| 유형: | 테스트 머신 | 정확도 등급: | 높은 정확도 |
|---|---|---|---|
| 정확성: | / | 애플리케이션: | 자동 테스트 |
| 맞춤형 지원: | OEM, ODM, OBM | 힘: | - |
| 보호 등급: | IP56 | 전압: | 220 v |
| 보증: | 1년 | 단일 측정 시간: | S15 |
| 반복성 측정 정확도: | 0.01Nm | 스팟 크기: | 큰 스폿 2-4mm, 마이크로 스폿 200um/100um |
| 굴절률 반복성 정확도: | 0.0005 | ||
| 강조하다: | 광전기 스펙트럼 엘립소미터 필름 테스트기,광전지전지전지전지전기,보증이 있는 실험실 시험기 |
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태양 전지 특유의 스펙트럼 엘립소미터 필름 두께 검사기 태양 전지 셀 광적 상수 시험 기계
I. 개요
SE-PV 시리즈는론로이회전 보상기의 변조 기술을 기반으로, 그것은 동시에 Psi / 델타, N / C / S와 같은 편광 신호를 얻을 수 있습니다.이 장비는 광전기 산업에서 텍스처와 텍스처가 없는 샘플의 필름 두께와 광적 상수를 빠르게 특징 지을 수 있습니다.SE-PV는 고전력 광원을 사용하며 새로운 광 경로 디자인을 갖추고 있으며, 이는 감지 된 신호의 신호-소음 비율을 크게 향상시킵니다.그것은 수평 / 기울기 통합 샘플 단계를 채택, 질감 및 질감 없는 샘플 모두에 대한 측정을 완료하기 위해 측정 모드 사이에서 빠르고 쉽게 전환 할 수 있습니다.
II. 제품 특성
1.듀얼 로터 보상 장치 구성
2.측정 모드로 빠르게 전환 (하나 클릭)
III. 제품 사용
SE-PV의 독특한 설계는 벨벳 기판의 얇은 필름에 대한 측정 요구 사항을 충족시킬 수 있습니다. 아래 그림의 표본에서 나타낸 바와 같이,벨벳 표면과 반사 방지 코팅 레이어의 설계는 배터리 플래크 표면에 태양 광의 반사를 줄이는 것을 목표로합니다., 이는 감지 신호를 약화시키고 광학적 측정의 어려움을 크게 증가시킵니다.
태양 전지 특유의 스펙트럼 엘립소미터 필름 두께 검사기 태양 전지 셀 광적 상수 시험 기계
기술 사양
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모델 |
SE-PV |
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애플리케이션 위치 |
일반형 |
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기본 기능 |
Psi/Delta, N/C/S, R/T 및 다른 스펙트럼 |
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분석 스펙트럼 |
380-1000nm (193-1650nm까지 지원 확장) |
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단일 측정 시간 |
S15s |
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반복성 측정 정확성 |
00.01nm |
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스팟 크기 |
큰 점 2-4mm, 마이크로 점 200um/100um |
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굴절 지수 반복 정확성 |
0.0005
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사고 각 범위 |
45-90° (5° 단계) |
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사고각 조정 방법 |
수동 변수 각 |
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초점 방법 |
수동 초점 |
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매핑 스트로크 |
지원되지 않습니다 |
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지원된 표본 크기 |
최대 180mm |
담당자: Kaitlyn Wang
전화 번호: 19376687282
팩스: 86-769-83078748
Korean
