Spéctromètre d'épaisseur de film XRF/mesure d'épaisseur de film de revêtement/analyseur de composition d'alliage non destructeur
description de
Un accompagnement personnalisé:
OEM, ODM, OBM
Garantie:
1 an
Nom du produit:
Mesure d'épaisseur de revêtement
Mettre en évidence:
Analyseur de spectromètre d'épaisseur de film XRF
,
analyseur de composition non destructeur d'alliages
,
mesureur d'épaisseur de film de revêtement
Spectromètre d'épaisseur de film XRF / Jauge d'épaisseur de revêtement / Analyseur de composition d'alliage non destructif
1. Présentation du produit :
Le spectromètre d'épaisseur LR-1610D peut analyser la solution de placage tout en analysant l'épaisseur de divers revêtements. Il est applicable aux pièces de très grande taille, aux pièces à rainures hétérosexuelles, aux tests multipoints micro-intensifs ou à la détection automatique d'un grand nombre de petites pièces une par une, telles que les cartes de circuits imprimés (PCB), les supports de plomb, les produits sanitaires, etc.
2. Fonctionnalité
Plateforme de déplacement automatique programmable, détection automatique d'échantillons sans surveillance ; une détection à haute efficacité de centaines de points d'échantillons peut être réalisée avec un seul programme. Réalisation intelligente de la recherche intelligente d'images Al automatique et de fichiers de programme pour faire correspondre automatiquement les positions de test. Il présente des avantages évidents face aux tests de grandes quantités d'échantillons similaires. En ligne : selon les besoins des clients, une inspection en ligne de la chaîne de production peut être personnalisée pour fournir une solution globale d'inspection en ligne pour l'industrie 4.0, améliorer l'efficacité de l'inspection et réaliser une usine intelligente automatique.
Spectromètre d'épaisseur de film XRF / Jauge d'épaisseur de revêtement / Analyseur de composition d'alliage non destructif
3. Caractéristique
1. Fiable et performant : précision et stabilité des tests élevées, réduction des déchets et élimination des temps morts tout en offrant une qualité élevée
2. Rentable : mise à niveau du processus de fabrication, plus rentable, ce qui permet d'économiser considérablement les coûts d'utilisation
3. Technologie de détection avancée : système de trajet optique vertical hautement intégré, utilisant une technologie d'analyse spectrale avancée et un algorithme de reconnaissance d'image, réalise une détection précise, rapide, intelligente et automatique pour répondre aux besoins des entreprises
4. Longue durée de vie : conception modulaire, axée sur les économies d'énergie et équipée d'un mode veille automatique pour prolonger la durée de vie
5. Algorithme EFP de base : l'algorithme EFP avancé est non seulement précis pour les tests multicouches et pratique pour l'étalonnage, mais résout également les problèmes de détection des alliages multicouches, du revêtement répété des éléments supérieurs et inférieurs et de la couche de pénétration
6. Dispositif intégré à quatre foyers : équipé d'une technologie à quatre foyers hautement intégrée, il peut mesurer la hauteur et la hauteur de la rainure avec une profondeur maximale de 90 mm
7. Mesure optique haut-bas : la division de la gestion entre les ordinateurs supérieur et inférieur permet une mesure rapide, précise, stable et efficace des pièces de très grande taille
8. Forte applicabilité : mesure avec précision l'épaisseur de divers revêtements métalliques et analyse la solution de placage
Spectromètre d'épaisseur de film XRF / Jauge d'épaisseur de revêtement / Analyseur de composition d'alliage non destructif
Modèle
Articles
XD-1000
Configuration du produit
A
B
C
Analyse des éléments
Cl(17)-U(92)
S(16)/Al(13)-U(92)
Épaisseur-Analyse des éléments
Cl(17)/Li(3)-U(92)
L(3)-U(92)
Algorithme EFP
standard
Capacité d'analyse de l'épaisseur et des éléments
Analyse simultanée de
5 revêtements et 10 éléments
Analyse simultanée de 23 revêtements et 24 éléments
Détection de la même
élément dans différentes couches
standard
Logiciel
Logiciel convivial, facile à utiliser, système d'autodiagnostic
Tube à rayons X
Tube à rayons X à micro-focalisation
Micro-focalisation améliorée
Tube à rayons X
Collimateur
φ0,2 mm
φ0,5 mm, (un des deux)
φ0,2 mm
(φ0,1 mm peut être sélectionné)
Standard ; φ0,2 mm ;
φ0,5 mm φ0,3 mm φ0,2 mm
φ0,1 mm*φ0,3 mm
Peut être sélectionné
Spot de micro-focalisation
Diffusivité du spot 10 % (à une distance de mesure normale)
Distance de mesure
Fonction de correction de la distance, différents échantillons de distance peuvent être testés dans les mêmes conditions de test,
Distance de mesure de 0 à 90 mm
Observation de l'échantillon
CCD couleur 1/2,7", avec fonction zoom
Mode de mise au point
Objectif haute sensibilité, mise au point manuelle
Agrandissement
Optique 38-46x, amplification numérique 40-200 fois
Détecteur
Compteur proportionnel à haute efficacité
Standard : détecteur à semi-conducteur Si-PIN (SDD en option)
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