|
รายละเอียดสินค้า:
|
| อัตราส่วนครอบคลุมความถี่: | 16000: 1 | ช่วงความถี่: | 100 kHz - 160 MHz |
|---|---|---|---|
| เส้นผ่านศูนย์กลางการวัด: | Ø 38 มม. | ช่วงความหนา: | <15 มม. |
| การรับประกัน: | 1 ปี | ได้รับการรับรอง: | Includes Calibration Certification |
เครื่องทดสอบค่าเพอร์มิตทิวิตี้ ASTM D 150 เซรามิก คอมโพสิต มิเตอร์ค่าคงที่ไดอิเล็กทริก
1.Description:
ระบบทดสอบค่าคงที่ไดอิเล็กทริกและค่าสูญเสียไดอิเล็กทริกความถี่สูง LRTD ประกอบด้วยอุปกรณ์ทดสอบ (อุปกรณ์จับยึด), เครื่องวัด Q ความถี่สูง, การเก็บข้อมูลและการควบคุมการวัด tanδ อัตโนมัติ (โมดูลซอฟต์แวร์ที่รวมอยู่ใน LRTD) และตัวเหนี่ยวนำ ออกแบบและผลิตตามมาตรฐานแห่งชาติ GB/T 5594.4-2015 "วิธีการทดสอบประสิทธิภาพของวัสดุเซรามิกโครงสร้างของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ - ส่วนที่ 4: วิธีการทดสอบค่าคงที่ไดอิเล็กทริกและค่าแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กทริก", GB/T 1693-2007 "การหาค่าคงที่ไดอิเล็กทริกและค่าแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กทริกของยางวัลคาไนซ์", GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, มาตรฐานอเมริกัน ASTM D150 และคณะกรรมาธิการอิเล็กโทรเทคนิคสากล IEC 60250 ระบบนี้ให้โซลูชันที่ดีที่สุดสำหรับการวัดค่าแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กทริกความถี่สูง (tanδ) และค่าคงที่ไดอิเล็กทริก (ε) ของวัสดุฉนวน อุปกรณ์ทดสอบในเครื่องมือนี้ประกอบด้วยตัวเก็บประจุแบบแบน ซึ่งโดยทั่วไปใช้ในการหนีบตัวอย่างที่ทดสอบและติดตั้งเครื่องวัด Q เป็นเครื่องมือแสดงผล ค่าแทนเจนต์การสูญเสียไดอิเล็กทริกของวัสดุฉนวนคำนวณจากการเปลี่ยนแปลงของค่า Q และการอ่านมาตราส่วนของความหนาเมื่อวางตัวอย่างที่ทดสอบในตัวเก็บประจุแบบแบนและเมื่อไม่ได้วาง ใช้เครื่องวัด Q ดิจิทัล LRTD ทำให้สามารถคำนวณค่าคงที่ไดอิเล็กทริก (ε) และการสูญเสียไดอิเล็กทริก (tanδ) ได้โดยอัตโนมัติ
2. การกำหนดค่า:
ประกอบด้วยโฮสต์ทดสอบ LRTD-C 1 ตัว, อุปกรณ์จับยึดตัวอย่าง 1 ชุด และตัวเหนี่ยวนำ 1 ชุด (10 ชิ้น) มีถ้วยของเหลวเสริมสำหรับทดสอบวัสดุของเหลว
3. พารามิเตอร์ทางเทคนิค
องค์ประกอบของระบบของระบบทดสอบค่าคงที่/การสูญเสียไดอิเล็กทริก LRTD:
หน่วยหลัก: เครื่องวัด Q ความถี่สูง
| หมวดหมู่คุณสมบัติ | พารามิเตอร์ | ข้อมูลจำเพาะ / ค่า | หมายเหตุ |
| แหล่งที่มา | ประเภทแหล่งสัญญาณ | สัญญาณสังเคราะห์แบบดิจิทัล DDS | |
| ช่วงความถี่ | 100 kHz - 160 MHz | ||
| อัตราส่วนความครอบคลุมความถี่ | 16000:1 | ||
| ความแม่นยำของความถี่ | 3 × 10⁻⁵ ±1 นับ (6 หลักสำคัญ) | ||
| การสุ่มตัวอย่าง | ความแม่นยำในการสุ่มตัวอย่าง | 12-BIT | รับประกันความเสถียรของ Q และความเสถียรในการทดสอบวัสดุ Df ต่ำ |
| การวัด Q | ช่วงการวัด Q | 1 - 1000 | ช่วงอัตโนมัติ/แมนนวล |
| ความละเอียด Q | 0.1 (4 หลักสำคัญ) | ||
| ข้อผิดพลาดในการวัด Q | < 5% | ||
| การวัดค่าเหนี่ยวนำ (L) | ช่วงการวัด L | 1 nH - 140 mH | ความละเอียด 0.1 nH (4 หลักสำคัญ) |
| ข้อผิดพลาดในการวัด L | < 3% | ||
| ตัวเก็บประจุปรับแต่ง | ช่วงความจุหลัก | 17 pF - 240 pF | โครงสร้างโมโนลิธิตชุบเงินที่มีความแม่นยำสูง |
| การค้นหาอัตโนมัติความจุ | ใช่ | พร้อมมอเตอร์สเต็ปเปอร์ | |
| ช่วงการวัด C โดยตรง | 1 pF ~ 25 nF | ||
| ข้อผิดพลาดของตัวเก็บประจุปรับแต่ง | ±1 pF หรือ< 1% | ||
| ความละเอียดของตัวเก็บประจุปรับแต่ง | 0.1 pF | ||
| เรโซแนนซ์ | การค้นหาจุดเรโซแนนซ์ | สแกนอัตโนมัติ | |
| คุณสมบัติ Q | ช่วงที่ตั้งไว้ล่วงหน้า Q ผ่าน/ไม่ผ่าน | 5 - 1000 | การแสดงผลด้วยเสียง/ภาพ |
| การสลับช่วง Q | อัตโนมัติ/แมนนวล | ||
| จอแสดงผล (LCD) | พารามิเตอร์ที่แสดง | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Quality Factor, Lt/Ct=tuned, tn=?, Σr=Series R? |
| คุณสมบัติเฉพาะ | การหักค่าเหนี่ยวนำตกค้างอัตโนมัติ | ใช่ | ค่าเหนี่ยวนำตกค้างและค่าเหนี่ยวนำของสายไฟ (เฉพาะ) |
| การแสดงผลโดยตรงความจุขนาดใหญ่ | ใช่ | สูงสุด 25 nF (เฉพาะ) | |
| การทดสอบวัสดุ | ความแม่นยำของตัวประกอบการกระจาย (Df) | 0.01% (1/10,000) | |
| ความแม่นยำของค่าเพอร์มิตทิวิตี้ (εᵣ) | 0.1% (1/1,000) | ||
| ช่วงความหนาของวัสดุ | 0.1 มม. - 10 มม. | ||
| การแสดงผลค่าเพอร์มิตทิวิตี้ | โดยตรงบน LCD | ||
| การแสดงผลตัวประกอบการกระจาย | โดยตรงบน LCD | ||
| ช่วงความถี่ทดสอบค่าเพอร์มิตทิวิตี้ | 100 kHz - 100 MHz |
อุปกรณ์ทดสอบค่าคงที่ไดอิเล็กทริก εr และตัวประกอบการสูญเสียไดอิเล็กทริก tanδ:
| คุณสมบัติ | ข้อมูลจำเพาะ | หมายเหตุ | |
| ตัวอย่างของแข็ง | เส้นผ่านศูนย์กลางการวัด | Ø 38 มม. | |
| ช่วงความหนา | ปรับได้, < 15 มม. | ช่วงทั่วไป | |
| แผ่นอิเล็กโทรด | ปรับแต่งได้ | (การปรับแต่งเสริม) |
ตัวเหนี่ยวนำ
| เลขที่ | ค่าเหนี่ยวนำ (L) | ความแม่นยำ | Q Factor ≥ | ประมาณ ค่าความจุแบบกระจาย (Cd) | ช่วงความถี่เรโซแนนซ์ (MHz) | ความถี่ที่แนะนำสำหรับการทดสอบค่าเพอร์มิตทิวิตี้ |
| 1 | 0.1 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
| 2 | 0.5 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 MHz |
| 3 | 2.5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 3.4 - 10.55 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1.5 - 4.55 | 1.5 MHz |
| 6 | 100 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0.34 - 1.02 | 0.5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0.148 - 0.39 | 0.25 MHz |
| 9 | 10 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0.107 - 0.32 | 0.1 MHz |
| 10 | 14 nH | ±5% | 100 | 5 pF | ~100 MHz | 100 MHz |
ผู้ติดต่อ: Ms. Kaitlyn Wang
โทร: 19376687282
แฟกซ์: 86-769-83078748
