|
تفاصيل المنتج:
|
| دعم مخصص: | تصنيع المعدات الأصلية، أوديإم، OBM | قوة: | الكترونية |
|---|---|---|---|
| ضمان: | 1 سنة | اسم المنتج: | X راي مضان XRF محتوى الكبريت مطياف WDXRF |
| نموذج: | LR-116 | ||
| إبراز: | محلل الكبريت WDXRF متوافق مع ISO 20884,جهاز اختبار الكبريت XRF معتمد من ASTM D2622,مطياف انبعاث ICP لتحليل الكبريت |
||
ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF محلل الكبريت اختبار الكبريت المجهري للكبريت الأشعة السينية الفلوريسنسية XRF محتوى الكبريت طيف WDXRF
الوفاء بمتطلبات V الوطنية و VI الوطنية للكشف عن S منخفض للغاية للبنزين والديزل للسيارات
الحد الأدنى للكشف (300s):0.33ppm
تبنيمتقنية تحليل الفلوريسنسية بالأشعة السينية التشتتية على طول الموجة المتحمسة (MWDXRF)
كريستالات داخل العين ذات الكفاءة الانعكاسية العالية (LSDCC)
نقطة محورية صغيرة نافذة بيريليوم رقيقة أنبوب الأشعة السينية مع مزيج معقول من kV و mA والهدف
تلبي المعيار:
GB/T 11140
إيزو 20884
SH/T 0842
الصينية
أيه إس تي إم دي 7039
طراز ASTM D7220
ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF محلل الكبريت اختبار الكبريت المجهري للكبريت الأشعة السينية الفلوريسنسية XRF محتوى الكبريت طيف WDXRF
نظرة عامة
LR-116مقياس الكبريت الألوان الأحادي المتحمس لموجة موجة التشتت للامعة الأشعة السينية، يشار إليه باسم LR-116جهاز قياس الكبريت من شركة MWDXRF هو مجموعة من عقود من تجربة أبحاث طيف الأشعة السينيةتم تطوير أول طيف XRF متحمس أحادي اللون من نقطة إلى نقطة من الشركة على أساس تحليل الكبريت الفلوريسنتي للأشعة السينية من سلسلة DM الأصلية للشركة، تحليل الفلوريسنسية الأشعة السينية متعددة العناصر، وطول موجة تشتت الأشعة السينية الفلوريسنسية متعدد القنوات الطيف، الخ يستخدم التكنولوجيات والأجهزة التالية لجعلGA-116مع أنبوب ضوئي 50W مع إعادة إنتاج ممتازة واستقرار، حدود الكشف منخفضة، وقد أخذ في الواقع مستوى الكشف إلى مستوى جديد.
تقنية تحليل الفلوريسنسية بالأشعة السينية المتشتتة ذات الطول الموجي المثير أحادي اللون (MWDXRF) من نقطة إلى نقطة
الحد من الكشف (LOD) لقطر الطيف الفلوريسنتس للأشعة السينية يشير إلى المبلغ المقابلة 3 أضعاف الانحراف المعياري لإشارة الخلفية للأداة الناتجة عن صفيحة المصفوفة،وهي::
(1)
Rb هي كثافة العد الخلفي (الخلفي) ، N هي كثافة العد للعينات منخفضة التركيز مع تركيز معروف من C ، و T هو وقت القياس. من الصيغة (1) ،يمكن أن نرى أن حد الكشف هو متناسب بالعكس مع الحساسية (N-Rb) /C ومتناسب مع الجذر التربيعي للخلفية Rbمن أجل تقليل حد الكشف عندما يتم تحديد وقت القياس ، من الضروري تحسين الحساسية و / أو تقليل الخلفية.
(ب)القرار
تم إجراء اختبارات التكرار S على ثلاث عينات من البنزين ، تم ملء كل منها بسبعة أكواب عينة مختلفة:
الجدول 2 بيانات اختبار التكرار لتحليل S لعينة البنزين S
|
رقم كوب العينة |
العينة رقم واحد(ppm) |
رقم العينةاثنان(ppm) |
رقم العينةثلاثة(ppm) |
|
1 |
1.19 |
3.21 |
10.22 |
|
2 |
1.08 |
2.92 |
9.79 |
|
3 |
0.85 |
3.05 |
10.09 |
|
4 |
0.93 |
2.88 |
9.73 |
|
5 |
1.05 |
2.86 |
9.93 |
|
6 |
1.03 |
3.16 |
9.90 |
|
7 |
0.98 |
3.26 |
9.95 |
|
متوسط القيمة |
1.02 |
3.05 |
9.93 |
|
الانحراف المعياري |
0.095 |
0.122 |
0.259 |
|
RSD |
9.5٪ |
4.00% |
2. 60% |
الجدول 2 هذه النتائج تظهر أن إمكانية تكرار ممتازة من S يمكن تحقيقها مع LR-116كاشف الكبريت عند مستويات تركيز منخفضة
ISO 20884 ASTM D2622 WDXRF محلل الكبريت اختبار الكبريت المجهري للكبريت الأشعة السينية الفلوريسنسية XRF محتوى الكبريت طيف WDXRF
المؤشر الفني الرئيسي
|
أنبوب الأشعة السينية |
الجهد:≤50keV,الكهرباء:≤2mA,القوة≤50 واط,المواد المستهدفة:أج |
|
كاشف |
العداد النسبي للنوافذ البريليومية الرقيقة جداً |
|
منطقة الوصول(300) |
0.33ppm |
|
نطاق القياس |
1ppm~ 9.99% |
|
حتى المعيار |
GB/T 11140،ISO20884,SH/T 0842,ASTMD2622,D7039,D7220وهكذا |
|
وقت تحليل النظام |
1~999s,القيمة الموصى بها: 300s للقياسات الصغيرة و 60s للقياسات الكبيرة |
|
شروط الخدمة |
درجة حرارة البيئة5~40 درجة مئوية,الرطوبة النسبية:≤85% ((30 درجة مئوية),إمدادات الطاقة220V±20V50 هرتز,≤200 واط |
|
الغلاف الجوي للقياس |
نظام شحن ذاتي أو هليوم |
|
الحجم والوزن |
330ملمW)×460mm(د)× 350 ملم(هـ),25 كجم |
اتصل شخص: Kaitlyn Wang
الهاتف :: 19376687282
الفاكس: 86-769-83078748
Arabic
