do valor tangente da perda dielétrica da borracha vulcanizada", GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007, norma americana ASTM D150 e Comissão Electrotecnica Internacional IEC 60250.O sistema fornece a melhor solução para a medição automática do valor tangente das perdas dielétricas de alta frequência (tanδ) e da constante dielétrica (ε) dos materiais isolantesO dispositivo de ensaio deste instrumento é composto por um condensador plano, que é geralmente utilizado para prender a amostra de ensaio e está equipado com um Q-meter como instrumento de indicação. The dielectric loss tangent value of the insulation material is calculated by the change in Q value and the scale reading of thickness when the tested sample is placed in the flat capacitor and when it is not placedO Q-meter digital LRTD permite o cálculo automático da constante dielétrica (ε) e da perda dielétrica (tanδ).
2Configuração:
Inclui 1 hospedeiro de teste LRTD-C, 1 dispositivo de amostragem e 1 conjunto de indutores (10 peças).
3Parâmetro técnico
Composição do sistema do sistema de ensaio da constante/perda dielétrica do LRTD:
Unidade principal: Q-metro de alta frequência
| Categoria de características | Parâmetro | Especificação / Valor | Notas |
| Fonte | Tipo de fonte de sinal | DDS Sinais sintetizados digitalmente | |
| Faixa de frequência | 100 kHz - 160 MHz | ||
| Relação de cobertura de frequência | 16000:1 | ||
| Precisão de frequência | 3 × 10−5 ± 1 contagem (6 dígitos significativos) | ||
| Amostragem | Precisão da amostragem | 12 bits | Assegura a estabilidade Q e a estabilidade de ensaio do material com baixo Df |
| Q Medição | Q Faixa de medição | 1 - 1000 | Faixa automática/manuais |
| Q Resolução | 0.1 (4 dígitos significativos) | ||
| Q Erro de medição | < 5% | ||
| Medida da indutividade (L) | L Faixa de medição | 1 nH - 140 mH | Resolução 0,1 nH (4 dígitos significativos) |
| L Erro de medição | < 3% | ||
| Capacitor de regulação | Faixa de capacidade principal | 17 pF - 240 pF | Estrutura monolítica prateada de alta precisão |
| Busca automática de capacidade | - Sim, sim. | Com motor passo a passo | |
| Faixa de medição directa C | 1 pF ~ 25 nF | ||
| Erro no condensador de sintonização | ± 1 pF ou < 1% | ||
| Resolução do condensador de regulação | 0.1 pF | ||
| Resonância | Pesquisa de pontos de ressonância | Análise automática | |
| Q Características | Q Intervalo de passagem/falha pré-definido | 5 - 1000 | Indicação sonora/visual |
| Q Intercâmbio de faixa | Automático/Manual | ||
| Display (LCD) | Parâmetros exibidos | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Fator de Qualidade, Lt/Ct=ajustada, tn=?, Σr=Série R? |
| Características únicas | Dedução da Indutância Residual Automática | - Sim, sim. | Indutividade residual e indutividade de chumbo (único) |
| Display direto de grande capacidade | - Sim, sim. | Até 25 nF (único) | |
| Teste de materiais | Factor de dissipação (Df) | 00,01% (1/10.000) | |
| Permitência (εr) Precisão | 00,1% (1/1000) | ||
| Faixa de espessura do material | 0.1 mm - 10 mm | ||
| Exibição de permitividade | Diretamente no LCD | ||
| Indicação do fator de dissipação | Diretamente no LCD | ||
| Faixa de frequência dos ensaios de permittividade | 100 kHz - 100 MHz |
Dispositivo de ensaio da constante dielétrica εr e do fator de perda dielétrica tanδ:
| Características | Especificações | Notas | |
| amostras sólidas | Diâmetro de medição | Ø 38 mm | |
| Faixa de espessura | Ajustável, < 15 mm | Intervalo típico | |
| Placas de eléctrodos | Personalizável | (opcional de personalização) |
Indutores
| - Não, não. | Indutividade (L) | Precisão | Fator Q ≥ | Capacidade distribuída (C)d) | Faixa de frequência de ressonância (MHz) | Frequência recomendada para o ensaio de permitividade |
| 1 | 0.1 μH | ± 0,05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
| 2 | 0.5 μH | ± 0,05 μH | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 MHz |
| 3 | 2.5 μH | ± 5% | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 3.4 a 10.55 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 1.5 a 4.55 | 1.5 MHz |
| 6 | 100 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ± 5% | 150 | 8 pF | 0.34 a 1.02 | 0.5 MHz |
| 8 | 5 mH | ± 5% | 130 | 8 pF | 0.148 para 0.39 | 0.25 MHz |
| 9 | 10 mH | ± 5% | 90 | 8 pF | 0.107 - 0.32 | 0.1 MHz |
| 10 | 14 nH | ± 5% | 100 | 5 pF | ~ 100 MHz | 100 MHz |
Pessoa de Contato: Ms. Kaitlyn Wang
Telefone: 19376687282
Fax: 86-769-83078748