Mapeamento de Elipsômetro Espectroscópico Elipsômetro Espectral Preço de Fábrica da Máquina de Elipsometria Espectroscópica

Mapeamento de Elipsômetro Espectroscópico Elipsômetro Espectral Preço de Fábrica da Máquina de Elipsometria Espectroscópica

I. Visão Geral

O Elipsômetro Espectral de Mapeamento ME é um espectrômetro de medição de Mapeamento personalizável, capaz de mapeamento. Ele é equipado com um módulo de medição de Mapeamento automático e pode alcançar rapidamente a caracterização e análise de medição de mapeamento autodefinidas da espessura do filme e parâmetros ópticos através da medição de parâmetros elipsométricos e taxas de transmissão/reflexão.

1. Solução completa para mapeamento e medição de elipsometria de todo o substrato;

2. Suporta design de produto e personalização de módulos funcionais, com desenho de medição com um clique;

3. Configure o módulo de Mapeamento, permitindo a capacidade de medição de posicionamento multiponto personalizado de todo o substrato;

4. O banco de dados abundante e a biblioteca de modelos de estrutura geométrica garantem uma poderosa capacidade de análise de dados.

II. Características do Produto

1.Uma fonte de luz composta, consistindo em lâmpadas de deutério e lâmpadas halógenas, é adotada, com a faixa espectral cobrindo do ultravioleta ao infravermelho próximo (193 - 2500 nm).

2.A modulação do compensador de rotação de alta precisão e a configuração PCRSA permitem a aquisição de alta velocidade de dados espectrais Psi/Delta.

3.Possui a capacidade de personalizar totalmente a medição de posicionamento automático multiponto para todo o substrato e fornece relatórios abrangentes de detecção e análise da espessura do filme;

4.Centenas de bancos de dados de materiais e múltiplas bibliotecas de modelos de algoritmos estão disponíveis, cobrindo a grande maioria dos materiais fotovoltaicos atuais.

III. Aplicações do Produto 

O ME-Mapping é amplamente utilizado em aplicações industriais como OLED, LED, fotovoltaica e circuitos integrados, permitindo a medição e caracterização rápidas da espessura do filme do substrato de grande área, constantes ópticas e distribuição da espessura do filme.

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Especificação Técnica