Espectrômetro de Espessura de Filme XRF/Medidor de Espessura de Revestimento/Analisador de Composição de Liga Não Destrutivo
descrição
Suporte personalizado:
OEM, ODM, OBM
Garantia:
1 ano
Nome do produto:
Calibre de espessura do revestimento
Destacar:
Analisador de espectrômetro de espessura de filme XRF
,
Analisador de composição de liga não destrutivo
,
Medidor de espessura de revestimento
Espectrômetro de espessura de película XRF/Medidor de espessura de película de revestimento/Analisador de composição de liga não destrutiva
1Introdução do produto:
O medidor de espessura espectral LR-1610D pode analisar a solução de revestimento enquanto analisa a espessura de vários revestimentos.Ensaios multiponto micro-intensivos ou detecção automática de um grande número de pequenas partes uma por uma, tais como placas de circuito impresso (PCB), suportes de chumbo, produtos sanitários, etc.
2. Característica
Automática Plataforma de deslocamento automático programável, sem supervisão, detecção automática de amostras;Detecção de alta eficiência de centenas de pontos de amostragem pode ser realizada com um programa Inteligente Realize automático imagem Al inteligente de buscaO sistema de testes em linha, que é o sistema de testes em linha, tem vantagens óbvias em relação ao teste de grandes quantidades de amostras semelhantes.Inspeção on-line da linha de produção pode ser personalizada para fornecer uma solução global para inspeção on-line para a indústria 4.0, melhorar a eficiência da inspecção e realizar a fábrica inteligente automática.
Espectrômetro de espessura de película XRF/Medidor de espessura de película de revestimento/Analisador de composição de liga não destrutiva
3. característico
1.Alto desempenho confiável Alta precisão e estabilidade dos ensaios, reduzem o desperdício e eliminam o tempo morto, proporcionando ao mesmo tempo alta qualidade
2.Eficaz em termos de custos A modernização do processo de fabrico, mais eficaz em termos de custos, reduzindo consideravelmente os custos de utilização
3Tecnologia de detecção avançada Sistema de trajetória óptica vertical altamente integrado, utilizando tecnologia avançada de análise de espectro e algoritmo de reconhecimento de imagem,Detecção inteligente e automática para satisfazer as necessidades das empresas
4.Duração de vida útil Modular, com foco na poupança de energia e equipado com modo de sono automático para prolongar a vida útil
5Algoritmo EFP de baseO algoritmo EFP avançado não é apenas preciso para testes de várias camadas e conveniente para calibração, mas também resolve os problemas de detecção de liga multi-camadas,Elemento superior e inferior revestimento repetido e camada de penetração
6.Dispositivo integrado de quatro focos Equipado com tecnologia de quatro focos altamente integrada, pode medir a altura e a altura da ranhura com uma profundidade máxima de 90 mm
7.Medida óptica de cima para baixo A divisão da gestão entre computadores superiores e inferiores permite uma medição rápida, precisa, estável e eficiente de peças de trabalho supergrandes
8.Forte aplicabilidade Medir com precisão a espessura de vários revestimentos metálicos e analisar a solução de revestimento
Espectrômetro de espessura de película XRF/Medidor de espessura de película de revestimento/Analisador de composição de liga não destrutiva
Modelo
Posições
XD-1000
Configuração do produto
A
B
C
Análise de elementos
Cl ((17)-U ((92)
S(16)/Al(13)-U(92)
Análise do elemento de espessura
Cl ((17)/Li ((3)-U ((92)
L ((3)-U ((92)
Algoritmo EFP
padrão
Capacidade de análise de espessura e elementos
Análise simultânea de
5 revestimentos e 10 elementos
Análise simultânea de 23 revestimentos e 24 elementos
Detecção dos mesmos
elemento em diferentes camadas
padrão
Software
Software fácil de usar, fácil de operar, sistema de autodiagnóstico
Tubos de raios-X
Tubo de raios-X de microfoco
Microfoco aprimorado
Tubos de raios-X
Colimador
φ0,2 mm
φ0,5mm, ((Um dos Dois)
φ0,2 mm
(φ0,1 mmPode ser selecionado)
Padrão;φ0,2 mm;
φ0,5 mmφ0,3 mmφ0,2 mm
φ0,1 mm*φ0,3 mm
Pode ser selecionado
Ponto de Microfoco
Difusão de pontos 10% ((em distância normal de medição)
Medir a distância
Função de correcção da distância, pode ser testada uma amostra de distância diferente nas mesmas condições de ensaio,
Distância de medição de 0-90 mm
Observação da amostra
1/2.7 "CCD colorido, com função de zoom
Modo de foco
Lente de alta sensibilidade, focagem manual
Magnificação
Optical 38-46x, amplificação digital 40-200 vezes
Detector
Contador proporcional de elevada eficiência
Padrão: Detector de semicondutores Si-PIN (SDD pode ser opcional)
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