|
Szczegóły Produktu:
|
| Typ: | Maszyna testowa | Klasa dokładności: | Wysoka dokładność |
|---|---|---|---|
| Dokładność: | / | Aplikacja: | Testowanie automatyczne |
| Indywidualne wsparcie: | OEM, ODM, OBM | Moc: | -- |
| Klasa ochrony: | IP56 | Woltaż: | 220 V |
| Gwarancja: | 1 rok | Zmierz rozmiar plamki: | 1-5 mm |
| Zakres analizy spektralnej: | 380nm-1100nm | Absolutna precyzja grubości folii: | pomiędzy 0,2% lub 2 nm, w zależności od tego, która wartość jest większa |
| Stabilność grubości folii: | lepsza niż 0,05 nm | ||
| Podkreślić: | kompaktowy miernik grubości folii odblaskowej,urządzenia do pomiaru stałych optycznych o wysokiej precyzji,maszyna do badań laboratoryjnych z gwarancją |
||
Kompaktowy, wysokiej precyzji, odblaskowy folie grubości, miernik, stałe optyczne, urządzenia pomiarowe
I. Przegląd
W sprawieLR-A429 Kompaktowy wysokoprecyzyjny miernik grubości folii odblaskowej wykorzystuje zasadę zakłóceń optycznych.Analiza wzoru interferencji powstałego przez odblaskowane światło z powierzchni folii i odblaskowane światło z interfejsu między folia i podłożem, może szybko i precyzyjnie mierzyć grubość folii, stałe optyczne i inne informacje.
1.rozpuszczalnik do pomiaru folii optycznej;
2.pomiar bezkontaktowy, niezniszczający;
3.Podstawowy algorytm obsługuje analizę cienkich filmów do grubich filmów oraz filmów jednowarstwowych do filmów wielowarstwowych.
4.Dokładność pomiaru powtarzalności grubości folii: 0,02 nm
5.Liczba i położenie punktów pomiarowych można edytować w zależności od potrzeb w Recepcie.
II. Cechy produktu
1.Wykorzystując wysokiej intensywności źródło światła halogenowego, widmo obejmuje zakres od ultrafioletu do bliskiej podczerwieni.
![]()
2.Przyjmuje on konstrukcję o bardzo zintegrowanej optyce, mechaniki i elektroniki, o niewielkich rozmiarach i łatwej obsłudze.
![]()
3.W oparciu o zasadę zakłóceń odblasku światła na interfejsie i dolnym interfejsie warstwy cienkich folii, łatwo jest analizować od jednej warstwy do wielu warstw.
![]()
4.wyposażone w potężne algorytmy analizy rdzenia: FFT jest stosowany do analizy grubich folii, a metoda analizy dopasowania krzywej jest stosowana do analizy informacji o parametrach fizycznych cienkich folii;
![]()
III. Zastosowania produktu
Jest on szeroko stosowany w pomiarach różnego rodzaju folii ochronnych, folii organicznych, folii nieorganicznych, folii metalowych, powłok itp.
![]()
![]()
ICompact Wysokiej precyzji odblaskowa grubość folii miernik stałych optycznych urządzenia pomiarowe Producent Cena
Specyfikacja techniczna
|
Podstawowa funkcja |
Uzyskanie wartości grubości folii i widma R |
|
Zakres analizy widmowej |
380 nm-1100 nm |
|
Mierzyć rozmiar miejsca |
1-5 mm |
|
Dokładność pomiaru powtarzalności grubości folii: |
00,02 nm (100 nm próbki SiO2 na bazie krzemu, 100 powtórnych pomiarów) |
|
Absolutna precyzja grubości folii |
0,2% lub 2 nm, zależnie od tego, która z tych wartości jest większa |
|
Stabilność grubości folii |
lepsze niż 0,05 nm |
|
Zakres pomiaru grubości folii |
15nm~70um |
|
Etap próbkowania |
Automatyczna mobilna platforma R-Theta, średnica etapu próbkowania nie mniejsza niż 200 mm |
|
* Metoda badania |
Automatyczne testowanie w dowolnych wielu punktach w celu wygenerowania mapy grubości (1. okrągły/kwadrat, 2.Radialny kształt, 3. |
|
Prędkość badawcza (włączając próg próżniowy) |
5 punktów w 5 sekund, 25 punktów w 14 sekund, 57 punktów w 30 sekund |
|
Źródło światła |
Standardowe źródło światła halogenowego (z żywotnością 10000 godzin) |
|
Symulacja odbicia |
Może modelować różne materiały powlekania i symulować krzywą odblaskowości systemu folii powlekania |
|
Oprogramowanie analityczne |
Zapewnienie modelowania, symulacji, analizy, analizy i analizy danych.i możliwości analizy wielowarstwowych izotropowych cienkich folii optycznych; |
|
Specyfikacje tabeli badawczej próbek |
|
|
Wymierne rozmiary płytek |
2 cala&4 cala&6 cala&8 cala&12 cala |
|
Metoda mocowania płytki |
adsorpcja próżniowa |
|
Zakres ruchu sceny |
nie mniej niż 200 mm * 200 mm |
|
Ręcznie umieścić próbkę, automatycznie mapować i mierzyć, a liczba i położenie punktów pomiarowych można edytować w zależności od potrzeb w Recepcie |
|
![]()
![]()
Osoba kontaktowa: Kaitlyn Wang
Tel: 19376687282
Faks: 86-769-83078748