|
Produktdetails:
|
| Typ: | Testmaschine | Genauigkeitsklasse: | Hohe Genauigkeit |
|---|---|---|---|
| Genauigkeit: | / | Anwendung: | Autotests |
| Maßgeschneiderte Unterstützung: | OEM, ODM, OBM | Leistung: | - |
| Schutzklasse: | IP56 | Stromspannung: | 220 V |
| Garantie: | 1 Jahr | Einzelmesszeit: | S15s |
| Genauigkeit der Wiederholbarkeitsmessung: | 0.01Nm | Spotgröße: | Großer Spot 2–4 mm, Mikrospot 200 µm/100 µm |
| Wiederholgenauigkeit des Brechungsindex: | 0,0005 | ||
| Hervorheben: | Photovoltaik-Ellipsometer-Filmdickenheitsprüfer,Labortestmaschine für Photovoltaikzellen,Optische Konstantenprüfer für Solarzellen |
||
Photovoltaik-spezifisches Spektralellipsometer, Filmdickentester, Prüfmaschine für optische Konstanten von Photovoltaikzellen
I. Übersicht
Die SE-PV-Serie ist ein photovoltaikspezifisches Spektralellipsometer, das von entwickelt wurdeLonroy. Basierend auf der Modulationstechnologie rotierender Kompensatoren können gleichzeitig Polarisationssignale wie Psi/Delta, N/C/S erhalten werden. Dieses Instrument kann die Filmdicke und optischen Konstanten sowohl von strukturierten als auch von nicht-texturierten Proben in der Photovoltaikindustrie schnell charakterisieren. Der SE-PV nutzt eine Hochleistungslichtquelle und verfügt über ein völlig neues optisches Pfaddesign, das das Signal-Rausch-Verhältnis der erkannten Signale deutlich verbessert. Es verfügt über einen horizontal/geneigten integrierten Probentisch, der einen schnellen und einfachen Wechsel zwischen den Messmodi ermöglicht, um Messungen sowohl an texturierten als auch an nicht texturierten Proben durchzuführen.
II. Produktmerkmale
1.Doppelrotor-Kompensatorkonfiguration
2.Schneller Wechsel in den Messmodus (Ein-Klick-Schalter)
III. Produktanwendungen
Das einzigartige Design von SE-PV kann die Messanforderungen für dünne Filme auf Samtsubstraten erfüllen. Wie im Beispiel in der Abbildung unten gezeigt, zielt das Design der Samtoberfläche und ihrer Antireflexionsschicht darauf ab, die Reflexion des Sonnenlichts auf der Oberfläche des Batterieblatts zu reduzieren, was das Erkennungssignal schwächer macht und die Schwierigkeit der optischen Messung erheblich erhöht.
Photovoltaik-spezifisches Spektralellipsometer, Filmdickentester, Prüfmaschine für optische Konstanten von Photovoltaikzellen
Technische Spezifikation
|
Modell |
SE-PV |
|
Anwendungspositionierung |
Allgemeiner Typ |
|
Grundfunktionen |
Psi/Delta, N/C/S, R/T und andere Spektren |
|
Analytisches Spektrum |
380–1000 nm (unterstützte Erweiterung auf 193–1650 nm) |
|
Einzelne Messzeit |
S15s |
|
Genauigkeit der Wiederholbarkeitsmessung |
0,01 nm |
|
Spotgröße |
Großer Spot 2–4 mm, Mikrospot 200 µm/100 µm |
|
Wiederholgenauigkeit des Brechungsindex |
0,0005
|
|
Einfallswinkelbereich |
45-90° (5° Schritt) |
|
Methode zur Einstellung des Einfallswinkels |
Manuell variabler Winkel |
|
Fokusmethode |
Manueller Fokus |
|
Kartierungsstrich |
Nicht unterstützt |
|
Unterstützte Stichprobengröße |
Bis zu 180 mm |
![]()
![]()
![]()
![]()
![]()
Ansprechpartner: Kaitlyn Wang
Telefon: 19376687282
Faxen: 86-769-83078748