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Datos del producto:
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| Tipo: | Máquina de prueba | Clase de precisión: | Alta precisión |
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| Exactitud: | / | Solicitud: | Pruebas automáticas |
| Soporte personalizado: | OEM, ODM, OBM | Fuerza: | - |
| Clase de protección: | IP56 | Voltaje: | 220 V |
| Garantía: | 1 año | Tiempo de medición única: | S15 |
| Precisión de medición de repetibilidad: | 0.01Nm | Tamaño de la mancha: | Punto grande de 2 a 4 mm, micropunto de 200 um/100 um |
| Precisión de repetibilidad del índice de refracción: | 0.0005 | ||
| Resaltar: | Tester de película fotovoltaica con ellipsómetro espectral,máquina de constantes ópticas de células fotovoltaicas,máquina de ensayo de laboratorio con garantía |
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Probador de espesor de película con elipsómetro espectral específico para fotovoltaica, máquina de prueba de constantes ópticas de células fotovoltaicas
I. Descripción general
La serie SE-PV es un elipsómetro espectral específico para fotovoltaica desarrollado por Lonroy. Basado en la tecnología de modulación de compensadores rotatorios, puede obtener simultáneamente señales de polarización como Psi/Delta, N/C/S. Este instrumento puede caracterizar rápidamente el espesor de la película y las constantes ópticas de muestras texturizadas y no texturizadas en la industria fotovoltaica. El SE-PV utiliza una fuente de luz de alta potencia y presenta un diseño de trayectoria óptica completamente nuevo, lo que mejora significativamente la relación señal-ruido de las señales detectadas. Adopta una plataforma de muestra integrada horizontal/inclinada, lo que permite una conmutación rápida y fácil entre los modos de medición para completar las mediciones en muestras texturizadas y no texturizadas.
II. Características del producto
1. Configuración de compensador de rotor dual
2. Cambio rápido al modo de medición (cambio con un solo clic)
III. Aplicaciones del producto
El diseño único del SE-PV puede satisfacer los requisitos de medición de películas delgadas en sustratos aterciopelados. Como se muestra en la muestra de la figura a continuación, el diseño de la superficie aterciopelada y su capa antirreflectante tiene como objetivo reducir la reflexión de la luz solar en la superficie de la lámina de la batería, lo que debilita la señal de detección y aumenta significativamente la dificultad de la medición óptica.
Probador de espesor de película con elipsómetro espectral específico para fotovoltaica, máquina de prueba de constantes ópticas de células fotovoltaicas
Especificaciones técnicas
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Modelo |
SE-PV |
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Posicionamiento de la aplicación |
Tipo general |
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Funciones básicas |
Psi/Delta, N/C/S, R/T y otros espectros |
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Espectro analítico |
380-1000nm (soporte de expansión a 193-1650nm) |
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Tiempo de medición único |
≤15s |
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Precisión de medición de repetibilidad |
0.01nm |
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Tamaño del punto |
Punto grande 2-4 mm, micro punto 200um/100um |
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Precisión de repetibilidad del índice de refracción |
0.0005
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Rango de ángulo de incidencia |
45-90° (paso de 5°) |
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Método de ajuste del ángulo de incidencia |
Ángulo variable manual |
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Método de enfoque |
Enfoque manual |
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Recorrido de mapeo |
No soportado |
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Tamaño de muestra soportado |
Hasta 180 mm |
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Persona de Contacto: Kaitlyn Wang
Teléfono: 19376687282
Fax: 86-769-83078748