|
Detail produk:
|
| Jenis: | Mesin pengujian | Kelas Akurasi: | Akurasi tinggi |
|---|---|---|---|
| Ketepatan: | / | Aplikasi: | Pengujian Otomatis |
| Dukungan yang disesuaikan: | OEM, ODM, OBM | Kekuatan: | - |
| Kelas Perlindungan: | IP56 | Voltase: | 220 v |
| Jaminan: | 1 Tahun | Ukur ukuran titik: | 1-5mm |
| Rentang analisis spektral: | 380nm-1100nm | Ketepatan mutlak pada ketebalan film: | antara 0,2% atau 2nm, mana saja yang lebih besar |
| Stabilitas ketebalan film: | lebih baik dari 0,05nm | ||
| Menyoroti: | Compact reflective film thickness meter,peralatan pengukuran konstanta optik presisi tinggi,mesin uji laboratorium dengan garansi |
||
Meteran Ketebalan Film Reflektif Presisi Tinggi Kompak Harga Produsen Peralatan Pengukur Konstanta Optik
I. Ikhtisar
ItuLR-A429 Pengukur Ketebalan Film Reflektif Presisi Tinggi Ringkas menggunakan prinsip interferensi optik. Dengan menganalisis pola interferensi yang dibentuk oleh cahaya pantulan dari permukaan film dan cahaya pantulan dari antarmuka antara film dan substrat, alat ini dapat dengan cepat dan akurat mengukur ketebalan film, konstanta optik, dan informasi lainnya.
1.Solusi pengukuran film optik;
2.Pengukuran non-kontak dan non-destruktif;
3.Algoritma inti mendukung analisis film tipis ke film tebal, dan film lapisan tunggal ke film multilapis.
4.Akurasi pengukuran pengulangan ketebalan film: 0,02 nm
5.Pengukuran sepenuhnya otomatis. Jumlah dan posisi titik ukur dapat diedit sesuai kebutuhan pada Resep.
II. Fitur Produk
1.Memanfaatkan sumber cahaya halogen intensitas tinggi, spektrumnya mencakup rentang dari ultraviolet hingga inframerah dekat.
![]()
2.Ini mengadopsi desain optik, mekanik dan elektronik yang sangat terintegrasi, menampilkan ukuran kecil dan pengoperasian yang mudah.
![]()
3.Berdasarkan prinsip interferensi cahaya yang dipantulkan pada antarmuka dan antarmuka bawah lapisan film tipis, mudah untuk menganalisis dari satu lapisan ke beberapa lapisan.
![]()
4.Dilengkapi dengan algoritma analisis inti yang kuat: FFT digunakan untuk menganalisis film tebal, dan metode analisis pemasangan kurva digunakan untuk menganalisis informasi parameter fisik film tipis;
![]()
AKU AKU AKU. Aplikasi Produk
Hal ini banyak diterapkan dalam pengukuran berbagai jenis film pelindung, film organik, film anorganik, film logam, pelapis, dll.
![]()
![]()
ICompact Presisi Tinggi Film Reflektif Ketebalan Meter Konstanta Optik Alat Ukur Harga Produsen
Spesifikasi Teknis
|
Fungsi dasar |
Dapatkan nilai ketebalan film dan spektrum R |
|
Rentang analisis spektral |
380nm-1100nm |
|
Ukur ukuran titik |
1-5mm |
|
Akurasi pengukuran pengulangan ketebalan film: |
0,02nm (sampel SiO2 berbasis silikon 100nm, 100 pengukuran berulang) |
|
Ketepatan mutlak pada ketebalan film |
antara 0,2% atau 2nm, mana saja yang lebih besar |
|
Stabilitas ketebalan film |
lebih baik dari 0,05nm |
|
Rentang pengukuran ketebalan film |
15nm~70um |
|
Tahap sampel |
Platform seluler R-Theta otomatis, diameter panggung sampel tidak kurang dari 200mm |
|
* Metode pengujian |
Pengujian otomatis di beberapa titik untuk menghasilkan peta pemetaan ketebalan (1. lingkaran/persegi, 2. Bentuk radial, 3. Pusat atau |
|
Kecepatan uji (termasuk chuck vakum) |
5 poin dalam 5 detik, 25 poin dalam 14 detik, 57 poin dalam 30 detik |
|
Sumber cahaya |
Sumber cahaya halogen standar (dengan masa pakai 10.000 jam) |
|
Simulasi reflektifitas |
Ini dapat memodelkan bahan pelapis yang berbeda dan mensimulasikan kurva reflektifitas sistem film pelapis |
|
Perangkat lunak analisis |
hingga ratusan database konstan bahan optik, dan mendukung perpustakaan bahan optik yang ditentukan pengguna; Menyediakan kemampuan pemodelan, simulasi, dan analisis untuk film tipis optik isotropik multi-layer; |
|
Spesifikasi tabel pengujian sampel |
|
|
Ukuran wafer yang dapat diukur |
2 inci&4 inci&6 inci&8 inci&12 inci |
|
Metode fiksasi wafer |
adsorpsi vakum |
|
Rentang panggung yang bergerak |
tidak kurang dari 200mm * 200mm |
|
Menempatkan sampel secara manual, memetakan dan mengukur secara otomatis, dan jumlah serta posisi titik pengukuran dapat diedit sesuai kebutuhan di Resep |
|
![]()
![]()
Kontak Person: Kaitlyn Wang
Tel: 19376687282
Faks: 86-769-83078748