logo
Ana sayfa ÜrünlerSeramik testi

ASTM D 150 Permittivity Tester Keramik Kompozitleri Dielektrik Sabit Meter

Ben sohbet şimdi

ASTM D 150 Permittivity Tester Keramik Kompozitleri Dielektrik Sabit Meter

ASTM D 150 Permittivity Tester Keramik Kompozitleri Dielektrik Sabit Meter
ASTM D 150 Permittivity Tester Keramik Kompozitleri Dielektrik Sabit Meter

Büyük resim :  ASTM D 150 Permittivity Tester Keramik Kompozitleri Dielektrik Sabit Meter

Ürün ayrıntıları:
Menşe yeri: Çin
Marka adı: Lonroy
Sertifika: CE ISO ASTM
Model numarası: LRTD
Ödeme & teslimat koşulları:
Min sipariş miktarı: 1
Fiyat: Negotaible
Ambalaj bilgileri: ahşap paket
Teslim süresi: 5-8 iş günü
Ödeme koşulları: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Yetenek temini: 200

ASTM D 150 Permittivity Tester Keramik Kompozitleri Dielektrik Sabit Meter

Açıklama
Frekans kapsamı oranı: 16000: 1 Frekans aralığı: 100 kHz - 160 MHz
Ölçüm çapı: Ø 38 mm kalınlık aralığı: <15 mm
Garanti: 1 yıl Sertifika: Includes Calibration Certification

ASTM D 150 Permittivite Test Cihazı Seramik Kompozitler Dielektrik Sabit Ölçer

1.Deçıklama:

LRTD yüksek frekanslı yalıtım malzemesi dielektrik sabiti ve dielektrik kayıp test sistemi, bir test cihazından (kelepçe fikstürü), yüksek frekanslı bir Q-metre, veri toplama ve tanδ otomatik ölçüm kontrolünden (LRTD'ye dahil yazılım modülü) ve bir indüktörden oluşur. Ulusal standartlar GB/T 5594.4-2015 "Elektronik bileşenlerin yapısal seramik malzemelerinin performans test yöntemleri - Bölüm 4: Dielektrik sabiti ve dielektrik kayıp tanjant değeri için test yöntemleri", GB/T 1693-2007 "Vulkanize kauçuğun dielektrik sabiti ve dielektrik kayıp tanjant değerinin belirlenmesi", GB/T 1409-2006, GB/T 1693-2007, Amerikan standardı ASTM D150 ve Uluslararası Elektroteknik Komisyonu IEC 60250'ye uygun olarak tasarlanmış ve üretilmiştir. Sistem, yalıtım malzemelerinin yüksek frekanslı dielektrik kayıp tanjant değeri (tanδ) ve dielektrik sabiti (ε) otomatik ölçümü için en iyi çözümü sunar. Bu cihazdaki test cihazı, test edilen numuneyi kelepçelemek için genellikle kullanılan ve bir gösterge cihazı olarak bir Q-metre ile donatılmış bir düz kondansatörden oluşur. Yalıtım malzemesinin dielektrik kayıp tanjant değeri, test edilen numune düz kondansatöre yerleştirildiğinde ve yerleştirilmediğinde Q değerindeki değişiklik ve kalınlığın ölçek okuması ile hesaplanır. LRTD dijital Q-metre kullanmak, dielektrik sabiti (ε) ve dielektrik kayıp (tanδ) otomatik hesaplamasını sağlar.

2.Yapılandırma:

1 LRTD-C test ana bilgisayarı, 1 numune fikstürü ve 1 set indüktör (10 parça) içerir. Sıvı malzemeleri test etmek için isteğe bağlı sıvı kabı mevcuttur.

3.Teknik Parametre

LRTD dielektrik sabiti/kayıp test sisteminin sistem bileşimi:

Ana ünite: Yüksek frekanslı Q-metre

Özellik Kategorisi Parametre Şartname / Değer Notlar
Kaynak Sinyal Kaynağı Tipi DDS Dijital Olarak Sentezlenmiş Sinyal  
  Frekans Aralığı 100 kHz - 160 MHz  
  Frekans Kapsama Oranı 16000:1  
  Frekans Doğruluğu 3 × 10⁻⁵ ±1 sayım (6 anlamlı basamak)  
Örnekleme Örnekleme Doğruluğu 12-BIT Q kararlılığını ve düşük Df malzeme test kararlılığını sağlar
Q Ölçümü Q Ölçüm Aralığı 1 - 1000 Otomatik/Manuel Aralık
  Q Çözünürlüğü 0.1 (4 anlamlı basamak)  
  Q Ölçüm Hatası < %5  
Endüktans (L) Ölçümü L Ölçüm Aralığı 1 nH - 140 mH Çözünürlük 0.1 nH (4 anlamlı basamak)
  L Ölçüm Hatası < %3  
Ayarlama Kondansatörü Ana Kapasitans Aralığı 17 pF - 240 pF Yüksek hassasiyetli gümüş kaplamalı monolitik yapı
  Kapasitans Otomatik Arama Evet Step motorlu
  Doğrudan C Ölçüm Aralığı 1 pF ~ 25 nF  
  Ayarlama Kondansatörü Hatası ±1 pF veya < %1  
  Ayarlama Kondansatörü Çözünürlüğü 0.1 pF  
Rezonans Rezonans Noktası Arama Otomatik Tarama  
Q Özellikleri Q Geçti/Kaldı Ön Ayar Aralığı 5 - 1000 Sesli/Görsel Gösterge
  Q Aralık Değiştirme Otomatik/Manuel  
Ekran (LCD) Görüntülenen Parametreler F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr F=Frek, L=End, C=Kap, Q=Kalite Faktörü, Lt/Ct=ayarlı, tn=?, Σr=Seri R?
Benzersiz Özellikler Otomatik Artık Endüktans Çıkarımı Evet Artık endüktans ve kablo endüktansı (Benzersiz)
  Büyük Kapasitans Doğrudan Ekran Evet 25 nF'ye kadar (Benzersiz)
Malzeme Testi Dağılım Faktörü (Df) Doğruluğu %0.01 (1/10.000)  
  Permittivite (εᵣ) Doğruluğu %0.1 (1/1.000)  
  Malzeme Kalınlık Aralığı 0.1 mm - 10 mm  
  Permittivite Ekranı Doğrudan LCD'de  
  Dağılım Faktörü Ekranı Doğrudan LCD'de  
  Permittivite Test Frekans Aralığı 100 kHz - 100 MHz  

 

Dielektrik sabiti εr ve dielektrik kayıp faktörü tanδ test cihazı:

Özellik Şartname Notlar  
Katı Numuneler Ölçüm Çapı Ø 38 mm  
  Kalınlık Aralığı Ayarlanabilir, < 15 mm Tipik aralık
  Elektrot Plakaları Özelleştirilebilir (İsteğe bağlı özelleştirme)

 

Endüktörler

No. Endüktans (L) Doğruluk Q Faktörü ≥ Yaklaşık Dağıtılmış Kapasitans (Cd) Rezonans Frekans Aralığı (MHz) Permittivite Testi için Önerilen Frekans
1 0.1 μH ±0.05 μH 200 5 pF 31 - 103 50 MHz
2 0.5 μH ±0.05 μH 200 5 pF 14.8 - 46.6 15 MHz
3 2.5 μH ±%5 200 5 pF 6.8 - 21.4 10 MHz
4 10 μH ±%5 200 6 pF 3.4 - 10.55 5 MHz
5 50 μH ±%5 200 6 pF 1.5 - 4.55 1.5 MHz
6 100 μH ±%5 200 6 pF 1.06 - 3.20 1 MHz
7 1 mH ±%5 150 8 pF 0.34 - 1.02 0.5 MHz
8 5 mH ±%5 130 8 pF 0.148 - 0.39 0.25 MHz
9 10 mH ±%5 90 8 pF 0.107 - 0.32 0.1 MHz
10 14 nH ±%5 100 5 pF ~100 MHz 100 MHz

 

 

İletişim bilgileri
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

İlgili kişi: Ms. Kaitlyn Wang

Tel: 19376687282

Faks: 86-769-83078748

Sorgunuzu doğrudan bize gönderin (0 / 3000)