| カスタマイズされたサポート: | OEM、ODM、OBM | 保証: | 1年 |
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| 製品名: | コーティングの厚さゲージ | ||
| ハイライト: | 保証付きXRFフィルム厚みスペクトロメーター,非破壊性コーティングフィルム厚み計,ICP排放合金組成分析器 |
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| XRF膜厚分析装置/塗膜膜厚計/非破壊合金組成分析装置 |
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モデル アイテム |
XD-1000 |
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| 製品構成 | あ | B | C |
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元素分析 |
Cl(17)-U(92) |
S(16)/Al(13)-U(92) |
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厚さ要素分析 |
Cl(17)/Li(3)-U(92) |
L(3)-U(92) |
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EFPアルゴリズム |
標準 |
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| 厚み・元素分析能力 |
の同時分析 5つのコーティングと10の要素 |
23のコーティングと24の元素の同時分析 |
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同じものの検出 異なるレイヤーの要素 |
標準 |
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ソフトウェア |
使いやすいソフトウェア、簡単操作、自己診断システム |
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X線管 |
マイクロフォーカスX線管 |
マイクロフォーカスの強化 X線管 |
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コリメータ |
φ0.2mm φ0.5mm(2本のうち1本) |
φ0.2mm (φ0.1mm選択可能) |
標準；φ0.2mm； φ0.5mmφ0.3mmφ0.2mm φ0.1mm×φ0.3mm 選択可能 |
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マイクロフォーカススポット |
スポット拡散率 10%(通常測定距離において) |
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測定距離 |
距離補正機能により、異なる距離のサンプルを同じ試験条件で試験することができ、 測定距離0～90mm |
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サンプル観察 |
1/2.7インチカラーCCD、ズーム機能付き |
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フォーカスモード |
高感度レンズ、マニュアルフォーカス |
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倍率 |
光学38～46倍、デジタル増幅40～200倍 |
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検出器 |
高効率比例計数管 |
標準：Si-PIN半導体検出器（SDDはオプション） | |
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プラットフォームの移動 |
手動制御 |
自動高精度XYステージ |
手動制御 |
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寸法 |
550mm×760mm×635mm |
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ズムービングレンジ |
145mm |
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Xy移動範囲 |
100mm*150mm |
210mm*230mm |
100mm*150mm |
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重さ |
100KG |
120KG |
100KG |
コンタクトパーソン: Kaitlyn Wang
電話番号: 19376687282
ファックス: 86-769-83078748
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