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Photovoltaik-spezifisches Spektral-Ellipsometer-Filmdicke-Tester Photovoltaikzelle Optikkonstanten-Prüfmaschine Labor T

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CHINA DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD zertifizierungen
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Photovoltaik-spezifisches Spektral-Ellipsometer-Filmdicke-Tester Photovoltaikzelle Optikkonstanten-Prüfmaschine Labor T

Photovoltaic-specific Spectral Ellipsometer Film Thickness Tester Photovoltaic Cell Optical Constants Test Machine Lab T
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Produktdetails:
Herkunftsort: Guangdong, China
Markenname: LONROY
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: 1

Photovoltaik-spezifisches Spektral-Ellipsometer-Filmdicke-Tester Photovoltaikzelle Optikkonstanten-Prüfmaschine Labor T

Beschreibung
Typ: Testmaschine Genauigkeitsklasse: Hohe Genauigkeit
Genauigkeit: / Anwendung: Autotests
Maßgeschneiderte Unterstützung: OEM, ODM, OBM Leistung: -
Schutzklasse: IP56 Stromspannung: 220 V
Garantie: 1 Jahr Einzelmesszeit: S15s
Genauigkeit der Wiederholbarkeitsmessung: 0.01Nm Spotgröße: Großer Spot 2–4 mm, Mikrospot 200 µm/100 µm
Wiederholgenauigkeit des Brechungsindex: 0,0005
Hervorheben:

Photovoltaik-Ellipsometer-Filmdickenheitsprüfer

,

Labortestmaschine für Photovoltaikzellen

,

Optische Konstantenprüfer für Solarzellen

Photovoltaik-spezifisches Spektralellipsometer, Filmdickentester, Photovoltaikzelle, optische Konstanten, Testmaschine, Labor T

Photovoltaik-spezifisches Spektralellipsometer, Filmdickentester, Prüfmaschine für optische Konstanten von Photovoltaikzellen

 

 

I. Übersicht

Die SE-PV-Serie ist ein photovoltaikspezifisches Spektralellipsometer, das von entwickelt wurdeLonroy. Basierend auf der Modulationstechnologie rotierender Kompensatoren können gleichzeitig Polarisationssignale wie Psi/Delta, N/C/S erhalten werden. Dieses Instrument kann die Filmdicke und optischen Konstanten sowohl von strukturierten als auch von nicht-texturierten Proben in der Photovoltaikindustrie schnell charakterisieren. Der SE-PV nutzt eine Hochleistungslichtquelle und verfügt über ein völlig neues optisches Pfaddesign, das das Signal-Rausch-Verhältnis der erkannten Signale deutlich verbessert. Es verfügt über einen horizontal/geneigten integrierten Probentisch, der einen schnellen und einfachen Wechsel zwischen den Messmodi ermöglicht, um Messungen sowohl an texturierten als auch an nicht texturierten Proben durchzuführen.

 

II. Produktmerkmale

1.Doppelrotor-Kompensatorkonfiguration

2.Schneller Wechsel in den Messmodus (Ein-Klick-Schalter)

 

III. Produktanwendungen

Das einzigartige Design von SE-PV kann die Messanforderungen für dünne Filme auf Samtsubstraten erfüllen. Wie im Beispiel in der Abbildung unten gezeigt, zielt das Design der Samtoberfläche und ihrer Antireflexionsschicht darauf ab, die Reflexion des Sonnenlichts auf der Oberfläche des Batterieblatts zu reduzieren, was das Erkennungssignal schwächer macht und die Schwierigkeit der optischen Messung erheblich erhöht.

  

 

 

Photovoltaik-spezifisches Spektralellipsometer, Filmdickentester, Prüfmaschine für optische Konstanten von Photovoltaikzellen

 

Technische Spezifikation

 

Modell

SE-PV

Anwendungspositionierung

Allgemeiner Typ

Grundfunktionen

Psi/Delta, N/C/S, R/T und andere Spektren

Analytisches Spektrum

380–1000 nm (unterstützte Erweiterung auf 193–1650 nm)

Einzelne Messzeit

S15s

Genauigkeit der Wiederholbarkeitsmessung

0,01 nm

Spotgröße

Großer Spot 2–4 mm, Mikrospot 200 µm/100 µm

Wiederholgenauigkeit des Brechungsindex

0,0005

 

Einfallswinkelbereich

45-90° (5° Schritt)

Methode zur Einstellung des Einfallswinkels

Manuell variabler Winkel

Fokusmethode

Manueller Fokus

Kartierungsstrich

Nicht unterstützt

Unterstützte Stichprobengröße

Bis zu 180 mm

 

 

 

 

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Kontaktdaten
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Ansprechpartner: Kaitlyn Wang

Telefon: 19376687282

Faxen: 86-769-83078748

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