|
Подробная информация о продукте:
|
| Коэффициент перекрытия частот: | 16000:1 | Диапазон частот: | 100 кГц - 160 МГц |
|---|---|---|---|
| Measurement Diameter: | Диаметр измерения | Диапазон толщины: | < 15 мм |
| Гарантия: | 1 Год | Сертификация: | Includes Calibration Certification |
| Выделить: | Тест пропускной способности керамики,Тестора пропускной способности ASTM D 150,Тестирующий пропускную способность композитов |
||
ASTM D 150 Пропускной способность тестер керамика композиты диэлектрический постоянный метр
1. ДeСписание:
Система испытаний диэлектрической константы и диэлектрических потерь высокочастотного изоляционного материала LRTD состоит из испытательного устройства (зажимательного устройства), высокочастотного Q-метра,Сбор данных и автоматическое управление измерениями (программный модуль, встроенный в LRTD)Он спроектирован и изготовлен в соответствии с национальными стандартами GB/T 5594.4-2015 "Методы испытаний характеристик конструкционных керамических материалов электронных компонентов - Часть 4: Методы испытаний диэлектрической константы и значения тангенса диэлектрических потерь", GB/T 1693-2007 "Определение диэлектрической константы и значения тангенса диэлектрических потерь вулканизированного каучука", GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007, американский стандарт ASTM D150 и Международная электротехническая комиссия IEC 60250.Система обеспечивает лучшее решение для автоматического измерения значения тангенса высокочастотных диэлектрических потерь (tanδ) и диэлектрической постоянной (ε) изоляционных материаловУстройство испытания в этом приборе состоит из плоского конденсатора, который обычно используется для зажима испытуемого образца и оснащен Q-метром в качестве индикатора. The dielectric loss tangent value of the insulation material is calculated by the change in Q value and the scale reading of thickness when the tested sample is placed in the flat capacitor and when it is not placedИспользование цифрового Q-метра LRTD позволяет автоматически рассчитывать диэлектрическую постоянную (ε) и диэлектрическую потерю (tanδ).
2Конфигурация:
Включает в себя 1 LRTD-C тестовый хост, 1 образцовый прибор и 1 набор индукторов (10 штук).
3Технический параметр
Состав системы LRTD для испытания диэлектрической постоянной/потери:
Основное устройство: высокочастотный Q-метр
| Категория характеристик | Параметр | Спецификация / Стоимость | Примечания |
| Источник | Тип источника сигнала | DDS Цифровой синтезированный сигнал | |
| Диапазон частот | 100 кГц - 160 МГц | ||
| Соотношение охвата частотой | 16000:1 | ||
| Точность частоты | 3 × 10−5 ± 1 подсчет (6 значимых цифр) | ||
| Отбор проб | Точность отбора проб | 12-битный | Обеспечивает Q-стабильность и низкую Df-стабильность испытания материала |
| Q Измерение | Q Диапазон измерений | 1 - 1000 | Автоматический/ручный диапазон |
| Q Резолюция | 0.1 (4 значимых цифры) | ||
| Q Ошибка измерения | < 5% | ||
| Измерение индуктивности (L) | L Диапазон измерений | 1 nH - 140 mH | Разрешение 0,1 nH (4 значимые цифры) |
| L Ошибка измерения | < 3% | ||
| Конденсатор настройки | Основной диапазон емкости | 17 - 240 пФ | Высокоточная серебристая монолитная конструкция |
| Автоматический поиск емкости | Да, да. | С шаговым двигателем | |
| Директный диапазон измерения C | 1 pF ~ 25 nF | ||
| Ошибка настройки конденсатора | ± 1 pF или < 1% | ||
| Разрешение настройки конденсатора | 0.1 pF | ||
| Резонанс | Поиск резонансной точки | Авто сканирование | |
| Q Особенности | Q Пройти/не пройти предварительно установленный диапазон | 5 - 1000 | Звуковое/визуальное обозначение |
| Q переключение диапазона | Автоматический/ручный | ||
| Дисплей (LCD) | Показанные параметры | F, L, C, Q, Lt, Ct, tn, Σr | F=Freq, L=Ind, C=Cap, Q=Quality Factor, Lt/Ct=tuned, tn=?, Σr=Series R? |
| Уникальные особенности | Автомобильное вычитание остаточной индуктивности | Да, да. | Остаточная индуктивность и индуктивность свинца (уникальная) |
| Большое емкость прямого отображения | Да, да. | До 25 nF (уникальный) | |
| Проверка материалов | Фактор рассеивания (Df) | 00,01% (1/10,000) | |
| Пропускная способность (εr) Точность | 00,1% (1/1000) | ||
| Диапазон толщины материала | 0.1 мм - 10 мм | ||
| Дисплей допустимости | Прямо на ЖК | ||
| Отображение фактора рассеивания | Прямо на ЖК | ||
| Диапазон частот испытаний пропускной способности | 100 кГц - 100 МГц |
Устройство для испытания диэлектрической постоянной εr и диэлектрического фактора потери tanδ:
| Особенность | Спецификация | Примечания | |
| Пробы твердого вещества | Диаметр измерения | Ø 38 мм | |
| Диапазон толщины | Регулируемый, < 15 мм | Типичный диапазон | |
| Электродные пластины | Настраиваемый | (Необязательное настройка) |
Индукторы
| Нет, нет, нет. | Индуктивность (L) | Точность | Q-фактор ≥ | Распределенная емкость (C)d) | Диапазон резонансной частоты (MHz) | Рекомендуемая частота испытаний допустимости |
| 1 | 0.1 μH | ± 0,05 мкГ | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 МГц |
| 2 | 0.5 μH | ± 0,05 мкГ | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 МГц |
| 3 | 2.5 μH | ± 5% | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 МГц |
| 4 | 10 μH | ± 5% | 200 | 6 pF | 3.4 - 10.55 | 5 МГц |
| 5 | 50 мкГ | ± 5% | 200 | 6 pF | 1.5 - 4.55 | 10,5 МГц |
| 6 | 100 мкГ | ± 5% | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 МГц |
| 7 | 1 мГ | ± 5% | 150 | 8 пФ | 0.34 - 1.02 | 00,5 МГц |
| 8 | 5 мГ | ± 5% | 130 | 8 пФ | 0.148 - 0.39 | 0.25 МГц |
| 9 | 10 мГ | ± 5% | 90 | 8 пФ | 0.107 - 0.32 | 0.1 МГц |
| 10 | 14 nH | ± 5% | 100 | 5 pF | ~100 МГц | 100 МГц |
Контактное лицо: Ms. Kaitlyn Wang
Телефон: 19376687282
Факс: 86-769-83078748