O difratômetro AL-Y500 é o modelo mais recente de difratômetro bidimensional de raios X de bancada. Ele adota o método de detecção de câmera fixa, que é diferente dos difratômetros tradicionais do tipo varredura. O detector semicondutor de contagem de fótons do tipo matriz de raios X permite modos de compatibilidade de 0D, 1D e 2D para pontos, linhas e superfícies.

É usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de amostras policristalinas, incluindo análise quantitativa sem amostras de referência, determinação de cristalinidade, análise de estrutura cristalina, análise de estrutura de material, medição de tamanho de grão, refinamento de estrutura, análise de microárea, filme fino e análise de tensão de textura, etc. É aplicável a vários campos e indústrias, como minerais, produtos farmacêuticos, produtos químicos, metais e ligas, materiais de construção, nanomateriais, baterias, amostras de alimentos, amostras biológicas, etc.

Características:

1.O detector realiza fotografia fixa, diferente do instrumento tradicional de difração do tipo varredura. O modo de fotografia é altamente eficiente e rápido, aproximadamente 5 a 30 vezes mais rápido que o modo de digitalização. É adequado para análise in-situ e as informações de difração de todos os ângulos podem ser coletadas simultaneamente. Possui alta resolução energética, reduzindo efetivamente o fundo de fluorescência.

2.Os braços θs e θd do instrumento de medição de ângulo adotam acionamento por servo motor e tecnologia de controle de codificação óptica. O detector pode realizar movimento de posição dupla ao longo do eixo 2θ. A rotação do instrumento de medição de ângulo é mais estável, a medição do ângulo de difração é mais precisa e a linearidade é melhor. Quando a amostra gira ao longo do eixo θ, a precisão do controle é de 0,01° e a precisão do ângulo do eixo 2θ é de ±0,02°.

3.Os componentes do detector são compostos por múltiplas unidades de detectores, que são distribuídas de maneira uniforme e fixa ao longo do círculo de difração e fornecem cobertura contínua para todos os ângulos; detectores de matriz planar de camada dupla com 21 placas (ou camada única com 10 placas) cobrem a faixa 2θ: -3° a 150°. A imagem 2D é obtida, coletando simultaneamente informações do ângulo γ, dados de difração bidimensionais, e as informações são mais abundantes.

4.Detector semicondutor de contagem fotônica planar de raios X, com alta sensibilidade, capaz de contagem de fótons únicos, grande faixa dinâmica, limiares duplos; fontes de luz pontuais e lineares intercambiáveis, combinando geometrias ópticas Debye-Scherrer e BB, compatíveis com amostras planas e cilíndricas, compatíveis com os modos 2D, 1D e OD do detector. Além disso, possui forte resistência à radiação e longa vida útil.

5.O dispositivo de proteção contra radiação por dispersão é mais seguro e confiável. Durante a medição da amostra, a porta de proteção contra radiação será travada automaticamente, garantindo que os operadores não serão expostos à radiação espalhada sob nenhuma circunstância.

6.O tamanho compacto permite sua instalação em bancada experimental, sem a necessidade de ambiente laboratorial específico. É simples de usar, operar e manter.

Parâmetro Técnico