|
تفاصيل المنتج:
|
| دعم مخصص: | تصنيع المعدات الأصلية، أوديإم، OBM | ضمان: | 1 سنة |
|---|---|---|---|
| اسم المنتج: | مقياس سماكة الطلاء | ||
| إبراز: | مقياس سمك الفيلم XRF مع ضمان,مقياس سمك الفيلم غير مدمر,تحليل تركيب سبيكة انبعاثات ICP |
||
| طيف ضخامة فيلم XRF/مقياس ضخامة فيلم الطلاء/محلل تكوين سبيكة غير مدمر |
|
النموذج البنود |
XD-1000 |
||
| تكوين المنتج | أ | ب | ج |
|
تحليل العناصر |
Cl ((17)-U ((92) |
S ((16)/Al ((13)-U ((92) |
|
|
تحليل العناصر السميكة |
Cl ((17)/Li ((3)-U ((92) |
L ((3)-U ((92) |
|
|
خوارزمية EFP |
المعيار |
||
| القدرة على تحليل سمك العنصر |
تحليل متزامن 5 طلاءات و 10 عناصر |
تحليل متزامن لـ 23 طلاء و 24 عنصر |
|
|
الكشف عن نفس عنصر في طبقات مختلفة |
المعيار |
||
|
البرمجيات |
برنامج سهل الاستخدام، سهل التشغيل، نظام تشخيص ذاتي |
||
|
أنبوب الأشعة السينية |
أنبوب الأشعة السينية المصغّر |
التركيز الدقيق المحسن أنبوب الأشعة السينية |
|
|
الـ (كوليماتور) |
φ0.2mm φ0.5mm، ((واحد من اثنين) |
φ0.2mm (φ0.1mmيمكن تحديدها) |
القياسية: φ0.2mm φ0.5mmφ0.3mmφ0.2mm φ0.1mm*φ0.3mm يمكن تحديدها |
|
نقطة التركيز الدقيقة |
انتشار بقعة 10% ((في مسافة قياس عادية) |
||
|
قياس المسافة |
وظيفة تصحيح المسافة، يمكن اختبار عينة مسافة مختلفة في نفس حالة الاختبار. مسافة قياس 0-90 ملم |
||
|
مراقبة العينة |
1/2.7 "الوان سي سي دي، مع وظيفة تكبير |
||
|
وضع التركيز |
عدسة عالية الحساسية، تركيز يدوي |
||
|
التكبير |
بصري 38-46x، تضخيم رقمي 40-200 مرة |
||
|
كاشف |
العداد النسبي عالي الكفاءة |
المعيار: جهاز الكشف عن أشباه الموصلات Si-PIN ((SDD يمكن أن يكون اختياري) | |
|
تحريك المنصة |
التحكم اليدوي |
مرحلة XY ذاتية الدقة العالية |
التحكم اليدوي |
|
البعد |
550mm*760mm*635mm |
||
|
المدى المتحرك |
145ملم |
||
|
المدى المتحرك Xy |
100 ملم*150 ملم |
210mm*230mm |
100 ملم*150 ملم |
|
الوزن |
100 كجم |
120 كجم |
100 كجم |
اتصل شخص: Kaitlyn Wang
الهاتف :: 19376687282
الفاكس: 86-769-83078748
Arabic
