Spectromètre d'épaisseur de Film XRF/jauge d'épaisseur de Film de revêtement/analyseur de Composition d'alliage Non destructif émission ICP ICP
description de
Un accompagnement personnalisé:
OEM, ODM, OBM
Garantie:
1 an
Nom du produit:
Mesure d'épaisseur de revêtement
Mettre en évidence:
Spéctromètre d'épaisseur de film XRF avec garantie
,
mesure d'épaisseur de film de revêtement non destructive
,
analyseur de composition d'alliage d'émission ICP
Spectromètre d'épaisseur de Film XRF/jauge d'épaisseur de Film de revêtement/analyseur de Composition d'alliage Non destructif émission ICP ICP
Spectromètre d'épaisseur de film XRF/jauge d'épaisseur de film de revêtement/analyseur de composition d'alliage Non destructif
1. Présentation du produit :
La jauge d'épaisseur spectrale LR-1610D peut analyser la solution de placage tout en analysant l'épaisseur de divers revêtements. Elle est applicable aux très grandes pièces, aux pièces de rainures hétérosexuelles, aux tests multipoints micro-intensifs ou à la détection automatique d'un grand nombre de petites pièces une par une, telles que les cartes de circuits imprimés (PCB), les supports en plomb, les produits sanitaires, etc.
2.Caractéristique
Plate-forme de déplacement automatique programmable automatique, détection automatique et sans surveillance des échantillons ; la détection à haute efficacité de centaines de points d'échantillonnage peut être réalisée avec un programme intelligent. Réalisez une recherche intelligente automatique d'image Al et des fichiers de programme pour faire correspondre automatiquement les positions de test. Il présente des avantages évidents lorsqu’il s’agit de tester de grandes quantités d’échantillons similaires. En ligne Selon les besoins du client, l'inspection en ligne de la ligne de production peut être personnalisée pour fournir une solution globale d'inspection en ligne pour l'Industrie 4.0, améliorer l'efficacité de l'inspection et réaliser une usine intelligente automatique.
Spectromètre d'épaisseur de film XRF/jauge d'épaisseur de film de revêtement/analyseur de composition d'alliage Non destructif
3.caractéristique
1. Haute performance fiable Haute précision et stabilité des tests, réduit les déchets et élimine les temps morts tout en offrant une haute qualité
2. Mise à niveau du processus de fabrication rentable, plus rentable, réduisant considérablement les coûts d'utilisation
3. Technologie de détection avancée Un système de chemin optique vertical hautement intégré, utilisant une technologie avancée d'analyse de spectre et un algorithme de reconnaissance d'image, réalise une détection précise, rapide, intelligente et automatique pour répondre aux besoins des entreprises.
4. Durée de vie plus longue Conception modulaire, axée sur les économies d'énergie et équipée d'un mode veille automatique pour prolonger la durée de vie
5. Algorithme EFP de base L'algorithme EFP avancé est non seulement précis pour les tests multicouches et pratique pour l'étalonnage, mais résout également les problèmes de détection des alliages multicouches, des revêtements répétés des éléments supérieurs et inférieurs et de la couche de pénétration.
6. Dispositif intégré à quatre focales Équipé d'une technologie à quatre focales hautement intégrée, il peut mesurer la hauteur et la hauteur de la rainure avec une profondeur maximale de 90 mm
7. Mesure optique haut-bas La division de la gestion entre les ordinateurs supérieurs et inférieurs permet une mesure rapide, précise, stable et efficace de pièces de très grande taille
8. Forte applicabilité Mesurer avec précision l'épaisseur de divers revêtements métalliques et analyser la solution de placage
Spectromètre d'épaisseur de film XRF/jauge d'épaisseur de film de revêtement/analyseur de composition d'alliage Non destructif
Modèle
Articles
XD-1000
Configuration du produit
UN
B
C
Analyse des éléments
Cl(17)-U(92)
S(16)/Al(13)-U(92)
Analyse des éléments d'épaisseur
Cl(17)/Li(3)-U(92)
L(3)-U(92)
Algorithme EFP
standard
Capacité d'analyse d'épaisseur et d'élément
Analyse simultanée de
5 revêtements et 10 éléments
Analyse simultanée de 23 revêtements et 24 éléments
Détection du même
élément dans différentes couches
standard
Logiciel
Logiciel convivial, opération facile, système d'auto-diagnostic
Tube à rayons X
Tube à rayons X à micro-focalisation
Micro-mise au point améliorée
Tube à rayons X
Collimateur
φ0,2 mm
φ0,5 mm, (un sur deux)
φ0,2 mm
(φ0,1 mmpeut être sélectionné)
Norme ; φ0,2 mm ;
φ0,5 mmφ0,3 mmφ0,2 mm
φ0.1mm*φ0.3mm
Peut être sélectionné
Spot de micro-mise au point
Diffusivité ponctuelle 10 % (à distance de mesure normale)
Mesurer la distance
Fonction de correction de distance, différents échantillons de distance peuvent être testés dans les mêmes conditions de test,
Distance de mesure 0-90 mm
Exemple d'observation
CCD couleur 1/2,7", avec fonction zoom
Mode de mise au point
Objectif haute sensibilité, mise au point manuelle
Grossissement
Optique 38-46x, amplification numérique 40-200 fois
Détecteur
Compteur proportionnel à haut rendement
Standard : détecteur de semi-conducteur Si-PIN (SDD peut être facultatif)
Votre message doit contenir entre 20 et 3 000 caractères!
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