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Instrument de mesure de la morphologie de surface Nanomètre Micromètre Dispositif de mesure de la topographie

Certificat
Chine DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD certifications
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Instrument de mesure de la morphologie de surface Nanomètre Micromètre Dispositif de mesure de la topographie

Surface Morphology Measuring Instrument Nanometer Micrometer Topography Measurement Device
Surface Morphology Measuring Instrument Nanometer Micrometer Topography Measurement Device

Image Grand :  Instrument de mesure de la morphologie de surface Nanomètre Micromètre Dispositif de mesure de la topographie

Détails sur le produit:
Place of Origin: China
Nom de marque: Lonroy
Certification: ISO ASTM CE
Model Number: LR-A086
Conditions de paiement et expédition:
Minimum Order Quantity: 1
Prix: Negotaible
Détails d'emballage: emballage en bois
Delivery Time: 5-8 work days
Conditions de paiement: L / C, D / A, D / P, T / T, Western Union
Supply Ability: 200

Instrument de mesure de la morphologie de surface Nanomètre Micromètre Dispositif de mesure de la topographie

description de
Maximum Measuring Speed: 2 mm/s Marble Dimensions: 500 mm × 800 mm
Z1 Linear Accuracy: ≤±(0.5 +|0.02H|) μm Warranty: 1 Year
X-axis Driving Mode: Electric Y-axis Driving Mode: Electric

Instrument de mesure de la morphologie de surface Nanomètre Micromètre Dispositif de mesure de la topographie

Description

L'instrument de mesure de la topographie de surface est un dispositif de mesure spécialement conçu pour l'analyse morphologique microscopique de pièces de haute précision, offrant des capacités de mesure de haute précision et une excellente stabilité.

Dans le domaine de la fabrication de précision, la méthode de mesure traditionnelle à une seule dimension ne suffit plus pour répondre aux exigences de qualité rigoureuses des industries modernes pour les pièces. Bien que la détection de taille conventionnelle puisse refléter les tolérances géométriques des pièces, il est difficile de saisir l'influence clé de la micro-topographie de surface sur les performances des pièces.

L'instrument de mesure de la topographie rompt les limites des méthodes de mesure traditionnelles et est spécialement conçu pour l'analyse morphologique microscopique des pièces de haute précision. Il adopte une technologie de capteur de contact avancée pour mesurer avec précision les caractéristiques de surface allant du nanomètre au micromètre.


Paramètres techniques

Plage de mesure

Axe X

120-220 mm

 

Résolution de l'axe X

1,2 nm

 

Axe Z

420 mm, 620 mm (optionnel)

Capteur de profil

Plage de mesure de l'axe Z1

30-60 mm

 

Résolution Z1

1,2 nm

Précision du profil

Précision linéaire Z1

≤±(0,5 +|0,02H|) μm

 

Arc circulaire

±(1 + R/12) μm

 

Pt arc circulaire

≤0,3 μm

 

Angle

±1′

 

Rectitude

0,3 μm/100 mm (longueur d'onde de coupure 0,8)

Vitesse d'entraînement

Mode d'entraînement de l'axe X

Électrique

 

Mode d'entraînement de l'axe Y

Électrique

Vitesse de mesure maximale

 

2 mm/s

Dimensions du marbre

 

500 mm × 800 mm

Comptoir Matériau

 

Marbre naturel


Coordonnées
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Personne à contacter: Ms. Kaitlyn Wang

Téléphone: 19376687282

Télécopieur: 86-769-83078748

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