Espectrómetro de espesor de película XRF, medidor de espesor de película de recubrimiento, analizador de composición de aleación no destructivo, emisión ICP
Espectrómetro de espesor de película XRF, medidor de espesor de película de recubrimiento, analizador de composición de aleación no destructivo, emisión ICP
Espectrómetro de espesor de película XRF, medidor de espesor de película de recubrimiento, analizador de composición de aleación no destructivo, emisión ICP
descripción
Soporte personalizado:
OEM, ODM, OBM
Garantía:
1 año
Nombre del producto:
Indicador de grueso de capa
Resaltar:
Espectrómetro de espesor de película XRF con garantía
,
medidor de espesor de película de revestimiento no destructivo
,
analizador de composición de aleación de emisiones ICP
Espectrómetro de espesor de película XRF, medidor de espesor de película de recubrimiento, analizador de composición de aleación no destructivo, emisión ICP
Espectrómetro de espesor de película XRF/medidor de espesor de película de recubrimiento/analizador de composición de aleación no destructivo
1.Introducción del producto:
El medidor de espesor espectral LR-1610D puede analizar la solución de revestimiento mientras analiza el espesor de varios recubrimientos. Es aplicable a piezas súper grandes, piezas de ranura heterosexual, pruebas multipunto microintensivas o detección automática de una gran cantidad de piezas pequeñas una por una, como placas de circuito impreso (PCB), soportes de plomo, productos sanitarios, etc.
2.Característica
Plataforma de desplazamiento automático programable, detección automática de muestras desatendida; la detección de alta eficiencia de cientos de puntos de muestra se puede realizar con un programa Inteligente Realice la búsqueda inteligente automática de imágenes Al y archivos de programa para hacer coincidir automáticamente las posiciones de prueba. Tiene ventajas obvias a la hora de probar grandes cantidades de muestras similares. En línea De acuerdo con las necesidades del cliente, la inspección en línea de la línea de producción se puede personalizar para proporcionar una solución general para la inspección en línea para la Industria 4.0, mejorar la eficiencia de la inspección y realizar una fábrica inteligente automática.
Espectrómetro de espesor de película XRF/medidor de espesor de película de recubrimiento/analizador de composición de aleación no destructivo
3.característica
1. Alto rendimiento confiable Alta precisión y estabilidad de las pruebas, reduce el desperdicio y elimina el tiempo muerto al tiempo que proporciona alta calidad
2. Actualización del proceso de fabricación rentable, más rentable y con un gran ahorro en costes de uso.
3. Tecnología de detección avanzada El sistema de trayectoria óptica vertical altamente integrado, que utiliza tecnología avanzada de análisis de espectro y algoritmo de reconocimiento de imágenes, realiza una detección precisa, rápida, inteligente y automática para satisfacer las necesidades de las empresas.
4. Vida útil más larga Diseño modular, centrado en el ahorro de energía y equipado con modo de suspensión automático para extender la vida útil
5. Algoritmo EFP central El algoritmo EFP avanzado no solo es preciso para pruebas de múltiples capas y conveniente para la calibración, sino que también resuelve los problemas de detección de aleaciones de múltiples capas, revestimiento repetido de elementos superiores e inferiores y capas de penetración.
6. Dispositivo integrado de cuatro enfoques Equipado con tecnología de cuatro focos altamente integrada, puede medir la altura y la altura de la ranura con una profundidad máxima de 90 mm.
7. Medición óptica superior La división de gestión entre las computadoras superior e inferior permite una medición rápida, precisa, estable y eficiente de piezas de trabajo súper grandes.
8. Fuerte aplicabilidad Mida con precisión el espesor de varios recubrimientos metálicos y analice la solución de revestimiento.
Espectrómetro de espesor de película XRF/medidor de espesor de película de recubrimiento/analizador de composición de aleación no destructivo
Modelo
Elementos
XD-1000
Configuración del producto
A
B
do
Análisis de elementos
Cl(17)-U(92)
S(16)/Al(13)-U(92)
Análisis de elementos de espesor
Cl(17)/Li(3)-U(92)
L(3)-U(92)
Algoritmo EFP
estándar
Capacidad de análisis de espesor y elementos
Análisis simultáneo de
5 revestimientos y 10 elementos
Análisis simultáneo de 23 recubrimientos y 24 elementos.
Detección del mismo
elementos en diferentes capas
estándar
Software
Software fácil de usar, fácil operación, sistema de autodiagnóstico
tubo de rayos x
Tubo de rayos X de microenfoque
Microenfoque mejorado
tubo de rayos x
colimador
φ0.2mm
φ0,5 mm, (uno de dos)
φ0.2mm
(Se puede seleccionar φ0,1 mm)
Estándar; φ0,2 mm;
φ0,5 mmφ0,3 mmφ0,2 mm
φ0.1mm*φ0.3mm
Se puede seleccionar
Punto de microenfoque
Difusividad puntual 10% (en distancia de medición normal)
Distancia de medición
Función de corrección de distancia, se pueden probar muestras de diferentes distancias en las mismas condiciones de prueba.
Distancia de medición de 0-90 mm
Observación de muestra
CCD color de 1/2,7", con función de zoom
Modo de enfoque
Lente de alta sensibilidad, enfoque manual
Aumento
Óptico 38-46x, amplificación digital 40-200 veces
Detector
Contador proporcional de alta eficiencia
Estándar: detector de semiconductores Si-PIN (SDD puede ser opcional)
¡Su mensaje debe tener entre 20 y 3.000 caracteres!
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