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उत्पाद विवरण:
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| प्रकार: | परीक्षण मशीन | सटीकता वर्ग: | उच्च सटीकता |
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| शुद्धता: | / | आवेदन: | स्वत: परीक्षण |
| अनुकूलित समर्थन: | ओईएम, ओडीएम, ओबीएम | शक्ति: | - |
| संरक्षण वर्ग: | आईपी56 | वोल्टेज: | 220 वी |
| गारंटी: | 1 वर्ष | एकल माप समय: | S15s |
| पुनरावृत्ति माप सटीकता: | 0.01एनएम | हाजिर आकार: | बड़ा स्पॉट 2-4 मिमी, माइक्रो स्पॉट 200um/100um |
| अपवर्तक सूचकांक पुनरावृत्ति सटीकता: | 0.0005 | ||
| प्रमुखता देना: | फोटोवोल्टिक एलिप्सोमीटर फिल्म मोटाई परीक्षक,फोटोवोल्टिक कोशिकाओं के लिए प्रयोगशाला परीक्षण मशीन,सौर कोशिकाओं के लिए ऑप्टिकल स्थिरांक परीक्षक |
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फोटोवोल्टिक-विशिष्ट स्पेक्ट्रल एलिप्सोमीटर फिल्म मोटाई परीक्षक फोटोवोल्टिक सेल ऑप्टिकल स्थिरांक परीक्षण मशीन
I. अवलोकन
एसई-पीवी श्रृंखला एक फोटोवोल्टिक विशिष्ट स्पेक्ट्रल एलिप्सोमीटर है जिसेलोनरोयघुमावदार मुआवजाकर्ताओं की मॉड्यूलेशन तकनीक के आधार पर, यह एक साथ ध्रुवीकरण संकेत जैसे पीएसआई/डेल्टा, एन/सी/एस प्राप्त कर सकता है।यह उपकरण फोटोवोल्टिक उद्योग में बनावट और गैर बनावट दोनों नमूनों की फिल्म मोटाई और ऑप्टिकल स्थिरांक की तेजी से विशेषता कर सकता हैएसई-पीवी एक उच्च शक्ति वाले प्रकाश स्रोत का उपयोग करता है और इसमें एक नया ऑप्टिकल पथ डिजाइन है, जो पता लगाए गए संकेतों के संकेत-शोर अनुपात को काफी बढ़ाता है।यह एक क्षैतिज/झुकने वाले एकीकृत नमूना चरण को अपनाता है, जो बनावट वाले और गैर बनावट वाले नमूनों दोनों पर माप को पूरा करने के लिए माप मोड के बीच त्वरित और आसान स्विच की अनुमति देता है।
II. उत्पाद की विशेषताएं
1.दो-रोटर मुआवजाकर्ता विन्यास
2.माप मोड में त्वरित स्विच (एक क्लिक स्विच)
III. उत्पाद अनुप्रयोग
एसई-पीवी का अनूठा डिजाइन मखमल के सब्सट्रेट पर पतली फिल्मों की माप आवश्यकताओं को पूरा कर सकता है। जैसा कि नीचे दिए गए चित्र में नमूने में दिखाया गया है,मखमल की सतह और इसकी प्रतिबिंब विरोधी कोटिंग परत का डिजाइन बैटरी शीट की सतह पर सूर्य के प्रकाश के प्रतिबिंब को कम करने के उद्देश्य से है, जिससे पता लगाने का संकेत कमजोर हो जाता है और ऑप्टिकल माप की कठिनाई काफी बढ़ जाती है।
फोटोवोल्टिक-विशिष्ट स्पेक्ट्रल एलिप्सोमीटर फिल्म मोटाई परीक्षक फोटोवोल्टिक सेल ऑप्टिकल स्थिरांक परीक्षण मशीन
तकनीकी विनिर्देश
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मॉडल |
एसई-पीवी |
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अनुप्रयोग की स्थिति |
सामान्य प्रकार |
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मूल कार्य |
पीसी/डेल्टा, एन/सी/एस, आर/टी और अन्य स्पेक्ट्रम |
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विश्लेषणात्मक स्पेक्ट्रम |
380-1000nm (सपोर्ट एक्सपेंशन 193-1650nm तक) |
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एकल माप समय |
S15s |
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पुनरावृत्ति माप की सटीकता |
0.01nm |
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स्पॉट का आकार |
बड़ा स्पॉट 2-4 मिमी, माइक्रो स्पॉट 200um/100um |
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अपवर्तन सूचकांक दोहराव की सटीकता |
0.0005
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घटना कोण सीमा |
45-90° (5° कदम) |
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घटना कोण समायोजन विधि |
मैनुअल चर कोण |
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फोकस विधि |
मैनुअल फोकस |
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मैपिंग स्ट्रोक |
समर्थित नहीं |
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समर्थित नमूना आकार |
180 मिमी तक |
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व्यक्ति से संपर्क करें: Kaitlyn Wang
दूरभाष: 19376687282
फैक्स: 86-769-83078748