ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF analyseur de soufre Micro-testeur de soufre rayons X Fluorescence XRF teneur en soufre WDXRF ICP Émissions ICP
description de
Un accompagnement personnalisé:
OEM, ODM, OBM
Pouvoir:
Électronique
Garantie:
1 an
Nom du produit:
Spectromètre WDXRF à fluorescence X XRF à teneur en soufre
modèle:
LR-116
Mettre en évidence:
Analyseur de soufre WDXRF conforme à la norme ISO 20884
,
Testeur de soufre XRF certifié ASTM D2622
,
Spéctromètre d'émission ICP pour l'analyse du soufre
ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF analyseur de soufre Micro-testeur de soufre rayons X Fluorescence XRF teneur en soufre WDXRF ICP Émissions ICP
ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF analyseur de soufre Micro-testeur de soufre rayons X Fluorescence XRF teneur en soufre WDXRF spectromètre
Répondre aux exigences de la norme nationale V et de la norme nationale VI relatives à la détection à très faible S de l'essence automobile et du diesel
Limite de détection basse (300s):00,33 ppm
Il faut l'adopter.- Je vous en prieTechnique d'analyse par fluorescence à rayons X dispersée à longueur d'onde excitée monochromatique (MWDXRF)
Cristaux intraoculaires à haute efficacité de diffraction en spirale spirale rotative logarithmique hyperboloïde (LSDCC)
Micropôle focale fenêtre mince en béryllium tube à rayons X avec une combinaison raisonnable de kV, mA et de cible
Répondre à la norme:
Résultats de la vérification
ISO (en anglais)20884
Règlement (CE) no 765/2008 du Parlement européen et du Conseil
Pour les appareils à commande numérique
Pour l'utilisation dans les machines de traitement de l'air
Pour l'aéronef
ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF analyseur de soufre Micro-testeur de soufre rayons X Fluorescence XRF teneur en soufre WDXRF spectromètre
Résumé
LR-116monomètre monochromatique de trace de soufre par fluorescence à rayons X à longueur d'onde excitée dispersée, dénommé LR-116MWDXRF est une collection de décennies d'expérience de recherche en spectromètre de fluorescence à rayons X.Le premier spectromètre XRF excité monochromatique point à point de la société a été développé sur la base de l'analyseur de soufre à fluorescence à rayons X de la série DM originale de la sociétéIl utilise les technologies et les dispositifs suivants pour réaliser le spectromètre de fluorescence à rayons X.GA-116avec un tube optique de 50W avec une excellente reproductibilité et stabilité, de faibles limites de détection, et a effectivement porté le niveau de détection à un nouveau niveau.
Technique d'analyse de la fluorescence à rayons X dispersée par longueur d'onde excitée monochromatique de mise au point point point-à-point (MWDXRF)
La limite de détection (LOD) du spectromètre de fluorescence à rayons X se réfère à la quantité correspondante de 3 fois l'écart type du signal de fond de l'instrument généré par la matrice vide,à savoir::
(1)
Rb est l'intensité de comptage du fond (fond), N est l'intensité de comptage des échantillons à faible concentration ayant une concentration connue de C et T est le temps de mesure.On peut voir que la limite de détection est inversement proportionnelle à la sensibilité (N-Rb) /C et proportionnelle à la racine carrée du fond RbAfin de réduire la limite de détection lorsque le temps de mesure est fixé, il est nécessaire d'améliorer la sensibilité et/ou de réduire le fond.
Présiliation
Les essais de répétabilité S ont été effectués sur trois échantillons d'essence, chacun rempli de sept gobelets d'échantillonnage différents:
Tableau 2. Données de l'essai de répétabilité pour l'analyse S de l'échantillon S d'essence S
Nombre de tasse de l'échantillon
Échantillon numéro un(ppm)
Numéro de l'échantillondeux.(ppm)
Numéro de l'échantillontrois(ppm)
1
1.19
3.21
10.22
2
1.08
2.92
9.79
3
0.85
3.05
10.09
4
0.93
2.88
9.73
5
1.05
2.86
9.93
6
1.03
3.16
9.90
7
0.98
3.26
9.95
valeur moyenne
1.02
3.05
9.93
déviation type
0.095
0.122
0.259
RSD
90,5%
4Je suis désolé.
2.60%
Tableau 2 Ces résultats montrent que l'excellente répétabilité de S peut être obtenue avec le LR-116détecteur de soufre à faible concentration.
ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF analyseur de soufre Micro-testeur de soufre rayons X Fluorescence XRF teneur en soufre WDXRF spectromètre
Indice technique principal
Tubes à rayons X
la tension:≤ 50 keV,électricité:≤ 2 mA,puissance≤ 50 W,matières ciblesJe vous en prie.
détecteur
Compteur proportionnel de fenêtre en béryllium ultrafin
Département d'accueilDes produits à base de plantes
00,33 ppm
portée de mesure
1 ppm~ 9,99%
jusqu'à la norme
GB/T 11140,Le nombre d'équipements,Règlement (CE) no 765/2008 du Parlement européen et du Conseil,Pour l'utilisation dans les appareils électroniques,D7039,D7220et ainsi de suite.
Temps d'analyse du système
1 ~999s,Valeur recommandée: 300 s pour les micro-mesures et 60 s pour les mesures majeures
conditions de service
température ambiante5 à 540°C,humidité relative:≤ 85% ((30°C),alimentation électriqueune tension de 220 V ± 20 V,50 Hz,≤ 200 W
Atmosphère de mesure
Système d'auto-chargement ou hélium
Taille et poids
330 mm ((W)×460 mm(D)× 350 mm(H est),25 kg ou plus
Votre message doit contenir entre 20 et 3 000 caractères!
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