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Photovoltaik-spezifischer Spektral-Ellipsometer-Film-Dicken-Tester Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Testmaschine

Bescheinigung
CHINA DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD zertifizierungen
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Photovoltaik-spezifischer Spektral-Ellipsometer-Film-Dicken-Tester Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Testmaschine

Photovoltaic-specific Spectral Ellipsometer Film Thickness Tester Photovoltaic Cell Optical Constants Test Machine
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Großes Bild :  Photovoltaik-spezifischer Spektral-Ellipsometer-Film-Dicken-Tester Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Testmaschine

Produktdetails:
Herkunftsort: Guangdong, China
Markenname: LONROY
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: 1

Photovoltaik-spezifischer Spektral-Ellipsometer-Film-Dicken-Tester Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Testmaschine

Beschreibung
Typ: Testmaschine Genauigkeitsklasse: Hohe Genauigkeit
Genauigkeit: / Anwendung: Autotests
Maßgeschneiderte Unterstützung: OEM, ODM, OBM Leistung: -
Schutzklasse: IP56 Stromspannung: 220 V
Garantie: 1 Jahr Einzelmesszeit: S15s
Genauigkeit der Wiederholbarkeitsmessung: 0.01Nm Spotgröße: Großer Spot 2–4 mm, Mikrospot 200 µm/100 µm
Wiederholgenauigkeit des Brechungsindex: 0,0005
Hervorheben:

Photovoltaik-Spektral-Ellipsometer-Film-Tester

,

Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Maschine

,

Labortestmaschine mit Garantie

Photovoltaik-spezifischer Spektral-Ellipsometer-Filmdickenprüfer Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Testmaschine

 

 

I. Überblick

Die SE-PV-Serie ist ein photovoltaikspezifischer Spektral-Ellipsometer, der von Lonroy entwickelt wurde. Basierend auf der Modulationstechnologie rotierender Kompensatoren kann es gleichzeitig Polarisationssignale wie Psi/Delta, N/C/S erhalten. Dieses Instrument kann schnell die Filmdicke und die optischen Konstanten sowohl texturierter als auch nicht-texturierter Proben in der Photovoltaikindustrie charakterisieren. Das SE-PV verwendet eine Hochleistungslichtquelle und verfügt über ein brandneues optisches Pfad-Design, das das Signal-Rausch-Verhältnis der detektierten Signale deutlich verbessert. Es verwendet einen horizontalen/geneigten integrierten Probentisch, der ein schnelles und einfaches Umschalten zwischen den Messmodi ermöglicht, um Messungen an texturierten und nicht-texturierten Proben durchzuführen.

 

II. Produktmerkmale

1. Doppelrotor-Kompensatorkonfiguration

2. Schnelles Umschalten in den Messmodus (One-Click-Switch)

 

III. Produktanwendungen

Das einzigartige Design des SE-PV kann die Messanforderungen für Dünnschichten auf Samtsubstraten erfüllen. Wie in der Probe in der Abbildung unten gezeigt, zielt das Design der Samtoberfläche und ihrer Antireflexionsbeschichtung darauf ab, die Reflexion des Sonnenlichts auf der Oberfläche der Batteriezelle zu reduzieren, was das Detektionssignal schwächer macht und die Schwierigkeit der optischen Messung erheblich erhöht.

  

 

 

Photovoltaik-spezifischer Spektral-Ellipsometer-Filmdickenprüfer Photovoltaikzellen-Optische-Konstanten-Testmaschine

 

Technische Spezifikation

 

Modell

SE-PV

Anwendungspositionierung

Allgemeiner Typ

Grundfunktionen

Psi/Delta, N/C/S, R/T und andere Spektren

Analytisches Spektrum

380-1000nm (Unterstützung der Erweiterung auf 193-1650nm)

Einzelmesszeit

≤15s

Wiederholbarkeitsmessgenauigkeit

0,01 nm

Spotgröße

Großer Spot 2-4 mm, Mikro-Spot 200 um/100 um

Brechungsindex-Wiederholgenauigkeit

0,0005

 

Einfallswinkelbereich

45-90° (5°-Schritt)

Einfallswinkel-Einstellmethode

Manuelle Winkelverstellung

Fokusmethode

Manuelle Fokussierung

Mapping-Hub

Nicht unterstützt

Unterstützte Probengröße

Bis zu 180 mm

 

 

 

 

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Kontaktdaten
DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD

Ansprechpartner: Kaitlyn Wang

Telefon: 19376687282

Faxen: 86-769-83078748

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