O instrumento AL-Y3500xrdf é um dispositivo analítico de alta qualidade que integra a tecnologia de difração de raios-X (XRD) e a tecnologia de espectroscopia de raios-X (EDS). É usado principalmente para a análise da composição elementar e caracterização estrutural de materiais. Através de uma única medição, pode obter simultaneamente informações-chave, como a composição elementar, estrutura cristalina, composição de fase e tamanho de grão do material. É amplamente aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia, física, química, biologia, semicondutores, caracterização de catalisadores, análise de matrizes metálicas e nanotecnologia.

Características:

1.Integração eficiente: Uma única medição pode obter simultaneamente dados de difração e espectroscopia, eliminando o processo demorado e propenso a erros das medições tradicionais passo a passo.
2. Alta sensibilidade e precisão: Utilizando detectores e algoritmos avançados, o limite de detecção é tão baixo quanto o nível de ppm, e a precisão da resolução estrutural atinge o nível atômico.
3. Expansão multifuncional: Vários acessórios funcionais atendem às necessidades de diferentes propósitos de teste. Eles suportam várias formas de amostra (pó, bloco, filme, etc.), são compatíveis com ambientes especiais, como alta temperatura, baixa temperatura e alta pressão, e são equipados com um sistema de controle de gerador de raios-X de alta estabilidade para obter uma precisão de medição repetida mais estável.
4. Integração de hardware: Compartilhamento da fonte de raios-X, plataforma de amostra e sistema de controle para garantir a sincronização dos caminhos ópticos e a correspondência de sinais das duas tecnologias.
5. Fusão de dados: Através de software dedicado, os padrões de difração e os dados espectrais são analisados em conjunto. Ao integrar as informações da estrutura cristalina da difração de raios-X (XRD) e os dados da composição elementar da espectroscopia de fluorescência de raios-X (XRF), a caracterização dimensional completa da substância é alcançada.
6. A identificação de uma ou mais fases cristalinas em amostras desconhecidas pode ser realizada simultaneamente, e 40 elementos podem ser analisados ao mesmo tempo.
7. Utilizando múltiplos colimadores e sistema de fenda solar, possui tecnologia de propriedade intelectual proprietária.
8. A análise da estrutura cristalina (análise da estrutura de Rietveld) é realizada, incluindo parâmetros básicos, método do coeficiente empírico, etc.
9. Em condições não convencionais (como altas e baixas temperaturas), a estrutura cristalina pode mudar, e múltiplas plataformas de amostra podem ser acomodadas.

10. Análise de amostras de filmes finos, incluindo a fase cristalina do filme, a espessura de filmes multicamadas, rugosidade da superfície e densidade de carga.
11. Análise de amostras de micro-área, textura de material metálico e análise de tensão.

Parâmetro Técnico