Λεπτομέρειες:
|
Ποσοστό κάλυψης συχνοτήτων: | 16000:1 | Περιοχή συχνοτήτων: | 100 kHz - 160 MHz |
---|---|---|---|
Διάμετρος μέτρησης: | Ø 38 mm | Περιοχή πάχους: | < 15 χιλ. |
Εγγύηση: | 1 έτος | Πιστοποίηση: | Includes Calibration Certification |
ASTM D 150 Δοκιμαστής διαπερατότητας Κηραμικά σύνθετα Διηλεκτρικό σταθερό μέτρο
1.ΔεΟνομασία:
Το σύστημα δοκιμής της διηλεκτρικής σταθεράς και της διηλεκτρικής απώλειας υλικού μόνωσης υψηλής συχνότητας LRTD αποτελείται από συσκευή δοκιμής (προϊόν στερέωσης), Q-μέτρο υψηλής συχνότητας,Πληροφοριακή συλλογή και έλεγχος αυτόματης μέτρησης (μονάδα λογισμικού ενσωματωμένη στο LRTD)Η συσκευή αυτή έχει σχεδιαστεί και κατασκευαστεί σύμφωνα με τα εθνικά πρότυπα GB/T 5594.4-2015 "Μεθόδοι δοκιμής για τις επιδόσεις των δομικών κεραμικών υλικών ηλεκτρονικών εξαρτημάτων - Μέρος 4: Μέθοδοι δοκιμής για τη διαμετρική σταθερά και την αξία της εμβέλειας της διαμετρικής απώλειας", GB/T 1693-2007 "Αποκαθάριση της διαμετρικής σταθεράς και της αξίας της εμβέλειας της διαμετρικής απώλειας του βουλκανισμένου καουτσούκ", GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007, αμερικανικό πρότυπο ASTM D150 και Διεθνή Ηλεκτροτεχνική Επιτροπή IEC 60250.Το σύστημα παρέχει τη βέλτιστη λύση για την αυτόματη μέτρηση της αξίας αγγίγματος της διηλεκτρικής απώλειας υψηλής συχνότητας (tanδ) και της διηλεκτρικής σταθεράς (ε) των μονωτικών υλικώνΗ συσκευή δοκιμής του εν λόγω οργάνου αποτελείται από επίπεδο πυκνωτή, ο οποίος χρησιμοποιείται γενικά για τη συμπίεση του δοκιμαζόμενου δείγματος και είναι εξοπλισμένος με Q-μέτρο ως όργανο ένδειξης. The dielectric loss tangent value of the insulation material is calculated by the change in Q value and the scale reading of thickness when the tested sample is placed in the flat capacitor and when it is not placedΗ χρήση του ψηφιακού Q-μετρητή LRTD επιτρέπει τον αυτόματο υπολογισμό της διηλεκτρικής σταθεράς (ε) και της διηλεκτρικής απώλειας (tanδ).
2Διαμόρφωση:
Περιλαμβάνει 1 ξενιστή δοκιμής LRTD-C, 1 δοκίμιο δειγματοληψίας και 1 σύνολο επαγωγών (10 κομμάτια).
3Τεχνική παράμετρος
Σύνθεση συστήματος του συστήματος δοκιμής διαμετρικής σταθεράς/απώλειας LRTD:
Κεντρική μονάδα: Q-μετρητής υψηλής συχνότητας
Κατηγορία χαρακτηριστικών | Παράμετρος | Προδιαγραφή / Αξία | Σημειώσεις |
Πηγή | Τύπος πηγής σήματος | DDS Ψηφιακά συνθετικό σήμα | |
Πεδίο συχνότητας | 100 kHz - 160 MHz | ||
Ποσοστό κάλυψης συχνοτήτων | 16000:1 | ||
Ακριβότητα συχνότητας | 3 × 10−5 ± 1 μέτρηση (6 σημαντικά ψηφία) | ||
Δοκιμασία | Ακριβότητα δειγματοληψίας | 12-BIT | Διασφαλίζει σταθερότητα Q & σταθερότητα δοκιμής υλικού χαμηλής Df |
Q Μέτρηση | Q Περιοχή μέτρησης | 1 - 1000 | Αυτοκινητική / χειροκίνητη περιοχή |
Π Ψήφισμα | 0.1 (4 σημαντικά ψηφία) | ||
Q Λάθος μέτρησης | < 5% | ||
Μέτρηση της επαγωγικότητας (L) | L Περιοχή μέτρησης | 1 nH - 140 mH | Ανάλυση 0,1 nH (4 σημαντικά ψηφία) |
L Λάθος μέτρησης | < 3% | ||
Συσσωρευτής συντονισμού | Κύριο εύρος χωρητικότητας | 17 pF - 240 pF | Μονολιθική δομή υψηλής ακρίβειας, ασημένια |
Αυτόματη αναζήτηση χωρητικότητας | - Ναι, ναι. | Με κινητήρα βήματος | |
Περιοχή μέτρησης άμεσης C | 1 pF ~ 25 nF | ||
Λάθος συντονισμού πυκνωτή | ±1 pF ή < 1% | ||
Ανάλυση συντονιστή πυκνότητας | 0.1 pF | ||
Αντίδραση | Αναζήτηση σημείων συντονισμού | Αυτόματη σάρωση | |
Q Χαρακτηριστικά | Q Περιοχή προεπιλογής επιτυχίας/αποτυχίας | 5 - 1000 | Ακουστή/οπτική ένδειξη |
Q Μετατροπή εύρους | Αυτοκίνητο/Εγχειρίδιο | ||
Δείκτης (LCD) | Εμφανιζόμενες παραμέτρους | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Quality Factor, Lt/Ct=tuned, tn=?, Σr=Series R; |
Ιδιαίτερα χαρακτηριστικά | Απαλλαγή από την αυτοτελή υπολειμματική επαγωγικότητα | - Ναι, ναι. | Επομένως, δεν μπορεί να χρησιμοποιηθεί για τον προσδιορισμό της ανάλυσης της ανάλυσης. |
Μεγάλη χωρητικότητα άμεσης οθόνης | - Ναι, ναι. | Μέχρι 25 nF (Μιαμελή) | |
Ελέγχος υλικού | Ακριβότητα του συντελεστή διάσπασης (Df) | 00,01% (1/10.000) | |
Επιτρεπότητα (εr) Ακριβότητα | 00,1% (1/1.000) | ||
Περιοχή πάχους υλικού | 0.1 mm - 10 mm | ||
Δείκτης επιτρεπότητας | Ακριβώς στο LCD | ||
Εμφάνιση του συντελεστή διάσπασης | Ακριβώς στο LCD | ||
Περιοχή συχνότητας δοκιμής διαπερατότητας | 100 kHz - 100 MHz |
Η διάταξη δοκιμής της διηλεκτρικής σταθεράς εr και του διηλεκτρικού συντελεστή απώλειας tanδ:
Ειδικότητα | Προδιαγραφές | Σημειώσεις | |
Στερεά δείγματα | Διάμετρος μέτρησης | Ø 38 mm | |
Περιοχή πάχους | Ρυθμίσιμο, < 15 mm | Τυπικό εύρος | |
Πλάκες ηλεκτροδίων | Προσαρμόσιμη | (Επιλογική προσαρμογή) |
Δορυφορικές συσκευές
- Όχι, όχι, όχι. | Δυνατότητα επαγωγής (L) | Ακριβότητα | Ο συντελεστής Q ≥ | Κατά προσέγγιση, κατανεμημένη χωρητικότητα (Cd) | Πεδίο συχνότητας συντονισμού (MHz) | Συνιστώμενη συχνότητα για τη δοκιμή διαλειτουργικότητας |
1 | 0.1 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
2 | 0.5 μH | ±0,05 μH | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 MHz |
3 | 2.5 μH | ± 5% | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
4 | 10 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 3.4 - 10.55 | 5 MHz |
5 | 50 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 1.5 - 4.55 | 1.5 MHz |
6 | 100 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 MHz |
7 | 1 mH | ± 5% | 150 | 8 pF | 0.34 προς 1.02 | 0.5 MHz |
8 | 5 mH | ± 5% | 130 | 8 pF | 0.148 - 0.39 | 00,25 MHz |
9 | 10 mH | ± 5% | 90 | 8 pF | 0.107 - 0.32 | 0.1 MHz |
10 | 14 nH | ± 5% | 100 | 5 pF | ~ 100 MHz | 100 MHz |
Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Ms. Kaitlyn Wang
Τηλ.:: 19376687282
Φαξ: 86-769-83078748