| تایپ کنید: | دستگاه تست | کلاس دقت: | دقت بالا |
|---|---|---|---|
| دقت: | / | برنامه: | تست خودکار |
| پشتیبانی سفارشی: | OEM، ODM، OBM | قدرت: | - |
| کلاس حفاظت: | IP56 | ولتاژ: | 220 ولت |
| گارانتی: | 1 سال | اندازه نقطه را اندازه گیری کنید: | 1-5 میلی متر |
| محدوده تحلیل طیفی: | 380nm-1100nm | دقت مطلق ضخامت فیلم: | بین 0.2٪ یا 2 نانومتر، هر کدام بیشتر باشد |
| پایداری ضخامت فیلم: | بهتر از 0.05 نانومتر | ||
| برجسته کردن: | ضخامت سنج فیلم بازتابنده جمع و جور,تجهیزات اندازه گیری ثابت های نوری با دقت بالا,دستگاه تست آزمایشگاهی با گارانتی |
||
ضخامت سنج ضخامت فیلم بازتابی فشرده فشرده و با دقت بالا ثابت نوری تجهیزات اندازه گیری قیمت سازنده
I. نمای کلی
اینضخامت سنج انعکاسی فیلم فشرده با دقت بالا LR-A429 از اصل تداخل نوری استفاده می کند. با تجزیه و تحلیل الگوی تداخل ایجاد شده توسط نور منعکس شده از سطح فیلم و نور منعکس شده از سطح مشترک بین فیلم و بستر، می تواند ضخامت فیلم، ثابت های نوری و سایر اطلاعات را به سرعت و با دقت اندازه گیری کند.
1.راه حل اندازه گیری فیلم نوری؛
2.اندازه گیری غیر تماسی و غیر مخرب؛
3.الگوریتم هسته از تجزیه و تحلیل لایه های نازک به لایه های ضخیم و فیلم های تک لایه به فیلم های چند لایه پشتیبانی می کند.
4.دقت اندازه گیری تکرارپذیری ضخامت فیلم: 0.02 نانومتر
5.اندازه گیری تمام اتوماتیک تعداد و موقعیت نقاط اندازه گیری را می توان در صورت نیاز در دستور غذا ویرایش کرد.
II. ویژگی های محصول
1.با استفاده از یک منبع نور هالوژن با شدت بالا، این طیف محدوده ای از ماوراء بنفش تا مادون قرمز نزدیک را پوشش می دهد.
![]()
2.این یک طراحی بسیار یکپارچه از اپتیک، مکانیک و الکترونیک را اتخاذ می کند که دارای اندازه کوچک و عملکرد آسان است.
![]()
3.بر اساس اصل تداخل نور منعکس شده در سطح مشترک و سطح مشترک پایین لایه لایه نازک، تجزیه و تحلیل از یک لایه به چندین لایه آسان است.
![]()
4.مجهز به الگوریتم های قدرتمند تجزیه و تحلیل هسته: FFT برای تجزیه و تحلیل لایه های ضخیم استفاده می شود، و روش تجزیه و تحلیل برازش منحنی برای تجزیه و تحلیل اطلاعات پارامترهای فیزیکی لایه های نازک استفاده می شود.
![]()
III. برنامه های کاربردی محصول
این به طور گسترده ای در اندازه گیری انواع مختلف فیلم های محافظ، فیلم های آلی، فیلم های معدنی، فیلم های فلزی، پوشش ها و غیره استفاده می شود.
![]()
![]()
ICompact با دقت بالا ضخامت سنج فیلم بازتابی ثابت نوری تجهیزات اندازه گیری قیمت سازنده
مشخصات فنی
|
عملکرد پایه |
مقادیر ضخامت فیلم و طیف R را بدست آورید |
|
محدوده تحلیل طیفی |
380nm-1100nm |
|
اندازه نقطه را اندازه بگیرید |
1-5 میلی متر |
|
دقت اندازه گیری تکرارپذیری ضخامت فیلم: |
0.02 نانومتر (نمونه SiO2 مبتنی بر سیلیکون 100 نانومتر، 100 اندازه گیری مکرر) |
|
دقت مطلق ضخامت فیلم |
بین 0.2٪ یا 2nm، هر کدام بیشتر باشد |
|
ثبات ضخامت فیلم |
بهتر از 0.05 نانومتر |
|
محدوده اندازه گیری ضخامت فیلم |
15nm~70um |
|
مرحله نمونه |
پلت فرم موبایل R-Theta خودکار، قطر مرحله نمونه کمتر از 200 میلی متر نیست |
|
* روش تست |
آزمایش خودکار در هر نقطه چندگانه برای ایجاد نقشه نقشه برداری ضخامت (1. دایره/مربع، 2. شکل شعاعی، 3. مرکز یا |
|
سرعت تست (از جمله چاک خلاء) |
5 امتیاز در 5 ثانیه، 25 امتیاز در 14 ثانیه، 57 امتیاز در 30 ثانیه |
|
منبع نور |
منبع نور استاندارد هالوژن (با طول عمر 10000 ساعت) |
|
شبیه سازی بازتاب |
این می تواند مواد پوششی مختلف را مدل سازی کند و منحنی بازتاب سیستم فیلم پوشش را شبیه سازی کند |
|
نرم افزار تجزیه و تحلیل |
تا صدها پایگاه داده ثابت مواد نوری، و از کتابخانه های مواد نوری تعریف شده توسط کاربر پشتیبانی می کند. ارائه قابلیت های مدل سازی، شبیه سازی و تجزیه و تحلیل برای لایه های نازک نوری همسانگرد چند لایه؛ |
|
نمونه مشخصات جدول تست |
|
|
اندازه ویفر قابل اندازه گیری |
2 اینچ و 4 اینچ و 6 اینچ و 8 اینچ و 12 اینچ |
|
روش تثبیت ویفر |
جذب خلاء |
|
محدوده متحرک صحنه |
نه کمتر از 200 میلی متر * 200 میلی متر |
|
نمونه را به صورت دستی قرار دهید، به طور خودکار نقشه برداری و اندازه گیری کنید، و تعداد و موقعیت نقاط اندازه گیری را می توان در صورت نیاز در دستور غذا ویرایش کرد. |
|
![]()
![]()
تماس با شخص: Kaitlyn Wang
تلفن: 19376687282
فکس: 86-769-83078748