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Instrumento de medición de morfología de superficie Nanómetro Micrómetro Topografía Dispositivo de medición

Certificación
China DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD certificaciones
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Instrumento de medición de morfología de superficie Nanómetro Micrómetro Topografía Dispositivo de medición

Surface Morphology Measuring Instrument Nanometer Micrometer Topography Measurement Device
Surface Morphology Measuring Instrument Nanometer Micrometer Topography Measurement Device

Ampliación de imagen :  Instrumento de medición de morfología de superficie Nanómetro Micrómetro Topografía Dispositivo de medición

Datos del producto:
Place of Origin: China
Nombre de la marca: Lonroy
Certificación: ISO ASTM CE
Model Number: LR-A086
Pago y Envío Términos:
Minimum Order Quantity: 1
Precio: Negotaible
Detalles de empaquetado: paquete de madera
Delivery Time: 5-8 work days
Condiciones de pago: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Supply Ability: 200

Instrumento de medición de morfología de superficie Nanómetro Micrómetro Topografía Dispositivo de medición

descripción
Maximum Measuring Speed: 2 mm/s Marble Dimensions: 500 mm × 800 mm
Z1 Linear Accuracy: ≤±(0.5 +|0.02H|) μm Warranty: 1 Year
X-axis Driving Mode: Electric Y-axis Driving Mode: Electric

Instrumento de medición de morfología de superficie Nanómetro Micrómetro Topografía Dispositivo de medición

Descripción

El instrumento de medición de topografía de superficie es un dispositivo de medición diseñado específicamente para el análisis microscópico de morfología de piezas de alta precisión.con capacidades de medición de alta precisión y excelente estabilidad.

En el campo de la fabricación de precisión, el método de medición tradicional de una sola dimensión ya no es suficiente para satisfacer los estrictos requisitos de calidad de las industrias modernas para piezas.Aunque la detección de tamaño convencional puede reflejar las tolerancias geométricas de las piezas, es difícil captar la influencia clave de la micro-topografía de la superficie en el rendimiento de las piezas.

El instrumento de medición topográfica rompe las limitaciones de los métodos de medición tradicionales y está diseñado específicamente para el análisis microscópico de la morfología de piezas de alta precisión.Adopta tecnología avanzada de sensores de contacto para medir con precisión las características de la superficie que van desde nanómetros hasta micrómetros.


Parámetros técnicos

Rango de medición

Eje X

120 a 220 mm

 

Resolución del eje X

1.2 nm

 

Eje Z

Se aplicarán las siguientes medidas:

Sensor de perfil

Rango de medición en el eje Z1

de 30 a 60 mm

 

Resolución Z1

1.2 nm

Precisión del perfil

Z1 Precisión lineal

≤ ± 0,5 + 0,02 H de masa) μm

 

Arco circular

±(1 + R/12) μm

 

Arco circular Pt

≤ 0,3 μm

 

Ángulo

± 1′

 

La rectitud

0.3 μm/100 mm (longitud de onda de corte 0,8)

Velocidad de conducción

Modo de conducción en el eje X

Eléctrico

 

Modo de conducción en el eje Y

Eléctrico

Velocidad máxima de medición

 

2 mm/s

Las dimensiones del mármol

 

500 mm × 800 mm

Cuadro de trabajo El material

 

Marmol natural


Contacto
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Persona de Contacto: Ms. Kaitlyn Wang

Teléfono: 19376687282

Fax: 86-769-83078748

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