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Datos del producto:
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| Tipo: | Máquina de prueba | Clase de precisión: | Alta precisión |
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| Exactitud: | / | Solicitud: | Pruebas automáticas |
| Soporte personalizado: | OEM, ODM, OBM | Fuerza: | - |
| Clase de protección: | IP56 | Voltaje: | 220 V |
| Garantía: | 1 año | Mida el tamaño del punto: | 1-5 mm |
| Rango de análisis espectral: | 380nm-1100nm | Precisión absoluta del espesor de la película.: | entre 0,2% o 2 nm, lo que sea mayor |
| Estabilidad del espesor de la película: | mejor que 0,05 nm | ||
| Resaltar: | medidor de espesor de película reflectante compacto,equipo de medición de constantes ópticas de alta precisión,máquina de ensayo de laboratorio con garantía |
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Medidor de espesor de película reflectante de alta precisión y compacto, fabricante de equipos de medición de constantes ópticas, precio
I. Descripción general
ElEl medidor de espesor de película reflectante de alta precisión y compacto LR-A429 utiliza el principio de la interferencia óptica. Al analizar el patrón de interferencia formado por la luz reflejada desde la superficie de la película y la luz reflejada desde la interfaz entre la película y el sustrato, puede medir de forma rápida y precisa el espesor de la película, las constantes ópticas y otra información.
1. Solución de medición de películas ópticas;
2. Medición sin contacto y no destructiva;
3. El algoritmo central admite el análisis de películas delgadas a gruesas, y de películas de una sola capa a películas multicapa.
4. Precisión de medición de la repetibilidad del espesor de la película: 0,02 nm
5. Medición totalmente automática. El número y la posición de los puntos de medición se pueden editar según sea necesario en la Receta.
II. Características del producto
1. Utilizando una fuente de luz halógena de alta intensidad, el espectro cubre el rango desde el ultravioleta hasta el infrarrojo cercano.
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2. Adopta un diseño altamente integrado de óptica, mecánica y electrónica, con un tamaño pequeño y fácil operación.
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3. Basado en el principio de interferencia de la luz reflejada en la interfaz y la interfaz inferior de la capa de película delgada, es fácil de analizar desde una sola capa hasta múltiples capas.
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4. Equipado con potentes algoritmos de análisis centrales: se utiliza FFT para analizar películas gruesas, y se emplea el método de análisis de ajuste de curvas para analizar la información de los parámetros físicos de las películas delgadas;
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III. Aplicaciones del producto
Se aplica ampliamente en la medición de varios tipos de películas protectoras, películas orgánicas, películas inorgánicas, películas metálicas, recubrimientos, etc.
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Medidor de espesor de película reflectante de alta precisión y compacto, fabricante de equipos de medición de constantes ópticas, precio
Especificaciones técnicas
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Función básica |
Obtener valores de espesor de película y espectros R |
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Rango de análisis espectral |
380nm-1100nm |
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Medir el tamaño del punto |
1-5mm |
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Precisión de medición de la repetibilidad del espesor de la película: |
0.02nm (muestra de SiO2 basada en silicio de 100nm, 100 mediciones repetidas) |
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Precisión absoluta del espesor de la película |
entre 0,2% o 2 nm, lo que sea mayor |
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Estabilidad del espesor de la película |
mejor que 0,05 nm |
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Rango de medición del espesor de la película |
15nm~70um |
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Etapa de muestra |
Plataforma móvil automatizada R-Theta, diámetro de la etapa de muestra no inferior a 200 mm |
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* Método de prueba |
Pruebas automatizadas en múltiples puntos para generar un mapa de mapeo de espesor (1. circular/cuadrado, 2. Forma radial, 3. Exclusión central o |
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Velocidad de prueba (incluido el mandril de vacío) |
5 puntos en 5 segundos, 25 puntos en 14 segundos, 57 puntos en 30 segundos |
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Fuente de luz |
Fuente de luz halógena estándar (con una vida útil de 10000 horas) |
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Simulación de reflectividad |
Puede modelar diferentes materiales de recubrimiento y simular la curva de reflectividad del sistema de película de recubrimiento |
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Software de análisis |
hasta cientos de bases de datos de constantes de materiales ópticos, y admite bibliotecas de materiales ópticos definidas por el usuario; Proporciona capacidades de modelado, simulación y análisis para películas delgadas ópticas multicapa isotrópicas; |
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Especificaciones de la mesa de prueba de muestras |
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Tamaños de obleas medibles |
2 pulgadas y 4 pulgadas y 6 pulgadas y 8 pulgadas y 12 pulgadas |
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Método de fijación de la oblea |
adsorción por vacío |
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Rango de movimiento de la etapa |
no menos de 200 mm * 200 mm |
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Coloque la muestra manualmente, mapee y mida automáticamente, y el número y la posición de los puntos de medición se pueden editar según sea necesario en la Receta |
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Persona de Contacto: Kaitlyn Wang
Teléfono: 19376687282
Fax: 86-769-83078748