El difractómetro AL-Y500 es el último modelo de difractómetro bidimensional de rayos X de banco.que difiere de los difractómetros de tipo de escaneo tradicionalesEl detector de semiconductores de conteo de fotones tipo matriz de rayos X permite modos de compatibilidad de 0D, 1D y 2D para puntos, líneas y superficies.

Se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de muestras policristalinas, incluido el análisis cuantitativo sin muestras de referencia, la determinación de la cristalinidad,análisis de la estructura cristalina, análisis de la estructura del material, medición del tamaño del grano, refinamiento de la estructura, análisis de microáreas, análisis de estrés de película delgada y textura, etc.Es aplicable a diversos campos e industrias como los minerales., productos farmacéuticos, productos químicos, metales y aleaciones, materiales de construcción, nanomateriales, baterías, muestras de alimentos, muestras biológicas, etc.

Características:

1.El detector realiza fotografía fija, que es diferente del instrumento de difracción de tipo de escaneo tradicional.aproximadamente 5-30 veces más rápido que el modo de escaneoEs adecuado para el análisis in situ, y la información de difracción desde todos los ángulos puede ser recogida simultáneamente.reducción efectiva del fondo de fluorescencia.

2.El instrumento de medición de ángulos θs y θd adopta servo motor drive y tecnología de control de codificación óptica.La rotación del instrumento de medición del ángulo es más estable, la medición del ángulo de difracción es más precisa y la linealidad es mejor. Cuando la muestra gira a lo largo del eje θ, la precisión de control es de 0.01° y la precisión del ángulo del eje 2θ es de ±0.02 °.

3.Los componentes del detector están compuestos por múltiples unidades de detección, que se distribuyen uniformemente y fijamente a lo largo del círculo de difracción y proporcionan una cobertura perfecta para todos los ángulos.detectores de matriz planar de doble capa de 21 placas (o de una sola capa de 10 placas) que cubren el rango de 2θSe consigue la obtención de imágenes 2D, recopilando simultáneamente información del ángulo γ, datos bidimensionales de difracción, y la información es más abundante.

4.Detector de semiconductores de conteo fotónico plano de rayos X, de alta sensibilidad, capaz de contar un solo fotón, amplio rango dinámico, dos umbrales; fuentes de luz puntuales y lineales intercambiables,Combinando las geometrías ópticas de Debye-Scherrer y BB, compatible con muestras planas y cilíndricas, compatible con los detectores 2D, 1D y OD. Además, tiene una fuerte resistencia a la radiación y una larga vida útil.

5.El dispositivo de protección contra la radiación de dispersión es más seguro y fiable.garantizar que los operadores no estén expuestos a la radiación de dispersión bajo ninguna circunstancia.

6.Su tamaño compacto permite su instalación en un banco de ensayos, sin necesidad de un entorno de laboratorio específico, y su fácil uso, operación y mantenimiento.

Parámetro técnico