Productdetails:
|
Angle: | ±1′ | Residual Noise: | ≤0.006μm |
---|---|---|---|
Indication Accuracy: | ≤±(6nm + 2.5%) | Warranty: | 1year |
Marble Dimensions: | 500mm × 800mm | Repeatability: | 1δ≤1nm |
Markeren: | oppervlaktebuigzaamheidstester met contourdetector,geïntegreerde contouranalysator voor ruwheid,XRF-analysator voor oppervlaktemetingen |
De geïntegreerde machine voor ruwheidsprofielen, die gebruik maakt van een enkele data-acquisitietechnologie zonder de noodzaak om sensoren te vervangen, maakt een uitgebreide en precieze meting van afmetingen, vormen, golvingen en ruwheid mogelijk. Dit vereenvoudigt niet alleen het bedieningsproces en verhoogt de meetefficiëntie, maar waarborgt ook de nauwkeurigheid en consistentie van de meetresultaten.
Technische Parameters
Geïntegreerde Sensor |
Z1-as Meetbereik |
20mm |
|
Z1 Resolutie |
1.2nm |
Contour Nauwkeurigheid |
Z1 Lineaire Nauwkeurigheid |
≤±(0.5+|0.02H|)μm |
|
Cirkelboog |
±(1 + R/12)μm |
|
Cirkelboog Pt |
≤0.3μm |
|
Hoek |
±1′ |
|
Rechtheid (Afkapgolflengte 0.8mm) |
0.3um/100mm |
Ruwheid Nauwkeurigheid |
Indicatie Nauwkeurigheid |
≤±(6nm + 2.5%) |
|
Resterende Ruis |
≤0.006μm |
|
Herhaalbaarheid |
1δ≤1nm |
|
Afkapgolflengte |
0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8mm |
|
Evaluatielengte |
λC×2, 3, 4, 5, 6, 7 |
Aandrijfsnelheid |
X-as Aandrijfmodus |
Elektrisch |
|
Y-as Aandrijfmodus |
Elektrisch |
Marmeren Afmetingen |
500mm × 800mm |
|
Tafelblad Materiaal |
Natuurlijk Marmer |
Contactpersoon: Ms. Kaitlyn Wang
Tel.: 19376687282
Fax: 86-769-83078748