เครื่องมือ AL-Y3500xrdf เป็นอุปกรณ์วิเคราะห์ระดับสูงที่รวมเทคโนโลยีการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (XRD) และเทคโนโลยีสเปกโตรสโกปีรังสีเอกซ์ (EDS) เข้าด้วยกัน โดยส่วนใหญ่ใช้สำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบของธาตุและการจำแนกโครงสร้างของวัสดุ ด้วยการวัดเพียงครั้งเดียว สามารถรับข้อมูลสำคัญพร้อมกัน เช่น องค์ประกอบของธาตุ โครงสร้างผลึก องค์ประกอบของเฟส และขนาดเกรนของวัสดุ ซึ่งมีการใช้งานอย่างแพร่หลายในสาขาต่างๆ เช่น วิทยาศาสตร์วัสดุ ธรณีวิทยา ฟิสิกส์ เคมี ชีววิทยา เซมิคอนดักเตอร์ การจำแนกตัวเร่งปฏิกิริยา การวิเคราะห์เมทริกซ์โลหะ และนาโนเทคโนโลยี

คุณสมบัติ:

1.การบูรณาการที่มีประสิทธิภาพ: การวัดเพียงครั้งเดียวสามารถรับข้อมูลการเลี้ยวเบนและสเปกโตรสโกปีพร้อมกันได้ ซึ่งช่วยลดกระบวนการวัดแบบทีละขั้นตอนแบบดั้งเดิมที่ใช้เวลานานและมีข้อผิดพลาด
2. ความไวและความแม่นยำสูง: การใช้เครื่องตรวจจับและอัลกอริทึมขั้นสูง ขีดจำกัดการตรวจจับต่ำถึงระดับ ppm และความแม่นยำในการแก้ปัญหาโครงสร้างถึงระดับอะตอม
3. การขยายฟังก์ชันการทำงานหลายอย่าง: อุปกรณ์เสริมฟังก์ชันต่างๆ ตอบสนองความต้องการในการทดสอบที่แตกต่างกัน รองรับรูปแบบตัวอย่างต่างๆ (ผง บล็อก ฟิล์ม ฯลฯ) เข้ากันได้กับสภาพแวดล้อมพิเศษ เช่น อุณหภูมิสูง อุณหภูมิต่ำ และความดันสูง และติดตั้งระบบควบคุมเครื่องกำเนิดรังสีเอกซ์ที่มีเสถียรภาพสูงเพื่อให้ได้ความแม่นยำในการวัดซ้ำที่เสถียรยิ่งขึ้น
4. การรวมฮาร์ดแวร์: การใช้แหล่งกำเนิดรังสีเอกซ์ แท่นวางตัวอย่าง และระบบควบคุมร่วมกัน เพื่อให้แน่ใจว่าเส้นทางแสงและการจับคู่สัญญาณของสองเทคโนโลยีมีความสอดคล้องกัน
5. การหลอมรวมข้อมูล: ผ่านซอฟต์แวร์เฉพาะ รูปแบบการเลี้ยวเบนและข้อมูลสเปกตรัมจะถูกวิเคราะห์ร่วมกัน ด้วยการรวมข้อมูลโครงสร้างผลึกจากการเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์ (XRD) และข้อมูลองค์ประกอบของธาตุจากสเปกโตรสโกปีฟลูออเรสเซนซ์รังสีเอกซ์ (XRF) ทำให้เกิดการจำแนกคุณลักษณะของสารในทุกมิติ
6. สามารถระบุเฟสผลึกหนึ่งเฟสขึ้นไปในตัวอย่างที่ไม่รู้จักได้พร้อมกัน และสามารถวิเคราะห์ธาตุได้ 40 ธาตุในเวลาเดียวกัน
7. การใช้คอลลิเมเตอร์หลายตัวและระบบสลิทพลังงานแสงอาทิตย์ มีเทคโนโลยีทรัพย์สินทางปัญญาที่เป็นกรรมสิทธิ์
8. ดำเนินการวิเคราะห์โครงสร้างผลึก (การวิเคราะห์โครงสร้าง Rietveld) รวมถึงพารามิเตอร์พื้นฐาน วิธีสัมประสิทธิ์เชิงประจักษ์ ฯลฯ
9. ภายใต้สภาวะที่ไม่เป็นไปตามปกติ (เช่น อุณหภูมิสูงและต่ำ) โครงสร้างผลึกอาจเปลี่ยนแปลงได้ และสามารถรองรับแพลตฟอร์มตัวอย่างได้หลายแบบ

10. การวิเคราะห์ตัวอย่างฟิล์มบาง รวมถึงเฟสผลึกของฟิล์ม ความหนาของฟิล์มหลายชั้น ความขรุขระของพื้นผิว และความหนาแน่นของประจุ
11. การวิเคราะห์ตัวอย่างพื้นที่ขนาดเล็ก เนื้อโลหะ และการวิเคราะห์ความเครียด

พารามิเตอร์ทางเทคนิค