Compact Épaisseur de film réfléchissant haute précision Mètre constantes optiques Équipement de mesure Machine d'essai de laboratoire

Équipement de mesure compact d'épaisseur de film réfléchissant de haute précision Mètre de constantes optiques Prix du fabricant

I. Résumé

LeLR-A429 Compact High-Precision Reflective Film Thickness Meter utilise le principe de l'interférence optique.En analysant le schéma d'interférence formé par la lumière réfléchie de la surface du film et la lumière réfléchie de l'interface entre le film et le substrat, il peut mesurer rapidement et avec précision l'épaisseur du film, les constantes optiques et d'autres informations.

1.une résolution de mesure de film optique;

2.Mesure sans contact et non destructive;

3.L'algorithme de base prend en charge l'analyse des films minces en films épais et des films à couche unique en films multicouches.

4.Précision de mesure de la répétabilité de l'épaisseur du film: 0,02 nm

5.Mesure entièrement automatique: le nombre et la position des points de mesure peuvent être modifiés selon les besoins dans la recette.

II. Caractéristiques du produit

1.En utilisant une source lumineuse halogène de haute intensité, le spectre couvre la gamme allant de l'ultraviolet à l'infrarouge proche.

2.Il adopte une conception hautement intégrée de l'optique, de la mécanique et de l'électronique, avec une petite taille et un fonctionnement facile.

3.Sur la base du principe d'interférence de la lumière réfléchie à l'interface et à l'interface inférieure de la couche de film mince, il est facile d'analyser d'une seule couche à plusieurs couches.

4.Équipé d'algorithmes d'analyse de base puissants: la FFT est utilisée pour analyser les films épais et la méthode d'analyse de l'ajustement des courbes est utilisée pour analyser les paramètres physiques des films minces;

III. Applications du produit

Il est largement appliqué dans la mesure de divers types de films de protection, de films organiques, de films inorganiques, de films métalliques, de revêtements, etc.

ICompact Équipement de mesure de l'épaisseur de film réfléchissant de haute précision

Spécification technique