Analyseur de soufre WDXRF ISO 20884 ASTM D2622, testeur de micro-soufre, fluorescence X XRF, teneur en soufre, spectromètre WDXRF
description de
Un accompagnement personnalisé:
OEM, ODM, OBM
Pouvoir:
Électronique
Garantie:
1 an
Nom du produit:
Spectromètre WDXRF à fluorescence X XRF à teneur en soufre
modèle:
LR-116
Mettre en évidence:
Spectromètre XRF
,
analyseur de soufre WDXRF
,
Testeur de micro-soufre ASTM D2622
ISO 20884 ASTM D2622 Analyseur de soufre WDXRF Micro testeur de soufre Fluorescence X XRF Teneur en soufre Spectromètre WDXRF
Répondre aux exigences nationales V et National VI pour la détection du S ultra-faible de l'essence et du diesel automobiles
Limite de détection basse (300s) : 0,33 ppm
Adopter mtechnique d'analyse par fluorescence X à dispersion de longueur d'onde excitée monochromatiquement (MWDXRF)
Cristaux intraoculaires hyperboliques rotatifs en spirale logarithmique à haute efficacité de diffraction (LSDCC)
Tube à rayons X à fenêtre en béryllium mince à micro-foyer avec une combinaison raisonnable de kV, mA et cible
Répondre à la norme :
GB/T 11140
ISO20884
SH/T 0842
ASTM D2622
ASTM D7039
ASTM D7220
ISO 20884 ASTM D2622 Analyseur de soufre WDXRF Micro testeur de soufre Fluorescence X XRF Teneur en soufre Spectromètre WDXRF
Aperçu
LR-116 détecteur de soufre à trace de fluorescence X à excitation monochromatique, appelé LR-116 détecteur de soufre à trace MWDXRF, est la collecte par l'entreprise de décennies d'expérience en recherche sur les spectromètres de fluorescence X, Le premier spectromètre XRF à excitation monochromatique point à point de l'entreprise a été développé sur la base de l'analyseur de soufre par fluorescence X de la série DM d'origine de l'entreprise, de l'analyseur multi-éléments par fluorescence X, du spectromètre multicanal à fluorescence X à dispersion de longueur d'onde, etc. Il utilise les technologies et dispositifs suivants pour faire le GA-116 avec un tube optique de 50 W avec une excellente reproductibilité et stabilité, des limites de détection basses, et a réellement porté le niveau de détection à un nouveau niveau.
Technique d'analyse par fluorescence X à dispersion de longueur d'onde excitée monochromatiquement (MWDXRF) à focalisation point à point
La limite de détection (LOD) du spectromètre de fluorescence X fait référence à la quantité correspondante de 3 fois l'écart type du signal de fond de l'instrument généré par le blanc de la matrice, à savoir :
(1)
Rb est l'intensité de comptage du fond (arrière-plan), N est l'intensité de comptage des échantillons à faible concentration avec une concentration connue de C, et T est le temps de mesure. De la formule (1), on peut voir que la limite de détection est inversement proportionnelle à la sensibilité (N-Rb) /C et proportionnelle à la racine carrée du fond Rb. Afin de réduire la limite de détection lorsque le temps de mesure est fixe, il est nécessaire d'améliorer la sensibilité et/ou de réduire le fond.
Précision
Des tests de répétabilité S ont été effectués sur trois échantillons d'essence, chacun rempli de sept coupelles différentes :
Tableau 2. Données des tests de répétabilité pour l'analyse de l'échantillon d'essence S
Numéro de la coupelle
Numéro d'échantillon un(ppm)
Numéro d'échantillon deux(ppm)
Numéro d'échantillon trois(ppm)
1
1,19
3,21
10,22
2
1,08
2,92
9,79
3
0,85
3,05
10,09
4
0,93
2,88
9,73
5
1,05
2,86
9,93
6
1,03
3,16
9,90
7
0,98
3,26
9,95
valeur moyenne
1,02
3,05
9,93
écart type
0,095
0,122
0,259
RSD
9,5 %
4,00 %
2,60 %
Tableau 2 Ces résultats montrent qu'une excellente répétabilité de S peut être obtenue avec le LR-116 détecteur de soufre à des niveaux de faible concentration.
ISO 20884 ASTM D2622 Analyseur de soufre WDXRF Micro testeur de soufre Fluorescence X XRF Teneur en soufre Spectromètre WDXRF
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