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उत्पाद विवरण:
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| प्रकार: | परीक्षण मशीन | सटीकता वर्ग: | उच्च सटीकता |
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| शुद्धता: | / | आवेदन: | स्वत: परीक्षण |
| अनुकूलित समर्थन: | ओईएम, ओडीएम, ओबीएम | शक्ति: | - |
| संरक्षण वर्ग: | आईपी56 | वोल्टेज: | 220 वी |
| गारंटी: | 1 वर्ष | स्थान का आकार मापें: | 1-5 मिमी |
| वर्णक्रमीय विश्लेषण रेंज: | 380nm-1100nm | फिल्म की मोटाई की पूर्ण सटीकता: | 0.2% या 2एनएम के बीच, जो भी अधिक हो |
| फिल्म की मोटाई स्थिरता: | 0.05nm से बेहतर | ||
| प्रमुखता देना: | कॉम्पैक्ट परावर्तक फिल्म मोटाई मीटर,उच्च-सटीक ऑप्टिकल स्थिरांक मापने के उपकरण,वारंटी के साथ प्रयोगशाला परीक्षण मशीन |
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कॉम्पैक्ट उच्च परिशुद्धता परावर्तक फिल्म मोटाई मीटर ऑप्टिकल स्थिरांक माप उपकरण निर्माता मूल्य
I. अवलोकन
दLR-A429 कॉम्पैक्ट हाई-प्रेसिजन रिफ्लेक्टीव फिल्म मोटाई मीटर ऑप्टिकल हस्तक्षेप के सिद्धांत का उपयोग करता है।फिल्म की सतह से परिलक्षित प्रकाश और फिल्म और सब्सट्रेट के बीच के इंटरफ़ेस से परिलक्षित प्रकाश द्वारा गठित हस्तक्षेप पैटर्न का विश्लेषण करके, यह जल्दी और सटीक रूप से फिल्म की मोटाई, ऑप्टिकल स्थिरांक, और अन्य जानकारी को माप सकता है।
1.ऑप्टिकल फिल्म माप समाधान;
2.संपर्क रहित, विनाशकारी माप;
3.कोर एल्गोरिथ्म पतली फिल्मों से मोटी फिल्मों और एकल-परत फिल्मों से बहु-परत फिल्मों के विश्लेषण का समर्थन करता है।
4.फिल्म मोटाई दोहराव की माप सटीकताः 0.02 एनएम
5.पूरी तरह से स्वचालित माप. माप बिंदुओं की संख्या और स्थिति को आवश्यकतानुसार नुस्खा में संपादित किया जा सकता है।
II. उत्पाद की विशेषताएं
1.उच्च तीव्रता वाले हलोजन प्रकाश स्रोत का उपयोग करके, स्पेक्ट्रम पराबैंगनी से निकट अवरक्त तक की सीमा को कवर करता है।
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2.यह प्रकाशिकी, यांत्रिकी और इलेक्ट्रॉनिक्स के एक उच्च एकीकृत डिजाइन को अपनाता है, जिसमें एक छोटा आकार और आसान संचालन है।
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3.अंतरफलक और पतली फिल्म परत के निचले अंतरफलक पर परावर्तित प्रकाश के हस्तक्षेप के सिद्धांत के आधार पर, एकल परत से कई परतों तक विश्लेषण करना आसान है।
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4.शक्तिशाली कोर विश्लेषण एल्गोरिदम से सुसज्जित: मोटी फिल्मों का विश्लेषण करने के लिए एफएफटी का उपयोग किया जाता है, और पतली फिल्मों की भौतिक पैरामीटर जानकारी का विश्लेषण करने के लिए वक्र फिटिंग विश्लेषण विधि का उपयोग किया जाता है;
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III. उत्पाद अनुप्रयोग
यह विभिन्न प्रकार की सुरक्षात्मक फिल्मों, कार्बनिक फिल्मों, अकार्बनिक फिल्मों, धातु फिल्मों, कोटिंग्स आदि के माप में व्यापक रूप से लागू होता है।
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ICompact उच्च परिशुद्धता परावर्तक फिल्म मोटाई मीटर ऑप्टिकल स्थिरांक माप उपकरण निर्माता मूल्य
तकनीकी विनिर्देश
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मूल कार्य |
फिल्म मोटाई के मान और आर स्पेक्ट्रम प्राप्त करें |
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स्पेक्ट्रल विश्लेषण सीमा |
380nm-1100nm |
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स्पॉट का आकार मापें |
1-5 मिमी |
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फिल्म मोटाई की दोहरावशीलता की माप सटीकताः |
0.02nm (100nm सिलिकॉन आधारित SiO2 नमूना, 100 दोहराए गए माप) |
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फिल्म की मोटाई की पूर्ण सटीकता |
0.2% या 2 एनएम के बीच, जो भी अधिक है |
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फिल्म मोटाई स्थिरता |
0.05nm से बेहतर |
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फिल्म मोटाई मापने की सीमा |
15nm~70um |
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नमूनाकरण चरण |
स्वचालित आर-थेटा मोबाइल प्लेटफार्म, नमूना चरण व्यास कम से कम 200 मिमी |
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* परीक्षण विधि |
मोटाई मानचित्रण नक्शा उत्पन्न करने के लिए किसी भी कई बिंदुओं पर स्वचालित परीक्षण (1. परिपत्र/वर्ग, 2. रेडियल आकार, 3. केंद्र या |
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परीक्षण गति (वैक्यूम चक सहित) |
5 सेकंड में 5 अंक, 14 सेकंड में 25 अंक, 30 सेकंड में 57 अंक |
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प्रकाश स्रोत |
मानक हलोजन प्रकाश स्रोत (जीवनकाल 10000 घंटे के साथ) |
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परावर्तकता अनुकरण |
यह विभिन्न कोटिंग सामग्री का मॉडल बना सकता है और कोटिंग फिल्म प्रणाली के परावर्तनशीलता वक्र का अनुकरण कर सकता है |
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विश्लेषण सॉफ्टवेयर |
सैकड़ों ऑप्टिकल सामग्री स्थिर डेटाबेस तक, और उपयोगकर्ता-परिभाषित ऑप्टिकल सामग्री पुस्तकालयों का समर्थन करता है; मॉडलिंग, अनुकरण,बहु-परत आइसोट्रोपिक ऑप्टिकल पतली फिल्मों के लिए विश्लेषण क्षमता; |
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नमूना परीक्षण तालिका के विनिर्देश |
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मापने योग्य वेफर आकार |
2 इंच&4 इंच&6 इंच&8 इंच&12 इंच |
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वेफर को स्थिर करने की विधि |
वैक्यूम अवशोषण |
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मंच की गतिशील सीमा |
कम से कम 200mm * 200mm |
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मैन्युअल रूप से नमूने जगह, स्वचालित रूप से नक्शा और माप और संख्या और माप बिंदुओं की स्थिति नुस्खा में आवश्यक के रूप में संपादित किया जा सकता है |
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व्यक्ति से संपर्क करें: Kaitlyn Wang
दूरभाष: 19376687282
फैक्स: 86-769-83078748