| カスタマイズされたサポート: | OEM、ODM、OBM | 保証: | 1年 |
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| 製品名: | コーティングの厚さゲージ | ||
| ハイライト: | XRF膜厚計分析装置,非破壊合金組成分析装置,コーティング膜厚計 |
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| XRF膜厚計/コーティング膜厚計/非破壊合金組成分析装置 |
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モデル 項目 |
XD-1000 |
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| 製品構成 | A | B | C |
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元素分析 |
Cl(17)-U(92) |
S(16)/Al(13)-U(92) |
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膜厚-元素分析 |
Cl(17)/Li(3)-U(92) |
L(3)-U(92) |
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EFPアルゴリズム |
標準 |
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| 膜厚&元素分析能力 |
同時分析 5つのコーティングと10の元素 |
23のコーティングと24の元素の同時分析 |
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同じものの検出 異なる層の元素 |
標準 |
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ソフトウェア |
ユーザーフレンドリーなソフトウェア、簡単操作、自己診断システム |
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X線管 |
マイクロフォーカスX線管 |
マイクロフォーカス強化 X線管 |
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コリメータ |
φ0.2mm φ0.5mm、（2つのうちの1つ） |
φ0.2mm （φ0.1mmを選択可能） |
標準;φ0.2mm; φ0.5mmφ0.3mmφ0.2mm φ0.1mm*φ0.3mm 選択可能 |
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マイクロフォーカススポット |
スポット拡散性10％（通常の測定距離） |
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測定距離 |
距離補正機能、異なる距離のサンプルを同じテスト条件でテスト可能 0-90mm測定距離 |
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サンプル観察 |
1/2.7"カラーCCD、ズーム機能付き |
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フォーカスモード |
高感度レンズ、手動フォーカス |
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倍率 |
光学38-46倍、デジタル増幅40-200倍 |
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検出器 |
高効率比例カウンター |
標準：Si-PIN半導体検出器（SDDを選択可能） | |
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プラットフォーム移動 |
手動制御 |
自動高精度XYステージ |
手動制御 |
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寸法 |
550mm*760mm*635mm |
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Z移動範囲 |
145mm |
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Xy移動範囲 |
100mm*150mm |
210mm*230mm |
100mm*150mm |
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重量 |
100KG |
120KG |
100KG |
コンタクトパーソン: Kaitlyn Wang
電話番号: 19376687282
ファックス: 86-769-83078748
Japanese
