Detail produk:
|
Rasio Cakupan Frekuensi: | 16000: 1 | Rentang frekuensi: | 100 kHz - 160 MHz |
---|---|---|---|
Diameter pengukuran: | Ø 38 mm | Kisaran ketebalan: | <15 mm |
Jaminan: | 1 tahun | Sertifikasi: | Includes Calibration Certification |
ASTM D 150 Permittivity Tester Keramik Komposit Dielektrik Konstan Meter
1.DeScription:
Sistem pengujian konstanta dielektrik dan kehilangan dielektrik bahan isolasi frekuensi tinggi LRTD terdiri dari perangkat pengujian (perlengkapan penjepit), Q-meter frekuensi tinggi,Akuisisi data dan kontrol pengukuran otomatis (module perangkat lunak yang terintegrasi ke LRTD)Ini dirancang dan diproduksi sesuai dengan standar nasional GB / T 5594.4-2015 "Metode pengujian untuk kinerja bahan keramik struktural komponen elektronik - Bagian 4: Metode pengujian untuk konstanta dielektrik dan nilai tangen kerugian dielektrik", GB/T 1693-2007 "Tentukan konstanta dielektrik dan nilai tangen kerugian dielektrik karet vulkanis", GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007, standar ASTM D150 Amerika, dan IEC 60250 dari International Electrotechnical CommissionSistem ini memberikan solusi terbaik untuk pengukuran otomatis nilai tangen kerugian dielektrik frekuensi tinggi (tanδ) dan konstanta dielektrik (ε) dari bahan isolasiPerangkat pengujian dalam instrumen ini terdiri dari kondensator datar, yang umumnya digunakan untuk menggenggam sampel yang diuji dan dilengkapi dengan Q-meter sebagai instrumen indikasi. The dielectric loss tangent value of the insulation material is calculated by the change in Q value and the scale reading of thickness when the tested sample is placed in the flat capacitor and when it is not placedMenggunakan Q-meter digital LRTD memungkinkan perhitungan otomatis konstanta dielektrik (ε) dan kerugian dielektrik (tanδ).
2.Konfigurasi:
Termasuk 1 host uji LRTD-C, 1 perlengkapan sampel, dan 1 set induktor (10 buah).
3Parameter teknis
Komposisi sistem dari sistem uji konstan/kehilangan dielektrik LRTD:
Unit utama: Q-meter frekuensi tinggi
Kategori Fitur | Parameter | Spesifikasi / Nilai | Catatan |
Sumber | Jenis Sumber Sinyal | DDS Sinyal yang disintesis secara digital | |
Jangkauan Frekuensi | 100 kHz - 160 MHz | ||
Rasio Cakupan Frekuensi | 16000:1 | ||
Keakuratan Frekuensi | 3 × 10−5 ±1 hitungan (6 digit signifikan) | ||
Pengambilan sampel | Keakuratan Sampling | 12-BIT | Memastikan stabilitas Q & stabilitas pengujian bahan Df rendah |
Q Pengukuran | Q Jangkauan pengukuran | 1 - 1000 | Jangkauan otomatis/manual |
Q Resolusi | 0.1 (4 digit signifikan) | ||
Q Kesalahan pengukuran | < 5% | ||
Induktansi (L) Pengukuran | L Jangkauan pengukuran | 1 nH - 140 mH | Resolusi 0,1 nH (4 digit signifikan) |
L Kesalahan pengukuran | < 3% | ||
Tuning Capacitor | Jangkauan Kapasitas Utama | 17 - 240 pF | Struktur monolitik berlapis perak presisi tinggi |
Pencarian Otomatis Kapasitas | Ya, aku tahu. | Dengan motor stepper | |
Jangkauan pengukuran langsung C | 1 pF ~ 25 nF | ||
Kesalahan Pengatur Kondensator | ± 1 pF atau < 1% | ||
Resolusi Kondensator Tuning | 0.1 pF | ||
Resonansi | Pencarian Titik Resonansi | Otomatis Scan | |
Q Fitur | Q Pass/Fail range preset | 5 - 1000 | Indikasi audio/visual |
Q Mengubah Jangkauan | Otomatis / Manual | ||
Tampilan (LCD) | Parameter yang ditampilkan | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Quality Factor, Lt/Ct=tuned, tn=?, Σr=Series R? |
Fitur Unik | Pengurangan Induktansi Sisa Otomatis | Ya, aku tahu. | Induktansi residual & induktansi timbal (Unik) |
Tampilan langsung kapasitas besar | Ya, aku tahu. | Hingga 25 nF (Unik) | |
Pengujian Bahan | Keakuratan Faktor Dissipasi (Df) | 0.01% (1/10.000) | |
Permittivitas (εr) Keakuratan | 00,1% (1/1000) | ||
Jangkauan Ketebalan Bahan | 0.1 mm - 10 mm | ||
Tampilan Permittivitas | Langsung di LCD | ||
Tampilan Faktor Dissipasi | Langsung di LCD | ||
Jangkauan frekuensi pengujian permittivitas | 100 kHz - 100 MHz |
Perangkat pengujian konstanta dielektrik εr dan faktor kerugian dielektrik tanδ:
Fitur | Spesifikasi | Catatan | |
Sampel Padat | Diameter Pengukuran | Ø 38 mm | |
Kisaran ketebalan | Diatur, < 15 mm | Jangkauan khas | |
Plat elektroda | Dapat disesuaikan | (Optional kustomisasi) |
Induktor
Tidak, tidak. | Induktansi (L) | Keakuratan | Faktor Q ≥ | Kapasitas Terdistribusi (C)d) | Rentang Frekuensi Resonansi (MHz) | Frekuensi yang direkomendasikan untuk pengujian permittivitas |
1 | 0.1 μH | ± 0,05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
2 | 0.5 μH | ± 0,05 μH | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 MHz |
3 | 2.5 μH | ± 5% | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
4 | 10 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 3.4 - 10.55 | 5 MHz |
5 | 50 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 1.5 - 4.55 | 1.5 MHz |
6 | 100 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 MHz |
7 | 1 mH | ± 5% | 150 | 8 pF | 0.34 - 1.02 | 0.5 MHz |
8 | 5 mH | ± 5% | 130 | 8 pF | 0.148 - 0.39 | 0.25 MHz |
9 | 10 mH | ± 5% | 90 | 8 pF | 0.107 - 0.32 | 0.1 MHz |
10 | 14 nH | ± 5% | 100 | 5 pF | ~100 MHz | 100 MHz |
Kontak Person: Ms. Kaitlyn Wang
Tel: 19376687282
Faks: 86-769-83078748