Mapeo Ellipsómetro Espectroscópico Ellipsómetro Espectroscópico Ellipsómetro Máquina Precio de fábrica

Precio de fábrica de la máquina de elipsometría espectroscópica de mapeo, elipsómetro espectral, elipsometría espectroscópica

I. Descripción general

El elipsómetro espectral de mapeo ME-Mapping es un espectrómetro de medición de mapeo personalizable con capacidad de mapeo. Está equipado con un módulo de medición de mapeo automático y puede lograr rápidamente la caracterización y el análisis de medición de mapeo autodefinidos del espesor de la película y los parámetros ópticos a través de la medición de los parámetros elipsométricos y las tasas de transmisión/reflexión.

1. Solución completa para el mapeo y la medición de elipsometría de todo el sustrato;

2. Admite el diseño de productos y la personalización de módulos funcionales, con dibujo de medición con un solo clic;

3. Configure el módulo de mapeo, lo que permite la capacidad de medición de posicionamiento multipunto personalizado de todo el sustrato;

4. La abundante base de datos y la biblioteca de modelos de estructura geométrica garantizan una poderosa capacidad de análisis de datos.

II. Características del producto

1.Se adopta una fuente de luz compuesta que consta de lámparas de deuterio y lámparas halógenas, con un rango espectral que cubre desde el ultravioleta hasta el infrarrojo cercano (193 - 2500 nm).

2.La modulación del compensador de rotación de alta precisión y la configuración PCRSA permiten la adquisición de alta velocidad de datos espectrales Psi/Delta.

3.Tiene la capacidad de personalizar completamente la medición de posicionamiento automático multipunto para todo el sustrato y proporciona informes completos de detección y análisis del espesor de la película;

4.Hay disponibles cientos de bases de datos de materiales y múltiples bibliotecas de modelos de algoritmos, que cubren la gran mayoría de los materiales fotovoltaicos actuales.

III. Aplicaciones del producto 

ME-Mapping se utiliza ampliamente en aplicaciones industriales como OLED, LED, fotovoltaica y circuitos integrados, lo que permite la medición y caracterización rápidas del espesor de la película del sustrato de gran área, las constantes ópticas y la distribución del espesor de la película.

Precio de fábrica de la máquina de elipsometría espectroscópica de mapeo, elipsómetro espectral, elipsometría espectroscópica

Especificación técnica