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Produttore di apparecchiature per la misurazione degli spessori di film riflettenti di alta precisione e compatti, con misurazione delle costanti ottiche

Certificazione
Cina DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD Certificazioni
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Produttore di apparecchiature per la misurazione degli spessori di film riflettenti di alta precisione e compatti, con misurazione delle costanti ottiche

Compact High-precision Reflective Film Thickness Meter Optical Constants Measuring Equipment Manufacturer Price
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Grande immagine :  Produttore di apparecchiature per la misurazione degli spessori di film riflettenti di alta precisione e compatti, con misurazione delle costanti ottiche

Dettagli:
Luogo di origine: Guangdong, Cina
Marca: LONROY
Termini di pagamento e spedizione:
Quantità di ordine minimo: 1

Produttore di apparecchiature per la misurazione degli spessori di film riflettenti di alta precisione e compatti, con misurazione delle costanti ottiche

descrizione
Tipo: Macchina di prova Classe di precisione: Alta precisione
Precisione: / Applicazione: test automatici
Supporto personalizzato: OEM, ODM, OBM Energia: -
Classe di protezione: IP56 Voltaggio: 220 v
Garanzia: 1 anno Misurare la dimensione del punto: 1-5 mm
Intervallo di analisi spettrale: 380 nm-1100 nm Precisione assoluta dello spessore del film: tra 0,2% o 2 nm, a seconda di quale sia maggiore
Stabilità dello spessore del film: migliore di 0,05 nm
Evidenziare:

misuratore compatto di spessore di film riflettente

,

apparecchiatura di misurazione delle costanti ottiche di alta precisione

,

macchina per test di laboratorio con garanzia

Misuratore di spessore di film riflettente compatto ad alta precisione, produttore di apparecchiature per la misurazione delle costanti ottiche, prezzo

 

 

I. Panoramica

IlIl misuratore di spessore di film riflettente compatto ad alta precisione LR-A429 utilizza il principio dell'interferenza ottica. Analizzando la figura di interferenza formata dalla luce riflessa dalla superficie del film e dalla luce riflessa dall'interfaccia tra il film e il substrato, può misurare in modo rapido e preciso lo spessore del film, le costanti ottiche e altre informazioni.

 

1. Soluzione per la misurazione del film ottico;

2. Misurazione senza contatto e non distruttiva;

3. L'algoritmo principale supporta l'analisi di film sottili e spessi, e di film a strato singolo e multistrato.

4. Precisione di misurazione della ripetibilità dello spessore del film: 0,02 nm

5. Misurazione completamente automatica. Il numero e la posizione dei punti di misurazione possono essere modificati in base alle esigenze nella Ricetta.

 

 

II. Caratteristiche del prodotto

 

1. Utilizzando una sorgente luminosa alogena ad alta intensità, lo spettro copre l'intervallo dall'ultravioletto al vicino infrarosso.

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2. Adotta un design altamente integrato di ottica, meccanica ed elettronica, caratterizzato da dimensioni ridotte e facilità d'uso.

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3. Basato sul principio dell'interferenza della luce riflessa all'interfaccia e all'interfaccia inferiore dello strato di film sottile, è facile da analizzare da un singolo strato a più strati.

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4. Dotato di potenti algoritmi di analisi principali: la FFT viene utilizzata per analizzare film spessi e il metodo di analisi di adattamento della curva viene impiegato per analizzare le informazioni sui parametri fisici dei film sottili;

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III. Applicazioni del prodotto

È ampiamente applicato nella misurazione di vari tipi di film protettivi, film organici, film inorganici, film metallici, rivestimenti, ecc.

 

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Specifiche tecniche

 

Funzione di base

Ottenere i valori dello spessore del film e gli spettri R

Gamma di analisi spettrale

380nm-1100nm

Misurare le dimensioni dello spot

1-5mm

Precisione di misurazione della ripetibilità dello spessore del film:

0,02 nm (campione di SiO2 a base di silicio da 100 nm, 100 misurazioni ripetute)

Precisione assoluta dello spessore del film

tra lo 0,2% o 2 nm, a seconda di quale sia maggiore

Stabilità dello spessore del film

migliore di 0,05 nm

Intervallo di misurazione dello spessore del film

15nm~70um

Tavolo porta-campioni

Piattaforma mobile automatizzata R-Theta, diametro del tavolo porta-campioni non inferiore a 200 mm

* Metodo di prova

Test automatizzato in più punti per generare una mappa di mappatura dello spessore (1. circolare/quadrata, 2. forma radiale, 3. esclusione centrale o
marginale, 4. Personalizzazione (modifica dei punti di coordinate in base alle esigenze del campione)

Velocità di prova (compreso il mandrino a vuoto)

5 punti in 5 secondi, 25 punti in 14 secondi, 57 punti in 30 secondi

Sorgente luminosa

Sorgente luminosa alogena standard (con una durata di 10000 ore)

Simulazione della riflettività

Può modellare diversi materiali di rivestimento e simulare la curva di riflettività del sistema di film di rivestimento

Software di analisi

fino a centinaia di database di costanti di materiali ottici e supporta librerie di materiali ottici definite dall'utente; Fornire capacità di modellazione, simulazione e analisi per film sottili ottici isotropi multistrato;

Specifiche del tavolo di prova del campione

Dimensioni delle fette misurabili

2 pollici e 4 pollici e 6 pollici e 8 pollici e 12 pollici

Metodo di fissaggio della fetta

assorbimento del vuoto

Intervallo di movimento del tavolo

non inferiore a 200 mm * 200 mm

Posizionare manualmente il campione, mappare e misurare automaticamente, e il numero e la posizione dei punti di misurazione possono essere modificati in base alle esigenze nella Ricetta

 

 

 

 

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Dettagli di contatto
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Persona di contatto: Kaitlyn Wang

Telefono: 19376687282

Fax: 86-769-83078748

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