|
تفاصيل المنتج:
|
| يكتب: | آلة الاختبار | فئة الدقة: | دقة عالية |
|---|---|---|---|
| دقة: | / | طلب: | اختبار السيارات |
| دعم مخصص: | تصنيع المعدات الأصلية، أوديإم، OBM | قوة: | - |
| فئة الحماية: | IP56 | الجهد االكهربى: | 220 v |
| ضمان: | 1 سنة | وقت قياس واحد: | S15s |
| دقة قياس التكرار: | 0.01 نانومتر | حجم البقعة: | بقعة كبيرة 2-4 مم، بقعة صغيرة 200um/100um |
| دقة تكرار معامل الانكسار: | 0.0005 | ||
| إبراز: | اختبار سمك الفيلم من جهاز الكهرومغناطيس الكهروضوئي,آلة اختبار المختبر للخلايا الكهروضوئية,اختبار الثوابت البصرية للخلايا الشمسية |
||
جهاز اختبار سمك الفيلم بمقياس القطع الطيفي الخاص بالخلايا الكهروضوئية، آلة اختبار الثوابت الضوئية للخلية الكهروضوئية
I. نظرة عامة
سلسلة SE-PV عبارة عن مقياس إهليلجي طيفي خاص بالخلايا الكهروضوئية تم تطويره بواسطةلونروي. استنادًا إلى تقنية تعديل المعوضات الدوارة، يمكنها الحصول في الوقت نفسه على إشارات الاستقطاب مثل Psi/Delta وN/C/S. يمكن لهذه الأداة أن تحدد بسرعة سماكة الفيلم والثوابت البصرية لكل من العينات المركبة وغير المركبة في الصناعة الكهروضوئية. يستخدم SE-PV مصدر ضوء عالي الطاقة ويتميز بتصميم مسار بصري جديد تمامًا، مما يعزز بشكل كبير نسبة الإشارة إلى الضوضاء للإشارات المكتشفة. إنها تعتمد مرحلة عينة متكاملة أفقية/مائلة، مما يسمح بالتبديل السريع والسهل بين أوضاع القياس لإكمال القياسات على كل من العينات المركبة وغير المركبة.
ثانيا. ميزات المنتج
1.تكوين المعوض ثنائي الدوار
2.التبديل السريع إلى وضع القياس (مفتاح بنقرة واحدة)
ثالثا. تطبيقات المنتج
يمكن للتصميم الفريد لـ SE-PV أن يلبي متطلبات القياس للأغشية الرقيقة على الركائز المخملية. وكما هو موضح في العينة في الشكل أدناه، فإن تصميم السطح المخملي وطبقة طلاءه المضادة للانعكاس يهدف إلى تقليل انعكاس ضوء الشمس على سطح لوح البطارية، مما يجعل إشارة الكشف أضعف ويزيد بشكل كبير من صعوبة القياس البصري.
جهاز اختبار سمك الفيلم بمقياس القطع الطيفي الخاص بالخلايا الكهروضوئية، آلة اختبار الثوابت الضوئية للخلية الكهروضوئية
المواصفات الفنية
|
نموذج |
SE-PV |
|
تحديد موضع التطبيق |
النوع العام |
|
الوظائف الأساسية |
Psi/Delta، N/C/S، R/T وأطياف أخرى |
|
الطيف التحليلي |
380-1000 نانومتر (يدعم التوسع إلى 193-1650 نانومتر) |
|
وقت قياس واحد |
S15s |
|
دقة قياس التكرار |
0.01 نانومتر |
|
حجم البقعة |
بقعة كبيرة 2-4 مم، بقعة صغيرة 200um/100um |
|
دقة تكرار معامل الانكسار |
0.0005
|
|
نطاق زاوية الحادث |
45-90 درجة (خطوة 5 درجات) |
|
طريقة تعديل زاوية الحادث |
زاوية متغيرة يدويا |
|
طريقة التركيز |
التركيز اليدوي |
|
رسم الخرائط السكتة الدماغية |
غير معتمد |
|
حجم العينة المدعومة |
يصل إلى 180 ملم |
![]()
![]()
![]()
![]()
![]()
اتصل شخص: Kaitlyn Wang
الهاتف :: 19376687282
الفاكس: 86-769-83078748