Ürün ayrıntıları:
|
Frekans kapsamı oranı: | 16000: 1 | Frekans aralığı: | 100 kHz - 160 MHz |
---|---|---|---|
Ölçüm çapı: | Ø 38 mm | kalınlık aralığı: | <15 mm |
Garanti: | 1 yıl | Sertifika: | Includes Calibration Certification |
ASTM D 150 Permittivite Test Cihazı Seramik Kompozitler Dielektrik Sabit Ölçer
1.Deçıklama:
LRTD yüksek frekanslı yalıtım malzemesi dielektrik sabiti ve dielektrik kayıp test sistemi, bir test cihazından (kelepçe fikstürü), yüksek frekanslı bir Q-metre, veri toplama ve tanδ otomatik ölçüm kontrolünden (LRTD'ye dahil yazılım modülü) ve bir indüktörden oluşur. Ulusal standartlar GB/T 5594.4-2015 "Elektronik bileşenlerin yapısal seramik malzemelerinin performans test yöntemleri - Bölüm 4: Dielektrik sabiti ve dielektrik kayıp tanjant değeri için test yöntemleri", GB/T 1693-2007 "Vulkanize kauçuğun dielektrik sabiti ve dielektrik kayıp tanjant değerinin belirlenmesi", GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, Amerikan standardı ASTM D150 ve Uluslararası Elektroteknik Komisyonu IEC 60250'ye uygun olarak tasarlanmış ve üretilmiştir. Sistem, yalıtım malzemelerinin yüksek frekanslı dielektrik kayıp tanjant değeri (tanδ) ve dielektrik sabiti (ε) otomatik ölçümü için en iyi çözümü sunar. Bu cihazdaki test cihazı, test edilen numuneyi kelepçelemek için genellikle kullanılan ve bir gösterge cihazı olarak bir Q-metre ile donatılmış bir düz kondansatörden oluşur. Yalıtım malzemesinin dielektrik kayıp tanjant değeri, test edilen numune düz kondansatöre yerleştirildiğinde ve yerleştirilmediğinde Q değerindeki değişiklik ve kalınlığın ölçek okuması ile hesaplanır. LRTD dijital Q-metre kullanmak, dielektrik sabiti (ε) ve dielektrik kayıp (tanδ) otomatik hesaplamasını sağlar.
2.Yapılandırma:
1 LRTD-C test ana bilgisayarı, 1 numune fikstürü ve 1 set indüktör (10 parça) içerir. Sıvı malzemeleri test etmek için isteğe bağlı sıvı kabı mevcuttur.
3.Teknik Parametre
LRTD dielektrik sabiti/kayıp test sisteminin sistem bileşimi:
Ana ünite: Yüksek frekanslı Q-metre
Özellik Kategorisi | Parametre | Şartname / Değer | Notlar |
Kaynak | Sinyal Kaynağı Tipi | DDS Dijital Olarak Sentezlenmiş Sinyal | |
Frekans Aralığı | 100 kHz - 160 MHz | ||
Frekans Kapsama Oranı | 16000:1 | ||
Frekans Doğruluğu | 3 × 10⁻⁵ ±1 sayım (6 anlamlı basamak) | ||
Örnekleme | Örnekleme Doğruluğu | 12-BIT | Q kararlılığını ve düşük Df malzeme test kararlılığını sağlar |
Q Ölçümü | Q Ölçüm Aralığı | 1 - 1000 | Otomatik/Manuel Aralık |
Q Çözünürlüğü | 0.1 (4 anlamlı basamak) | ||
Q Ölçüm Hatası | < %5 | ||
Endüktans (L) Ölçümü | L Ölçüm Aralığı | 1 nH - 140 mH | Çözünürlük 0.1 nH (4 anlamlı basamak) |
L Ölçüm Hatası | < %3 | ||
Ayarlama Kondansatörü | Ana Kapasitans Aralığı | 17 pF - 240 pF | Yüksek hassasiyetli gümüş kaplamalı monolitik yapı |
Kapasitans Otomatik Arama | Evet | Step motorlu | |
Doğrudan C Ölçüm Aralığı | 1 pF ~ 25 nF | ||
Ayarlama Kondansatörü Hatası | ±1 pF veya < %1 | ||
Ayarlama Kondansatörü Çözünürlüğü | 0.1 pF | ||
Rezonans | Rezonans Noktası Arama | Otomatik Tarama | |
Q Özellikleri | Q Geçti/Kaldı Ön Ayar Aralığı | 5 - 1000 | Sesli/Görsel Gösterge |
Q Aralık Değiştirme | Otomatik/Manuel | ||
Ekran (LCD) | Görüntülenen Parametreler | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Frek, L=End, C=Kap, Q=Kalite Faktörü, Lt/Ct=ayarlı, tn=?, Σr=Seri R? |
Benzersiz Özellikler | Otomatik Artık Endüktans Çıkarımı | Evet | Artık endüktans ve kablo endüktansı (Benzersiz) |
Büyük Kapasitans Doğrudan Ekran | Evet | 25 nF'ye kadar (Benzersiz) | |
Malzeme Testi | Dağılım Faktörü (Df) Doğruluğu | %0.01 (1/10.000) | |
Permittivite (εᵣ) Doğruluğu | %0.1 (1/1.000) | ||
Malzeme Kalınlık Aralığı | 0.1 mm - 10 mm | ||
Permittivite Ekranı | Doğrudan LCD'de | ||
Dağılım Faktörü Ekranı | Doğrudan LCD'de | ||
Permittivite Test Frekans Aralığı | 100 kHz - 100 MHz |
Dielektrik sabiti εr ve dielektrik kayıp faktörü tanδ test cihazı:
Özellik | Şartname | Notlar | |
Katı Numuneler | Ölçüm Çapı | Ø 38 mm | |
Kalınlık Aralığı | Ayarlanabilir, < 15 mm | Tipik aralık | |
Elektrot Plakaları | Özelleştirilebilir | (İsteğe bağlı özelleştirme) |
Endüktörler
No. | Endüktans (L) | Doğruluk | Q Faktörü ≥ | Yaklaşık Dağıtılmış Kapasitans (Cd) | Rezonans Frekans Aralığı (MHz) | Permittivite Testi için Önerilen Frekans |
1 | 0.1 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
2 | 0.5 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 MHz |
3 | 2.5 μH | ±%5 | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
4 | 10 μH | ±%5 | 200 | 6 pF | 3.4 - 10.55 | 5 MHz |
5 | 50 μH | ±%5 | 200 | 6 pF | 1.5 - 4.55 | 1.5 MHz |
6 | 100 μH | ±%5 | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 MHz |
7 | 1 mH | ±%5 | 150 | 8 pF | 0.34 - 1.02 | 0.5 MHz |
8 | 5 mH | ±%5 | 130 | 8 pF | 0.148 - 0.39 | 0.25 MHz |
9 | 10 mH | ±%5 | 90 | 8 pF | 0.107 - 0.32 | 0.1 MHz |
10 | 14 nH | ±%5 | 100 | 5 pF | ~100 MHz | 100 MHz |
İlgili kişi: Ms. Kaitlyn Wang
Tel: 19376687282
Faks: 86-769-83078748