El instrumento AL-Y3500xrdf es un dispositivo analítico de alta gama que integra la tecnología de difracción de rayos X (XRD) y la tecnología de espectroscopía de rayos X (EDS). Se utiliza principalmente para el análisis de la composición elemental y la caracterización estructural de materiales. A través de una sola medición, puede obtener simultáneamente información clave como la composición elemental, la estructura cristalina, la composición de fase y el tamaño de grano del material. Se aplica ampliamente en campos como la ciencia de materiales, geología, física, química, biología, semiconductores, caracterización de catalizadores, análisis de matriz metálica y nanotecnología.

Características:

1.Integración eficiente: Una sola medición puede obtener simultáneamente datos de difracción y espectroscopía, eliminando el proceso de medición paso a paso tradicional que consume mucho tiempo y es propenso a errores.
2. Alta sensibilidad y precisión: Utilizando detectores y algoritmos avanzados, el límite de detección es tan bajo como el nivel de ppm, y la precisión de la resolución estructural alcanza el nivel atómico.
3. Expansión multifuncional: Varios accesorios funcionales satisfacen las necesidades de diferentes propósitos de prueba. Admiten varias formas de muestra (polvo, bloque, película, etc.), son compatibles con entornos especiales como alta temperatura, baja temperatura y alta presión, y están equipados con un sistema de control de generador de rayos X de alta estabilidad para lograr una precisión de medición repetida más estable.
4. Integración de hardware: Compartir la fuente de rayos X, la platina de muestra y el sistema de control para garantizar la sincronización de las trayectorias ópticas y la coincidencia de señales de las dos tecnologías.
5. Fusión de datos: A través de software dedicado, los patrones de difracción y los datos espectrales se analizan conjuntamente. Al integrar la información de la estructura cristalina de la difracción de rayos X (XRD) y los datos de composición elemental de la espectroscopía de fluorescencia de rayos X (XRF), se logra la caracterización de la sustancia en todas las dimensiones.
6. La identificación de una o más fases cristalinas en muestras desconocidas se puede llevar a cabo simultáneamente, y se pueden analizar 40 elementos al mismo tiempo.
7. Utilizando múltiples colimadores y un sistema de rendija solar, cuenta con tecnología de propiedad intelectual patentada.
8. Se lleva a cabo el análisis de la estructura cristalina (análisis de la estructura de Rietveld), incluidos los parámetros básicos, el método del coeficiente empírico, etc.
9. En condiciones no convencionales (como altas y bajas temperaturas), la estructura cristalina puede cambiar, y se pueden acomodar múltiples plataformas de muestra.

10. Análisis de muestras de película delgada, incluida la fase cristalina de la película, el grosor de las películas multicapa, la rugosidad de la superficie y la densidad de carga.
11. Análisis de muestras de microárea, textura de material metálico y análisis de tensión.

Parámetro técnico