Spettrometro a fluorescenza a raggi X per spessore di film/Misuratore di spessore di rivestimenti/Analizzatore non distruttivo della composizione di leghe
Spettrometro a fluorescenza a raggi X per spessore di film/Misuratore di spessore di rivestimenti/Analizzatore non distruttivo della composizione di leghe
Spettrometro a fluorescenza a raggi X per spessore di film/Misuratore di spessore di rivestimenti/Analizzatore non distruttivo della composizione di leghe
descrizione
Supporto personalizzato:
OEM, ODM, OBM
Garanzia:
1 anno
Nome del prodotto:
Spessimetro ricoprente
Evidenziare:
Analizzatore spettrometrico a fluorescenza a raggi X per spessore di film
,
Analizzatore non distruttivo della composizione di leghe
,
Misuratore di spessore di rivestimenti
Spettometro dello spessore della pellicola XRF/Metrometro dello spessore della pellicola di rivestimento/analizzatore di composizione delle leghe non distruttive
1Introduzione del prodotto:
LR-1610D spettrale spessometro può analizzare la soluzione di rivestimento, analizzando lo spessore di vari rivestimenti.test multipunto micro intensivo o rilevamento automatico di un gran numero di piccole parti una per una,come le schede di circuiti stampati (PCB), i supporti a piombo, i prodotti igienici, ecc.
2. Caratteristica
Automatica Piattaforma di spostamento automatico programmabile, senza controllo, rilevamento automatico di campioni;Rilevazione ad alta efficienza di centinaia di punti di campionamento può essere realizzata con un programma Intelligente Realizzare immagine automatica Al ricerca intelligenteL'analisi dei campioni di DNA e dei file di programmazione per abbinare automaticamente le posizioni di prova ha evidenti vantaggi di fronte al test di grandi quantità di campioni simili.l'ispezione online della linea di produzione può essere personalizzata per fornire una soluzione complessiva per l'ispezione online per l'industria 4.0, migliorare l'efficienza delle ispezioni e realizzare la fabbrica intelligente automatica.
Spettometro dello spessore della pellicola XRF/Metrometro dello spessore della pellicola di rivestimento/analizzatore di composizione delle leghe non distruttive
3. caratteristica
1.Alte prestazioni affidabiliAlta precisione e stabilità dei test, riducono gli sprechi ed eliminano il tempo morto fornendo al contempo un'elevata qualità
2.Cost-effective Aggiornamento dei processi produttivi, più conveniente, risparmio notevole dei costi di utilizzo
3Tecnologia di rilevamento avanzata Sistema di percorso ottico verticale altamente integrato, utilizzando una tecnologia avanzata di analisi dello spettro e un algoritmo di riconoscimento delle immagini, realizza accurate, veloci,La rilevazione intelligente e automatica per soddisfare le esigenze delle imprese
4.Lunga durata di vita Progettazione modulare, orientata al risparmio energetico e dotata di modalità di sospensione automatica per prolungare la durata di vita
5L'algoritmo EFP avanzato non è solo accurato per i test multilivello e conveniente per la taratura, ma risolve anche i problemi di rilevamento delle leghe multilivello,Strato di rivestimento ripetuto e di penetrazione dell'elemento superiore e inferiore
6Dispositivo integrato a quattro focolari dotato di una tecnologia a quattro focolari altamente integrata, può misurare l'altezza e l'altezza della scanalatura con una profondità massima di 90 mm.
7Misurazione ottica da alto a basso La divisione della gestione tra computer superiori e inferiori consente una misurazione rapida, precisa, stabile ed efficiente di pezzi di lavoro di grandi dimensioni.
8.Forte applicabilità Misurare con precisione lo spessore di vari rivestimenti metallici e analizzare la soluzione di rivestimento
Spettometro dello spessore della pellicola XRF/Metrometro dello spessore della pellicola di rivestimento/analizzatore di composizione delle leghe non distruttive
Modello
Articolo 2
XD-1000
Configurazione del prodotto
A
B
C
Analisi degli elementi
C17)-U92)
S(16)/Al(13)-U(92)
Analisi degli elementi di spessore
Cl ((17)/Li ((3)-U ((92)
L(3)-U(92)
Algoritmo EFP
standard
Capacità di analisi dello spessore e degli elementi
Analisi simultanea di
5 rivestimenti e 10 elementi
Analisi simultanea di 23 rivestimenti e 24 elementi
Determinazione degli stessi
elemento in diversi strati
standard
Software
Software facile da usare, facile da usare, sistema di autodiagnosi
Tubo a raggi X
Tubo a raggi X microfocalizzante
Microfocalizzazione migliorata
tubi a raggi X
Collimatore
φ0,2 mm
φ0,5 mm, ((Uno dei due)
φ0,2 mm
(φ0,1 mmPuò essere selezionato)
standard;φ0,2 mm;
φ0,5 mmφ0,3 mmφ0,2 mm
φ0,1 mm*φ0,3 mm
Può essere selezionato
Spot di focalizzazione micro
Diffusività del punto 10% ((in normale distanza di misura)
Misurare la distanza
Funzione di correzione della distanza, campione a distanza diversa può essere testato nella stessa condizione di prova,
Distanza di misurazione 0-90 mm
Osservazione del campione
1/2.7 "CCD a colori, con funzione zoom
Modalità di messa a fuoco
Lente ad alta sensibilità, messa a fuoco manuale
Ingrandimento
Ottico 38-46x, amplificazione digitale 40-200 volte
Detettore
Contatore proporzionale ad alta efficienza
Standard:detettore di semiconduttori Si-PIN ((SDD può essere facoltativo)
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