Mikroogniskowa cienka rurka rentgenowska z oknem berylowym z rozsądną kombinacją kV, mA i celu
Spełnia normy:
GB/T 11140
ISO20884
SH/T 0842
ASTM D2622
ASTM D7039
ASTM D7220
Analizator siarki WDXRF ISO 20884 ASTM D2622 Tester siarki mikro X Ray Fluorescence XRF Zawartość siarki Spektrometr WDXRF
Przegląd
LR-116 monochromatyczny wzbudzany miernik siarki śladowej fluorescencji rentgenowskiej, zwany LR-116 miernik siarki śladowej MWDXRF, jest to zbiór wieloletnich doświadczeń firmy w zakresie badań spektrometrów fluorescencji rentgenowskiej, pierwszy monochromatyczny spektrometr XRF punkt-punkt firmy został opracowany na podstawie oryginalnej serii DM analizatora siarki fluorescencji rentgenowskiej firmy, analizatora wieloelementowego fluorescencji rentgenowskiej, spektrometru wielokanałowego fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją długości fali itp. Wykorzystuje następujące technologie i urządzenia, aby GA-116 z lampą optyczną 50W o doskonałej powtarzalności i stabilności, niskich granicach wykrywalności i faktycznie przeniósł poziom wykrywania na nowy poziom.
Punkt-punkt skupiająca monochromatyczna wzbudzana metoda dyspersji długości fali fluorescencji rentgenowskiej (MWDXRF)
Granica wykrywalności (LOD) spektrometru fluorescencji rentgenowskiej odnosi się do odpowiedniej ilości 3-krotności odchylenia standardowego sygnału tła instrumentu generowanego przez matrycę pustą, a mianowicie:
(1)
Rb to natężenie zliczania tła (tła), N to natężenie zliczania próbek o niskim stężeniu o znanym stężeniu C, a T to czas pomiaru. Z wzoru (1) wynika, że granica wykrywalności jest odwrotnie proporcjonalna do czułości (N-Rb) /C i proporcjonalna do pierwiastka kwadratowego z tła Rb. Aby zmniejszyć granicę wykrywalności, gdy czas pomiaru jest stały, konieczne jest poprawienie czułości i/lub zmniejszenie tła.
Przeczywistość
Przeprowadzono testy S-powtarzalności na trzech próbkach benzyny, z których każda napełniona była siedmioma różnymi kubkami na próbki:
Tabela 2. Dane testu powtarzalności dla analizy próbki benzyny S
Numer kubka na próbkę
Numer próbki jeden(ppm)
Numer próbki dwa(ppm)
Numer próbki trzy(ppm)
1
1.19
3.21
10.22
2
1.08
2.92
9.79
3
0.85
3.05
10.09
4
0.93
2.88
9.73
5
1.05
2.86
9.93
6
1.03
3.16
9.90
7
0.98
3.26
9.95
wartość średnia
1.02
3.05
9.93
odchylenie standardowe
0.095
0.122
0.259
RSD
9.5%
4.00%
2.60%
Tabela 2 Wyniki te pokazują, że doskonałą powtarzalność S można osiągnąć za pomocą detektora siarki LR-116 na niskich poziomach stężenia.
Analizator siarki WDXRF ISO 20884 ASTM D2622 Tester siarki mikro X Ray Fluorescence XRF Zawartość siarki Spektrometr WDXRF
Twoja wiadomość musi mieć od 20 do 3000 znaków!
Polish
