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Produktdetails:
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| Typ: | Testmaschine | Genauigkeitsklasse: | Hohe Genauigkeit |
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| Genauigkeit: | / | Anwendung: | Autotests |
| Maßgeschneiderte Unterstützung: | OEM, ODM, OBM | Leistung: | - |
| Schutzklasse: | IP56 | Stromspannung: | 220 V |
| Garantie: | 1 Jahr | Einzelmesszeit: | S15s |
| Genauigkeit der Wiederholbarkeitsmessung: | 0.01Nm | Spotgröße: | Großer Spot 2–4 mm, Mikrospot 200 µm/100 µm |
| Wiederholgenauigkeit des Brechungsindex: | 0,0005 | ||
| Hervorheben: | Photovoltaik-Spektral-Ellipsometer-Film-Tester,Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Maschine,Labortestmaschine mit Garantie |
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Photovoltaik-spezifischer Spektral-Ellipsometer-Filmdickenprüfer Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Testmaschine
I. Überblick
Die SE-PV-Serie ist ein photovoltaikspezifischer Spektral-Ellipsometer, der von Lonroy entwickelt wurde. Basierend auf der Modulationstechnologie rotierender Kompensatoren kann es gleichzeitig Polarisationssignale wie Psi/Delta, N/C/S erhalten. Dieses Instrument kann schnell die Filmdicke und die optischen Konstanten sowohl texturierter als auch nicht-texturierter Proben in der Photovoltaikindustrie charakterisieren. Das SE-PV verwendet eine Hochleistungslichtquelle und verfügt über ein brandneues optisches Pfad-Design, das das Signal-Rausch-Verhältnis der detektierten Signale deutlich verbessert. Es verwendet einen horizontalen/geneigten integrierten Probentisch, der ein schnelles und einfaches Umschalten zwischen den Messmodi ermöglicht, um Messungen an texturierten und nicht-texturierten Proben durchzuführen.
II. Produktmerkmale
1. Doppelrotor-Kompensatorkonfiguration
2. Schnelles Umschalten in den Messmodus (One-Click-Switch)
III. Produktanwendungen
Das einzigartige Design des SE-PV kann die Messanforderungen für Dünnschichten auf Samtsubstraten erfüllen. Wie in der Probe in der Abbildung unten gezeigt, zielt das Design der Samtoberfläche und ihrer Antireflexionsbeschichtung darauf ab, die Reflexion des Sonnenlichts auf der Oberfläche der Batteriezelle zu reduzieren, was das Detektionssignal schwächer macht und die Schwierigkeit der optischen Messung erheblich erhöht.
Photovoltaik-spezifischer Spektral-Ellipsometer-Filmdickenprüfer Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Testmaschine
Technische Spezifikation
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Modell |
SE-PV |
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Anwendungspositionierung |
Allgemeiner Typ |
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Grundfunktionen |
Psi/Delta, N/C/S, R/T und andere Spektren |
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Analytisches Spektrum |
380-1000nm (Unterstützung der Erweiterung auf 193-1650nm) |
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Einzelmesszeit |
≤15s |
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Wiederholbarkeitsmessgenauigkeit |
0,01 nm |
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Spotgröße |
Großer Spot 2-4 mm, Mikro-Spot 200 um/100 um |
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Brechungsindex-Wiederholgenauigkeit |
0,0005
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Einfallswinkelbereich |
45-90° (5°-Schritt) |
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Einfallswinkel-Einstellmethode |
Manuelle Winkelverstellung |
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Fokusmethode |
Manuelle Fokussierung |
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Mapping-Hub |
Nicht unterstützt |
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Unterstützte Probengröße |
Bis zu 180 mm |
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Ansprechpartner: Kaitlyn Wang
Telefon: 19376687282
Faxen: 86-769-83078748