ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF Αναλυτής θείου Micro Sulfur Tester X Ray Fluorescence XRF Περιεκτικότητα σε θείο WDXRF ICP ICP εκπομπές

ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF Αναλυτής θείου Μικρομετρητής θείου ακτίνων Χ φθορισμός XRF Περιεκτικότητα σε θείο Φασματόμετρο WDXRF

Ικανοποιήστε τις απαιτήσεις των εθνικών V και National VI για ανίχνευση εξαιρετικά χαμηλού S βενζίνης και ντίζελ αυτοκινήτου

Χαμηλό όριο ανίχνευσης (300 δευτ.): 0,33 σελ./λεπτό

Υιοθετώmτεχνική ανάλυσης ονοχρωματικού διεγερμένου μήκους κύματος διασποράς ακτίνων Χ φθορισμού (MWDXRF)

Ενδοφθάλμιοι κρύσταλλοι λογαριθμικού σπειροειδούς περιστρεφόμενου υπερβολοειδούς (LSDCC) υψηλής απόδοσης περίθλασης

Μικροεστιακός λεπτός σωλήνας ακτίνων Χ παραθύρου βηρυλλίου με λογικό συνδυασμό kV, mA και στόχου

Πληρείτε το πρότυπο:

GB/T 11140

ISO 20884

SH/T 0842

ASTM D2622

ASTM D7039

ASTM D7220

ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF Αναλυτής θείου Μικρομετρητής θείου ακτίνων Χ φθορισμός XRF Περιεκτικότητα σε θείο Φασματόμετρο WDXRF

Επισκόπηση

LR-116μονοχρωματικό διεγερμένο μήκους κύματος ίχνος θείου μετρητή φθορισμού ακτίνων Χ διασποράς, που αναφέρεται ως LR-116Ο μετρητής θείου ίχνους MWDXRF, είναι η συλλογή της εταιρείας από δεκαετίες ερευνητικής εμπειρίας φασματόμετρου φθορισμού ακτίνων Χ. Το πρώτο μονοχρωματικό διεγερμένο φασματόμετρο XRF σημείο-προς-σημείο της εταιρείας αναπτύχθηκε με βάση τον πρωτότυπο αναλυτή θείου φθορισμού ακτίνων Χ της σειράς DM, αναλυτής θείου φθορισμού ακτίνων X Πολυκαναλικό φασματόμετρο φθορισμού ακτίνων Χ, κ.λπ. Χρησιμοποιεί τις ακόλουθες τεχνολογίες και συσκευές για ναGA-116με οπτικό σωλήνα 50W με εξαιρετική αναπαραγωγιμότητα και σταθερότητα, χαμηλά όρια ανίχνευσης και έχει όντως ανεβάσει το επίπεδο ανίχνευσης σε νέο επίπεδο.

Τεχνική ανάλυσης μονοχρωματικού διεγερμένου μήκους κύματος διασποράς φθορισμού ακτίνων Χ (MWDXRF) με εστίαση από σημείο σε σημείο

Το όριο ανίχνευσης (LOD) του φασματόμετρου φθορισμού ακτίνων Χ αναφέρεται στην αντίστοιχη ποσότητα 3 φορές την τυπική απόκλιση του σήματος φόντου του οργάνου που παράγεται από το κενό μήτρας, και συγκεκριμένα:

 (1)

Rb είναι η ένταση μέτρησης φόντου (φόντο), N είναι η ένταση μέτρησης δειγμάτων χαμηλής συγκέντρωσης με γνωστή συγκέντρωση C και T είναι ο χρόνος μέτρησης. Από τον τύπο (1), μπορεί να φανεί ότι το όριο ανίχνευσης είναι αντιστρόφως ανάλογο με την ευαισθησία (N-Rb) /C και ανάλογο με την τετραγωνική ρίζα του υποβάθρου Rb. Προκειμένου να μειωθεί το όριο ανίχνευσης όταν ο χρόνος μέτρησης είναι σταθερός, είναι απαραίτητο να βελτιωθεί η ευαισθησία ή/και να μειωθεί το φόντο.

Παποκοπή

Οι δοκιμές επαναληψιμότητας S πραγματοποιήθηκαν σε τρία δείγματα βενζίνης, το καθένα γεμάτο με επτά διαφορετικά κύπελλα δειγμάτων:

Πίνακας 2. Δεδομένα δοκιμής επαναληψιμότητας για ανάλυση S δείγματος βενζίνης S

Πίνακας 2 Αυτά τα αποτελέσματα δείχνουν ότι η εξαιρετική επαναληψιμότητα του S μπορεί να επιτευχθεί με το LR-116ανιχνευτής θείου σε χαμηλά επίπεδα συγκέντρωσης.

ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF Αναλυτής θείου Μικρομετρητής θείου ακτίνων Χ φθορισμός XRF Περιεκτικότητα σε θείο Φασματόμετρο WDXRF

Κύριος τεχνικός δείκτης