Прибор AL-Y3500xrdf - это высококлассное аналитическое устройство, объединяющее технологию рентгеновской дифракции (XRD) и технологию рентгеновской спектроскопии (EDS). Он в основном используется для анализа элементного состава и структурной характеристики материалов. С помощью одного измерения можно одновременно получить ключевую информацию, такую как элементный состав, кристаллическая структура, фазовый состав и размер зерен материала. Широко применяется в таких областях, как материаловедение, геология, физика, химия, биология, полупроводники, характеристика катализаторов, анализ металлической матрицы и нанотехнологии.

Особенности:

1.Эффективная интеграция: одно измерение позволяет одновременно получать данные дифракции и спектроскопии, исключая трудоемкий и подверженный ошибкам процесс традиционных поэтапных измерений.
2. Высокая чувствительность и точность: использование передовых детекторов и алгоритмов, предел обнаружения составляет всего ppm, а точность структурного разрешения достигает атомного уровня.
3. Многофункциональное расширение: различные функциональные аксессуары отвечают потребностям различных целей тестирования. Они поддерживают различные формы образцов (порошок, блок, пленка и т. д.), совместимы со специальными условиями, такими как высокая температура, низкая температура и высокое давление, и оснащены высокостабильной системой управления рентгеновским генератором для достижения более стабильной точности повторных измерений.
4. Аппаратная интеграция: совместное использование рентгеновского источника, предметного столика и системы управления для обеспечения синхронизации оптических путей и согласования сигналов двух технологий.
5. Слияние данных: с помощью специального программного обеспечения совместно анализируются дифракционные картины и спектральные данные. Путем интеграции информации о кристаллической структуре из рентгеновской дифракции (XRD) и данных об элементном составе из рентгенофлуоресцентной спектроскопии (XRF) достигается полноразмерная характеристика вещества.
6. Одновременная идентификация одной или нескольких кристаллических фаз в неизвестных образцах, а также одновременный анализ 40 элементов.
7. Использование нескольких коллиматоров и системы солнечных щелей, имеет запатентованную технологию интеллектуальной собственности.
8. Проводится анализ кристаллической структуры (анализ структуры Ритвельда), включая основные параметры, метод эмпирических коэффициентов и т. д.
9. В нетрадиционных условиях (например, при высоких и низких температурах) кристаллическая структура может изменяться, и могут быть размещены несколько платформ для образцов.

10. Анализ тонкопленочных образцов, включая кристаллическую фазу пленки, толщину многослойных пленок, шероховатость поверхности и плотность заряда.
11. Анализ микрообластей образцов, текстуры металлического материала и анализ напряжений.

Технические параметры