Spettometro dello spessore della pellicola XRF/Metrometro dello spessore della pellicola di rivestimento/Analisatore non distruttivo della composizione delle leghe ICP ICP di emissione
Spettometro dello spessore della pellicola XRF/Metrometro dello spessore della pellicola di rivestimento/Analisatore non distruttivo della composizione delle leghe ICP ICP di emissione
Spettometro dello spessore della pellicola XRF/Metrometro dello spessore della pellicola di rivestimento/Analisatore non distruttivo della composizione delle leghe ICP ICP di emissione
descrizione
Supporto personalizzato:
OEM, ODM, OBM
Garanzia:
1 anno
Nome del prodotto:
Spessimetro ricoprente
Evidenziare:
Spettometro dello spessore della pellicola XRF con garanzia
,
Indicatore di spessore della pellicola di rivestimento non distruttivo
,
Analisatore di composizione delle leghe di emissioni ICP
Spettrometro di spessore della pellicola XRF/Misuratore di spessore della pellicola di rivestimento/Analizzatore non distruttivo della composizione delle leghe ICP di emissione ICP
Spettrometro di spessore del film XRF/Misuratore di spessore del film di rivestimento/Analizzatore non distruttivo della composizione della lega
1. Introduzione al prodotto:
Il misuratore di spessore spettrale LR-1610D può analizzare la soluzione di placcatura analizzando allo stesso tempo lo spessore di vari rivestimenti. È applicabile a pezzi molto grandi, pezzi di scanalature eterosessuali, test multipunto micro intensivi o rilevamento automatico di un gran numero di piccole parti una per una, come circuiti stampati (PCB), supporti di piombo, prodotti sanitari, ecc.
2.Caratteristica
Automatico Piattaforma di spostamento automatico programmabile, rilevamento automatico e non presidiato del campione; il rilevamento ad alta efficienza di centinaia di punti campione può essere realizzato con un unico programma. Intelligente Realizza la ricerca intelligente automatica dell'immagine Al e i file di programma per abbinare automaticamente le posizioni di test. Presenta evidenti vantaggi rispetto al test di grandi quantità di campioni simili. Online In base alle esigenze del cliente, l'ispezione online della linea di produzione può essere personalizzata per fornire una soluzione globale per l'ispezione online per l'Industria 4.0, migliorare l'efficienza dell'ispezione e realizzare una fabbrica automatica intelligente.
Spettrometro di spessore del film XRF/Misuratore di spessore del film di rivestimento/Analizzatore non distruttivo della composizione della lega
3.caratteristica
1. Prestazioni elevate e affidabili. Elevata precisione e stabilità dei test, riducono gli sprechi ed eliminano i tempi morti fornendo allo stesso tempo alta qualità
2. Aggiornamento del processo di produzione conveniente, più conveniente, con un notevole risparmio sui costi di utilizzo
3. Tecnologia di rilevamento avanzata Il sistema di percorso ottico verticale altamente integrato, utilizzando la tecnologia avanzata di analisi dello spettro e l'algoritmo di riconoscimento delle immagini, realizza un rilevamento accurato, veloce, intelligente e automatico per soddisfare le esigenze delle imprese
4. Vita utile più lunga Design modulare, incentrato sul risparmio energetico e dotato di modalità di sospensione automatica per prolungare la durata
5.Algoritmo EFP centrale L'algoritmo EFP avanzato non è solo accurato per i test multistrato e conveniente per la calibrazione, ma risolve anche i problemi di rilevamento di leghe multistrato, rivestimenti ripetuti degli elementi superiori e inferiori e strati di penetrazione
6. Dispositivo integrato a quattro fuochi Dotato di tecnologia quadrifocale altamente integrata, può misurare l'altezza e l'altezza della scanalatura con una profondità massima di 90 mm
7. Misura ottica dal basso La divisione della gestione tra i computer superiore e inferiore consente una misurazione rapida, accurata, stabile ed efficiente di pezzi di grandi dimensioni
8. Forte applicabilità Misurare accuratamente lo spessore di vari rivestimenti metallici e analizzare la soluzione di placcatura
Spettrometro di spessore del film XRF/Misuratore di spessore del film di rivestimento/Analizzatore non distruttivo della composizione della lega
Modello
Elementi
XD-1000
Configurazione del prodotto
UN
B
C
Analisi degli elementi
Cl(17)-U(92)
S(16)/Al(13)-U(92)
Analisi degli elementi di spessore
Cl(17)/Li(3)-U(92)
L(3)-U(92)
Algoritmo EFP
standard
Capacità di analisi dello spessore e degli elementi
Analisi simultanea di
5 rivestimenti e 10 elementi
Analisi simultanea di 23 rivestimenti e 24 elementi
Rilevazione degli stessi
elementoin diversi strati
standard
Software
Software intuitivo, funzionamento semplice, sistema di autodiagnosi
Tubo a raggi X
Tubo radiogeno microfocalizzante
Micro-messa a fuoco migliorata
Tubo a raggi X
Collimatore
φ0,2 mm
φ0,5 mm, (uno dei due)
φ0,2 mm
(φ0.1mmPuò essere selezionato)
Standard;φ0,2 mm;
φ0,5 mmφ0,3 mmφ0,2 mm
φ0,1 mm*φ0,3 mm
Può essere selezionato
Spot di microfocalizzazione
Diffusione spot 10% (a distanza di misurazione normale)
Misurazione della distanza
Funzione di correzione della distanza, è possibile testare campioni a distanza diversa nelle stesse condizioni di prova,
Distanza di misurazione 0-90 mm
Osservazione del campione
CCD a colori da 1/2,7", con funzione zoom
Modalità di messa a fuoco
Obiettivo ad alta sensibilità, messa a fuoco manuale
Ingrandimento
Ottico 38-46x, amplificazione digitale 40-200 volte
Rivelatore
Contatore proporzionale ad alta efficienza
Standard: rilevatore di semiconduttori Si-PIN (SDD può essere opzionale)
Il tuo messaggio deve contenere da 20 a 3000 caratteri!
Italian
