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제품 상세 정보:
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| 주파수 범위 비율: | 16000 : 1 | 주파수 범위: | 100 kHz -160MHz |
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| 측정 직경: | Ø 38 mm | 두께 범위: | <15 mm |
| 보증: | 1년 | 인증: | Includes Calibration Certification |
ASTM D 150 유전율 테스터 세라믹 복합 재료 유전 상수 측정기
1.Description:
LRTD 고주파 절연 재료 유전 상수 및 유전 손실 테스트 시스템은 테스트 장치(클램핑 고정 장치), 고주파 Q-미터, 데이터 수집 및 tanδ 자동 측정 제어(LRTD에 통합된 소프트웨어 모듈) 및 인덕터로 구성됩니다. 국가 표준 GB/T 5594.4-2015 "전자 부품의 구조 세라믹 재료 성능 시험 방법 - 파트 4: 유전 상수 및 유전 손실 탄젠트 값 시험 방법", GB/T 1693-2007 "가황 고무의 유전 상수 및 유전 손실 탄젠트 값 결정", GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, 미국 표준 ASTM D150 및 국제 전기 기술 위원회 IEC 60250에 따라 설계 및 제조되었습니다. 이 시스템은 절연 재료의 고주파 유전 손실 탄젠트 값(tanδ) 및 유전 상수(ε)의 자동 측정을 위한 최상의 솔루션을 제공합니다. 이 기기의 테스트 장치는 평행판 커패시터로 구성되며, 일반적으로 테스트 샘플을 고정하는 데 사용되며 Q-미터가 지시 장치로 장착되어 있습니다. 절연 재료의 유전 손실 탄젠트 값은 테스트 샘플을 평행판 커패시터에 넣었을 때와 넣지 않았을 때의 Q 값 변화와 두께의 눈금 판독값으로 계산됩니다. LRTD 디지털 Q-미터를 사용하면 유전 상수(ε) 및 유전 손실(tanδ)을 자동으로 계산할 수 있습니다.
2. 구성:
LRTD-C 테스트 호스트 1개, 샘플 고정 장치 1개, 인덕터 세트 1개(10개)가 포함됩니다. 액체 재료 테스트를 위해 선택적으로 액체 컵을 사용할 수 있습니다.
3. 기술 매개변수
LRTD 유전 상수/손실 테스트 시스템의 시스템 구성:
주 장치: 고주파 Q-미터
| 기능 범주 | 매개변수 | 사양 / 값 | 참고 |
| 소스 | 신호 소스 유형 | DDS 디지털 합성 신호 | |
| 주파수 범위 | 100 kHz - 160 MHz | ||
| 주파수 커버리지 비율 | 16000:1 | ||
| 주파수 정확도 | 3 × 10⁻⁵ ±1 카운트 (6자리 유효 숫자) | ||
| 샘플링 | 샘플링 정확도 | 12-BIT | Q 안정성 및 낮은 Df 재료 테스트 안정성 보장 |
| Q 측정 | Q 측정 범위 | 1 - 1000 | 자동/수동 범위 |
| Q 해상도 | 0.1 (4자리 유효 숫자) | ||
| Q 측정 오류 | < 5% | ||
| 인덕턴스(L) 측정 | L 측정 범위 | 1 nH - 140 mH | 해상도 0.1 nH (4자리 유효 숫자) |
| L 측정 오류 | < 3% | ||
| 튜닝 커패시터 | 주요 정전 용량 범위 | 17 pF - 240 pF | 고정밀 은도금 모놀리식 구조 |
| 정전 용량 자동 검색 | 예 | 스테퍼 모터 포함 | |
| 직접 C 측정 범위 | 1 pF ~ 25 nF | ||
| 튜닝 커패시터 오류 | ±1 pF 또는 < 1% | ||
| 튜닝 커패시터 해상도 | 0.1 pF | ||
| 공진 | 공진점 검색 | 자동 스캔 | |
| Q 기능 | Q 합격/불합격 사전 설정 범위 | 5 - 1000 | 가청/시각적 표시 |
| Q 범위 전환 | 자동/수동 | ||
| 디스플레이(LCD) | 표시된 매개변수 | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=주파수, L=인덕턴스, C=정전 용량, Q=품질 계수, Lt/Ct=튜닝, tn=?, Σr=직렬 R? |
| 고유 기능 | 자동 잔류 인덕턴스 공제 | 예 | 잔류 인덕턴스 및 리드 인덕턴스(고유) |
| 대용량 정전 용량 직접 표시 | 예 | 최대 25 nF (고유) | |
| 재료 테스트 | 손실 계수(Df) 정확도 | 0.01% (1/10,000) | |
| 유전율(εᵣ) 정확도 | 0.1% (1/1,000) | ||
| 재료 두께 범위 | 0.1 mm - 10 mm | ||
| 유전율 표시 | LCD에 직접 표시 | ||
| 손실 계수 표시 | LCD에 직접 표시 | ||
| 유전율 테스트 주파수 범위 | 100 kHz - 100 MHz |
유전 상수 εr 및 유전 손실 계수 tanδ 테스트 장치:
| 기능 | 사양 | 참고 | |
| 고체 샘플 | 측정 직경 | Ø 38 mm | |
| 두께 범위 | 조절 가능, < 15 mm | 일반적인 범위 | |
| 전극판 | 맞춤형 | (선택적 맞춤화) |
인덕터
| No. | 인덕턴스(L) | 정확도 | Q 팩터 ≥ | 대략적인 분포 정전 용량(Cd) | 공진 주파수 범위(MHz) | 유전율 테스트 권장 주파수 |
| 1 | 0.1 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
| 2 | 0.5 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 MHz |
| 3 | 2.5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 3.4 - 10.55 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1.5 - 4.55 | 1.5 MHz |
| 6 | 100 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0.34 - 1.02 | 0.5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0.148 - 0.39 | 0.25 MHz |
| 9 | 10 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0.107 - 0.32 | 0.1 MHz |
| 10 | 14 nH | ±5% | 100 | 5 pF | ~100 MHz | 100 MHz |
담당자: Ms. Kaitlyn Wang
전화 번호: 19376687282
팩스: 86-769-83078748
